[發明專利]一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置在審
| 申請號: | 202210082049.0 | 申請日: | 2022-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN114487503A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 程金星;馮煜芳;王慶波;于艾;溫偉偉;吳友朋 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍96901部隊23分隊 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R1/30;G01R1/18;G01R31/52 |
| 代理公司: | 寧波高新區核心力專利代理事務所(普通合伙) 33273 | 代理人: | 蔡菡華 |
| 地址: | 100094 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 量產 測試 fa 電流 連接 裝置 | ||
1.一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,用于連接待測芯片和電流測量裝置,其特征在于包括測試金手指和包裹環繞在所述的測試金手指外的電磁屏蔽體,所述的測試金手指的一端與待測芯片的器件端腳電連接,所述的測試金手指的另一端與電流測量裝置電連接,所述的電磁屏蔽體包括從內到外依次設置的第一絕緣環、屏蔽內環、第二絕緣環、電壓快速穩定屏蔽環、第三絕緣環和接地屏蔽環,所述的電磁屏蔽體上電連接有屏蔽控制電路,所述的屏蔽控制電路使得所述的接地屏蔽環始終處于接地狀態,且測試時,所述的屏蔽控制電路先控制所述的電壓快速穩定屏蔽環的電位與所述的測試金手指的電位相同,再控制所述的屏蔽內環的電位與所述的測試金手指的電位相同,直至測量結束。
2.如權利要求1所述的一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,其特征在于:所述的第一絕緣環、屏蔽內環、第二絕緣環、電壓快速穩定屏蔽環、第三絕緣環和接地屏蔽環均與所述的測試金手指呈同心分布。
3.如權利要求1所述的一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,其特征在于:所述的屏蔽控制電路包括采樣保持電路和與所述的采樣保持電路電連接的屏蔽內環控制電路、穩定屏蔽環控制電路,所述的采樣保持電路用于對屏蔽驅動信號采樣保持,所述的屏蔽內環控制電路與所述的屏蔽內環電連接,用于控制所述的屏蔽內環的電位與所述的測試金手指的電位相同;所述的穩定屏蔽環控制電路與所述的電壓快速穩定屏蔽環電連接,用于控制所述的電壓快速穩定屏蔽環的電位快速穩定在所述的測試金手指的相同電位。
4.如權利要求3所述的一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,其特征在于:所述的采樣保持電路包括第一NMOS管(Q1)、第二NMOS管(Q2)和第五電容(C5),所述的第一NMOS管(Q1)的漏極端與屏蔽驅動信號電連接,所述的第一NMOS管(Q1)的源極端分別與所述的第二NMOS管(Q2)的源極端、所述的第五電容(C5)的第一端、所述的屏蔽內環控制電路以及穩定屏蔽環控制電路電連接,所述的第二NMOS管(Q2)的漏極端和所述的第五電容(C5)的第二端均接地。
5.如權利要求4所述的一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,其特征在于:所述的穩定屏蔽環控制電路包括第一運算放大器(U1)、第一電容(C1)、第二電容(C2)、第三電容(C3)、第一電阻(R1)和第二電阻(R2),所述的第一運算放大器(U1)的同相端與所述的第五電容(C5)的第一端、第一NMOS管(Q1)的源極端以及第二NMOS管(Q2)的源極端電連接,所述的第一運算放大器(U1)的電源正端通過所述的第二電容(C2)接地,所述的第一運算放大器(U1)的電源負端通過所述的第一電容(C1)接地,所述的第一運算放大器(U1)的反相端與所述的第二電阻(R2)的一端電連接,所述的第二電阻(R2)的另一端分別與所述的第一運算放大器(U1)的輸出端以及所述的第一電阻(R1)的一端電連接,所述的第一電阻(R1)的另一端與所述的第三電容(C3)的一端電連接后形成穩定屏蔽環控制輸出端(Vout1),穩定屏蔽環控制輸出端(Vout1)與所述的電壓快速穩定屏蔽環電連接,所述的第三電容(C3)的另一端接地。
6.如權利要求4所述的一種用于量產測試fA級電流的測試連接裝置,其特征在于:所述的屏蔽內環控制電路包括方波信號產生電路和恒壓產生電路,所述的恒壓產生電路分別與所述的方波信號產生電路、所述的采樣保持電路電連接。
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