[發(fā)明專利]一種終端設(shè)備及天線性能測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210072730.7
• 申請日: 2022-01-21
• 公開（公告）號: CN114362848A
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳衛(wèi)
• 申請（專利權(quán)）人: 惠州TCL移動通信有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 劉茂源

本申請公開了一種終端設(shè)備及天線性能測試裝置，涉及天線性能測試領(lǐng)域。該天線性能測試裝置包括：PCB板；設(shè)于PCB板上的射頻模組，用于發(fā)射射頻信號；設(shè)于PCB板上并通過微帶線與射頻模組連接的天線；及檢測端設(shè)于射頻模組的輸出端與天線之間、傳輸端與射頻模組的輸入端連接的功率檢測裝置，功率檢測裝置用于根據(jù)檢測端的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)確定當前測試模式屬于第一測試模式或第二測試模式，以調(diào)節(jié)射頻模組的輸出功率。本申請實施例通過自動識別傳導(dǎo)測試模式和輻射測試模式，進而自動調(diào)整傳導(dǎo)測試模式和輻射測試模式各自所需信號功率，可以增加輻射測試模式所需的信號功率，使輻射側(cè)測試模式不受傳導(dǎo)測試模式的限制。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及天線性能測試領(lǐng)域，具體涉及一種終端設(shè)備及天線性能測試裝置。

背景技術(shù)

移動終端設(shè)備例如手機在投入市場之前往往需要對安裝于手機上的天線性能做嚴格測試，以確保產(chǎn)品的合格性。在進行天線性能測試過程中，信號的傳導(dǎo)測試與輻射測試屬于關(guān)鍵環(huán)節(jié)，能夠在一定程度上判斷移動終端設(shè)備的信號傳輸性能。

但是，現(xiàn)有的性能測試裝置無法區(qū)分當前的測試模式是屬于傳導(dǎo)測試還是輻射測試，并且有傳導(dǎo)測試模式與輻射測試模式下所需的信號功率范圍不同，當為了滿足輻射測試指標需要增加射頻源的輸出功率時，因為影響傳導(dǎo)測試指標，導(dǎo)致無法實現(xiàn)功率增加，從而影響輻射測試模式的測試結(jié)果準確性。即在現(xiàn)有的天線性能測試過程中，難以同時兼顧傳導(dǎo)測試模式與輻射測試模式輻射測試。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例提供一種終端設(shè)備及天線性能測試裝置，通過自動識別傳導(dǎo)測試模式和輻射測試模式，進而自動調(diào)整傳導(dǎo)測試模式和輻射測試模式各自所需信號功率，可以增加輻射測試模式所需的信號功率，使輻射側(cè)測試模式不受傳導(dǎo)測試模式的限制，即能夠同時兼顧傳導(dǎo)測試模式和輻射側(cè)測試模式，并且能夠提升傳導(dǎo)測試模式和輻射測試模式的測試結(jié)果數(shù)據(jù)的準確度。

本申請實施例一方面提供一種天線性能測試裝置，包括：PCB板；設(shè)于所述PCB板上的射頻模組，用于發(fā)射射頻信號；設(shè)于所述PCB板上并通過微帶線與所述射頻模組連接的天線；及檢測端設(shè)于所述射頻模組的輸出端與所述天線之間、傳輸端與所述射頻模組的輸入端連接的功率檢測裝置，所述功率檢測裝置用于根據(jù)所述檢測端的檢測結(jié)果數(shù)據(jù)確定當前測試模式屬于第一測試模式或第二測試模式，以調(diào)節(jié)所述射頻模組的輸出功率。

在一些實施例中，所述天線性能測試裝置還包括：設(shè)于所述射頻模組與所述微帶線之間、用于切換所述第一測試模式與第二測試模式的模式切換裝置。

在一些實施例中，所述模式切換裝置包括串接在所述微帶線上的射頻同軸連接器，所述射頻同軸連接器的內(nèi)部設(shè)有可導(dǎo)通或斷開所述微帶線的開關(guān)，所述開關(guān)的控制端外接測試儀表。

在一些實施例中，所述測試儀表的探針插接于所述射頻同軸連接器的內(nèi)部并與所述開關(guān)的閘刀對應(yīng)設(shè)置，所述閘刀能夠在被所述探針抵接后與所述微帶線斷開連接，并與所述探針導(dǎo)通。

在一些實施例中，所述功率檢測裝置的檢測端設(shè)于所述模式切換裝置的輸出端與所述天線之間。

在一些實施例中所述功率檢測裝置包括：檢測端設(shè)于所述模式切換裝置與所述天線之間的功率檢測器；及設(shè)于所述射頻模組及所述功率檢測器輸出端之間的基帶芯片，所述基帶芯片被配置為根據(jù)所述功率監(jiān)測器的輸出結(jié)果調(diào)整所述射頻模組的輸出功率。

在一些實施例中，所述基帶芯片被配置為當所述輸出結(jié)果為存在功率輸出時，則調(diào)高所述射頻模組的輸出功率；當所述輸出結(jié)果為不存在功率輸出時，則降低所述射頻模組的輸出功率。

在一些實施例中，所述功率監(jiān)測器與所述微帶線耦合連接。

在一些實施例中，所述第一測試模式為傳導(dǎo)測試模式，所述第二測試模式為輻射測試模式。

本申請實施例一方面提供一種移動終端設(shè)備，包括如上所述的天線性能測試裝置。