[發明專利]玻璃質量的檢測方法和裝置、可讀存儲介質和檢測設備在審
| 申請號: | 202210074457.1 | 申請日: | 2022-01-21 |
| 公開(公告)號: | CN116519733A | 公開(公告)日: | 2023-08-01 |
| 發明(設計)人: | 劉建斌 | 申請(專利權)人: | 佛山市順德區美的洗滌電器制造有限公司 |
| 主分類號: | G01N25/00 | 分類號: | G01N25/00;G01N25/20 |
| 代理公司: | 北京友聯知識產權代理事務所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 王丹玉;尚志峰 |
| 地址: | 528311 廣東省佛*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 玻璃 質量 檢測 方法 裝置 可讀 存儲 介質 設備 | ||
1.一種玻璃質量的檢測方法,其特征在于,包括:
在所述玻璃由初始溫度加熱至軟化溫度過程中,獲取所述玻璃中的雜質的溫度變化值和所述雜質的半徑變化值;
根據所述雜質的溫度變化值和所述雜質的半徑變化值,確定所述雜質所在位置預設范圍內的平均應力值;
根據所述平均應力值與所述玻璃的預設強度值,確定所述玻璃的防爆等級。
2.根據權利要求1所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,所述根據所述雜質的溫度變化值和所述雜質的半徑變化值,確定所述雜質所在位置預設范圍內的平均應力值,包括:
根據所述雜質的溫度變化值和所述雜質的半徑變化值,確定所述雜質的本征應變;
根據所述本征應變,確定所述雜質所在位置預設范圍內的平均應力值。
3.根據權利要求2所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述根據所述本征應變,確定所述雜質所在位置預設范圍內的平均應力值,包括:
根據所述本征應變,確定所述雜質所在位置預設范圍內的多個第一應力值;
根據所述多個第一應力值,確定所述玻璃中所述雜質所在位置預設范圍內的平均應力值。
4.根據權利要求2所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述根據所述雜質的溫度變化值和所述雜質的半徑變化值,確定所述雜質的本征應變,包括:
根據所述雜質的溫度變化值,確定第一子本征應變;
根據所述雜質的半徑變化值,確定第二子本征應變;
根據所述第一子本征應變和所述第二子本征應變,確定所述雜質的本征應變;
其中,所述雜質和所述玻璃的膨脹系數不同,引起所述第一子本征應變,所述雜質因體積膨脹引起所述第二子本征應變。
5.根據權利要求3所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述根據所述本征應變,確定所述雜質所在位置預設范圍內的多個第一應力值,包括:
根據所述本征應變,確定所述雜質引起的應力集中的范圍;
根據所述應力集中的范圍,確定所述應力集中的范圍內的多個第二應力值;
確定所述雜質所在位置的預設范圍,篩選處于所述應力集中的范圍內的多個所述第二應力值,以得到所述多個第一應力值;
其中,所述雜質所在位置的預設范圍位于所述應力集中的范圍內。
6.根據權利要求5所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述根據所述本征應變,確定所述玻璃中距離所述雜質預設范圍內的多個應力值之前,還包括:
獲取所述玻璃的剛度矩陣、所述玻璃中任意一點的第一坐標值、所述雜質表面任意一點的第二坐標值;
所述根據所述本征應變,確定所述雜質引起的應力集中的范圍,包括:
根據所述本征應變、所述剛度矩陣、所述第一坐標值和所述第二坐標值,確定所述雜質引起的應力集中的范圍。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述確定所述雜質所在位置的預設范圍,包括:
根據所述玻璃的斷裂強度和所述玻璃的斷裂韌性,確定所述雜質所在位置的預設范圍。
8.根據權利要求1至6中任一項所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述根據所述平均應力值與所述玻璃的預設強度值,確定所述玻璃的防爆等級,包括:
基于所述平均應力值大于所述玻璃的預設強度值,確定所述玻璃的防爆等級大于等于設定等級;
基于所述平均應力值小于所述玻璃的預設強度值,確定所述玻璃的防爆等級小于設定等級。
9.根據權利要求8所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,所述確定所述玻璃的防爆等于小于設定等級之后,還包括:
輸出提示信息。
10.根據權利要求9所述的玻璃質量的檢測方法,其特征在于,
所述提示信息包括:聲音信息和/或燈光信息。
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