[發(fā)明專利]一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)及分析方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210084655.6
• 申請(qǐng)日: 2022-01-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114792041A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戴鑄;吉續(xù)俠;賈盼剛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 戴鑄
• 主分類號(hào): G06F30/20
• 分類號(hào): G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明公開(kāi)了一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)及分析方法，屬于電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)領(lǐng)域，包括產(chǎn)品信息獲取模塊和產(chǎn)品外觀比對(duì)分析模塊，所述產(chǎn)品信息獲取模塊的輸出端與產(chǎn)品外觀比對(duì)分析模塊的輸入端電性連接；本發(fā)明通過(guò)在系統(tǒng)內(nèi)部同時(shí)設(shè)置有外觀分析、測(cè)試分析與非破壞分析，可有效保證該系統(tǒng)對(duì)于產(chǎn)品失效分析的全面性與有效性，通過(guò)在該系統(tǒng)內(nèi)還設(shè)置有數(shù)據(jù)綜合處理模塊，可對(duì)于失效原因進(jìn)行匯總分析，從而給出解決電子產(chǎn)品的失效原因的成本，同時(shí)可根據(jù)失效原因給出一些產(chǎn)品使用建議，從而可有效為電子產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家提供有效的改善生產(chǎn)的理論依據(jù)，同時(shí)可給予用戶有效的避雷建議，從而有效降低電子產(chǎn)品使用時(shí)的失效率，提高了該系統(tǒng)的應(yīng)用效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)及分析方法。

背景技術(shù)

隨著社會(huì)科技的快速發(fā)展，各種各樣的電子結(jié)構(gòu)層出不窮，電子結(jié)構(gòu)的出現(xiàn)大大方便了人們的工作與生活，隨著電子結(jié)構(gòu)的衍生，出現(xiàn)了許多電子產(chǎn)品，日常生活中常見(jiàn)的電子產(chǎn)品有許多，如手表、智能手機(jī)、電話、電視機(jī)等都稱為電子產(chǎn)品，不同的電子產(chǎn)品具有其不同的作用，電子產(chǎn)品在久置或者長(zhǎng)時(shí)間使用時(shí)，有可能出現(xiàn)失效的情況，需要對(duì)于這種情況進(jìn)行有效分析。

中國(guó)專利公開(kāi)了(CN201010137027.7)電子產(chǎn)品失效分析方法，包括如下步驟：從存儲(chǔ)裝置中獲取失效電子產(chǎn)品的失效信息；根據(jù)所獲取的失效信息進(jìn)行失效復(fù)制驗(yàn)證，以驗(yàn)證所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象能否復(fù)制；當(dāng)所獲取的失效信息對(duì)應(yīng)的失效現(xiàn)象不能復(fù)制時(shí)，對(duì)失效電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否屬于不能復(fù)制問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于不能復(fù)制問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品是否未出故障；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于未出故障問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為客戶造成的問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于客戶造成的問(wèn)題時(shí)，判斷所述失效電子產(chǎn)品的失效原因是否為測(cè)試程序問(wèn)題；當(dāng)所述失效電子產(chǎn)品不屬于測(cè)試程序問(wèn)題時(shí)，該電子產(chǎn)品失效分析方法，規(guī)范了電子產(chǎn)品的失效分析步驟，使得電子產(chǎn)品的失效分析有了統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，提高了失效分析的工作效率，對(duì)電子產(chǎn)品的質(zhì)量有了更大的保證，但該方法并未在內(nèi)部設(shè)置有一些數(shù)據(jù)匯總處理模塊，無(wú)法對(duì)于分析后的結(jié)果進(jìn)行處理，從而無(wú)法給予生產(chǎn)廠家一些生產(chǎn)建議同時(shí)無(wú)法給予用于一些避雷意見(jiàn)，實(shí)質(zhì)上無(wú)法降低電子產(chǎn)品失效率，需要進(jìn)行一定改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于：為了解決傳統(tǒng)的電子產(chǎn)品失效分析方法并未在內(nèi)部設(shè)置有一些數(shù)據(jù)匯總處理模塊，無(wú)法對(duì)于分析后的結(jié)果進(jìn)行處理，從而無(wú)法給予生產(chǎn)廠家一些生產(chǎn)建議同時(shí)無(wú)法給予用于一些避雷意見(jiàn)，實(shí)質(zhì)上無(wú)法降低電子產(chǎn)品失效率，分析方法應(yīng)用效果不佳的問(wèn)題，而提出的一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案：一種電子產(chǎn)品失效分析系統(tǒng)，包括產(chǎn)品信息獲取模塊和產(chǎn)品外觀比對(duì)分析模塊，所述產(chǎn)品信息獲取模塊的輸出端與產(chǎn)品外觀比對(duì)分析模塊的輸入端電性連接，所述產(chǎn)品外觀比對(duì)分析模塊的輸出端與電測(cè)分析模塊的輸入端電性連接，所述電測(cè)分析模塊的輸出端與應(yīng)力測(cè)試分析模塊的輸入端電性連接，所述應(yīng)力測(cè)試分析模塊的輸出端與故障模擬分析模塊的輸入端電性連接，所述故障模擬分析模塊的輸出端與模擬應(yīng)用分析模塊的輸入端電性連接，所述模擬應(yīng)用分析模塊的輸出端與非破壞性分析模塊的輸入端電性連接，所述電測(cè)分析模塊、應(yīng)力測(cè)試分析模塊、故障模擬分析模塊、模擬應(yīng)用分析模塊及非破壞性分析模塊的輸出端均與數(shù)據(jù)匯總模塊的輸入端電性連接，所述數(shù)據(jù)匯總模塊的輸出端與數(shù)據(jù)綜合處理模塊的輸入端電性連接，所述數(shù)據(jù)綜合處理模塊的輸出端與數(shù)據(jù)反饋模塊的輸入端電性連接，所述數(shù)據(jù)反饋模塊的輸出端與接收終端的輸入端之間通過(guò)5G網(wǎng)絡(luò)連接。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述產(chǎn)品信息獲取模塊包括參數(shù)信息查詢模塊、產(chǎn)品外觀拍照模塊、產(chǎn)品使用時(shí)長(zhǎng)確定模塊與產(chǎn)品維修次數(shù)查詢模塊，所述參數(shù)信息查詢模塊的輸出端與產(chǎn)品外觀拍照模塊的輸入端電性連接。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：