[發明專利]一種深紫外半導體發光元件在審
| 申請號: | 202210073012.1 | 申請日: | 2022-01-21 |
| 公開(公告)號: | CN114420812A | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發明(設計)人: | 王程剛 | 申請(專利權)人: | 安徽格恩半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/14 | 分類號: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/32 |
| 代理公司: | 北京文慧專利代理事務所(特殊普通合伙) 11955 | 代理人: | 戴麗偉 |
| 地址: | 237161 安徽省六安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深紫 半導體 發光 元件 | ||
1.一種深紫外半導體發光元件,其特征在于,從下至上依次包括襯底、緩沖層、第一導電型半導體,多量子阱,導電型電子阻擋層和第二導電型半導體,所述導電型電子阻擋層的H濃度為1E17~5E18cm-3,O濃度為1E17~1E18cm-3。
2.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述第一導電型半導體的H濃度為1E17~1E18cm-3,O濃度為5E16~5E17cm-3;第一導電型半導體為AlxGa1-xN材料,Al組分x為40%~100%。
3.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述多量子阱為量子阱層與量子壘層AlaInbGa1-a-bN/AlcIndGa1-c-dN組成的周期性量子結構,量子阱層為AlaInbGa1-a-bN,Al組分a為30~50%,量子壘層的Al組分c為50~100%,量子阱層和量子壘層的In組分b和d均為0~20%,發出的光為深紫外波段光介于200~350nm;多量子阱的H濃度為5E17~1E18cm-3,C濃度為1E16~5E16cm-3,O濃度為5E16~5E17cm-3。
4.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述第二導電型半導體的H濃度為1E18~1E22cm-3,O濃度為1E17~1E21cm-3。
5.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述導電型電子阻擋層為高Al組分AlyGa1-yN材料,Al組分y為55~100%。
6.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述導電型電子阻擋層的Mg摻雜濃度為5E18~5E20cm-3。
7.如權利要求1所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述第二導電型半導體的Mg摻雜濃度為5E19~5E20cm-3。
8.如權利要求5或6所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,所述導電型電子阻擋層H/O含量和比例,能夠有效降低該層的空穴離化能,提升空穴離化效率,提升離化后的自由空穴載流子濃度至1E18cm-3以上;該層H/O與Mg濃度互相搭配,能夠進一步提升空穴離化效率和Mg雜質溶解度。
9.如權利要求2所述的深紫外半導體發光元件,其特征在于,調控所述第一導電型半導體H/O濃度,能夠調控第一導電型半導體的結晶形貌,降低第一導電型半導體與緩沖層間的晶格失配,減少表面裂紋的產生,表面裂紋能夠降低至邊緣1mm以內;同時,提升第一導電型半導體的電子離化效率、降低電子離化能,降低半導體發光元件的接觸電阻和電流的橫向擴展能力,使得局部電流密度高得到改善,降低局部擊穿的發生概率,進而提高抗ESD能力。
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