[發明專利]一種TSR型無衰減濾波電容器

在審

• 申請號: 202210084504.0
• 申請日: 2022-01-25
• 公開（公告）號: CN114530328A
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 李海燕
• 申請（專利權）人: 北京鑫北科技有限公司
• 主分類號: H01G4/002
• 分類號: H01G4/002;H01G4/224
• 代理公司: 北京翔石知識產權代理事務所(普通合伙) 11816
• 代理人: 李勇

1.一種TSR型無衰減濾波電容器，其特征在于，包括內熔絲和芯子，每個芯子連接一個內熔絲，m個芯子并聯構成1個芯子組，n個芯子組串聯，構成一個電容陣列；

在每個芯子和它所連接的內熔絲之間設置溫度傳感器，設定電容陣列的額定電容量為S；

在電容陣列工作的過程中，實時檢測電容陣列當前的電容量，若電容量為(m×n-k×m+1)×S，k＝1,2，…，n-1，實時檢測電容陣列中所有芯子的工作狀態，若某1個芯子組中的m-1個芯子工作狀態異常，則處理器控制電容陣列停止工作。

2.根據權利要求1所述的TSR型無衰減濾波電容器，其特征在于，實時檢測電容陣列中所有芯子的工作狀態，包括：

預先設置有標準溫度矩陣T(T1(t11，t12，…，t1m)，T2(t21，t22，…，t2m)，…，Tn(tn1，tn2，…，tnm))，其中T1表示第1個芯子組的標準溫度列表，tnm表示第n個芯子組中第m個芯子的標準溫度，所述標準溫度矩陣T通過在電容陣列初次工作時，檢測并記錄電容陣列內部每個芯子的溫度；

設置溫度閾值△t，通過每個芯子對應的溫度傳感器，實時檢測電容陣列內部每個芯子的溫度并記錄為檢測溫度矩陣C(C1(c11，c12，…，c1m)，C2(c21，c22，…，c2m)，…，Cn(cn1，cn2，…，cnm))，其中C1表示第1個芯子組的檢測溫度列表，cnm表示第n個芯子組中第m個芯子的檢測溫度；

若對于第n個芯子組中的第m個芯子，在電容陣列工作中的任意時刻，其標準溫度與檢測溫度的差值大于溫度閾值，即tnm-cnm＞△t，則判定該芯子工作狀態異常；

若對于第n個芯子組中的第m個芯子，在電容陣列工作中的任意時刻，其標準溫度與檢測溫度的差值小于或等于溫度閾值，即tnm-cnm≤△t，則判定該芯子在該時刻工作狀態正常。

3.根據權利要求2所述的TSR型無衰減濾波電容器，其特征在于，實時檢測電容陣列中所有芯子的工作狀態，還包括：設置時間間隔△T，檢測每個芯子在每個時間間隔△T中的溫度變化量，并根據在每個時間間隔△T中的溫度變化量和時間間隔△T計算出每個芯子在每個時間間隔△T中的溫度變化速率，對于第n個芯子組中的第m個芯子，其溫度變化速率用vnm表示；

設置溫度變化臨界速率v0，對于第n個芯子組中的第m個芯子，在電容陣列工作中，若在任意一個時間間隔△T中，該芯子的溫度變化速率大于溫度變化臨界速率，即vnm＞v0，則判定該芯子工作狀態異常；

對于第n個芯子組中的第m個芯子，在電容陣列工作中，若在任意一個時間間隔△T中，該芯子的溫度變化速率小于或等于溫度變化臨界速率，即vnm≤v0，則判定該芯子在該時間間隔△T中工作狀態正常。

4.根據權利要求3所述的TSR型無衰減濾波電容器，其特征在于，所述處理器預先設置標準溫度矩陣T、當前電容量、溫度閾值△t、檢測溫度矩陣C、時間間隔△T、溫度變化臨界速率v0和每個芯子的溫度變化速率；

在電容陣列初次工作時，通過每個芯子對應的溫度傳感器檢測每個芯子的溫度，并賦值至標準溫度矩陣T；在電容陣列工作的過程中，實時檢測電容陣列當前的電容量并賦值至當前電容量；輸入溫度閾值△t；在電容陣列工作的過程中，通過每個芯子對應的溫度傳感器檢測每個芯子的溫度，并賦值至檢測溫度矩陣C；輸入時間間隔△T；輸入溫度變化臨界速率v0；在電容陣列工作的過程中，通過每個芯子對應的溫度傳感器檢測每個芯子在每個時間間隔△T開始時的溫度ta和結束時的溫度tb，并計算該芯子的溫度變化速率，該芯子的溫度變化速率為(ta-tb)/△T；

在檢測電容陣列中所有芯子的工作狀態時，對于第n個芯子組中的第m個芯子，比較tnm-cnm與△t的大小關系；比較vnm與v0的大小關系；

根據上述比較結果，判定每個芯子在每個時刻或每個時間間隔△T中的工作狀態；

匯總上述判定結果，若某1個芯子組中的m-1個芯子工作狀態異常，則所述處理器發出令電容陣列停止工作的指令。