[發明專利]一種指紋圖像匹配方法、設備、介質及程序產品在審
| 申請號: | 202210067706.4 | 申請日: | 2022-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN114596594A | 公開(公告)日: | 2022-06-07 |
| 發明(設計)人: | 李立強 | 申請(專利權)人: | 北京極豪科技有限公司 |
| 主分類號: | G06V40/13 | 分類號: | G06V40/13;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06V10/75;G06V10/774;G06V10/82 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人: | 王婷婷 |
| 地址: | 100089 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 指紋 圖像 匹配 方法 設備 介質 程序 產品 | ||
1.一種指紋圖像匹配方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待識別指紋圖像,并讀取完整指紋圖像以及所述完整指紋圖像的位置信息,其中,所述待識別指紋圖像的面積小于所述完整指紋圖像的面積;
將所述待識別指紋圖像和所述完整指紋圖像輸入指紋圖像處理模型,得到所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像中的預測位置信息;
根據所述完整指紋圖像的位置信息和所述預測位置信息,確定變換矩陣,所述變換矩陣表征:所述待識別指紋圖像與所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像中對應的圖像之間的平移和/或旋轉關系;
按照所述變換矩陣,對第一原始指紋圖像進行變換,生成變換圖像;
將所述變換圖像與第二原始指紋圖像進行匹配,得到所述待識別指紋圖像和所述完整指紋圖像之間的匹配度;
其中,所述完整指紋圖像和所述待識別指紋圖像中的一者為所述第一原始指紋圖像,另一者為所述第二原始指紋圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,得到所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像中的預測位置信息,包括:
得到所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像所在的坐標系下的四個角點坐標。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在讀取到的所述完整指紋圖像為多個的情況下,讀取所述每個完整指紋圖像的位置信息;
將所述待識別指紋圖像和所述完整指紋圖像輸入指紋圖像處理模型,得到所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像中的預測位置信息,包括:
將所述待識別指紋圖像和每個完整指紋圖像組成的指紋圖像對輸入指紋圖像處理模型,得到所述待識別指紋圖像在所述每個完整指紋圖像中的預測位置信息,以根據所述各預測位置信息以及對應的所述完整指紋圖像的位置信息生成多個變換矩陣,進而得到所述待識別指紋圖像和每個所述完整指紋圖像之間的匹配度。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在讀取到的所述完整指紋圖像為多個的情況下,讀取所述每個完整指紋圖像的位置信息;
將所述待識別指紋圖像和所述完整指紋圖像輸入指紋圖像處理模型,得到所述待識別指紋圖像在所述完整指紋圖像中的預測位置信息,包括:
將所述多個完整指紋圖像中任一完整指紋圖像作為當前完整指紋圖像,執行以下步驟:
將所述當前完整指紋圖像與所述待識別指紋圖像輸入指紋圖像處理模型,得到所述待識別指紋圖像在所述當前完整指紋圖像中的預測位置信息,以根據該預測位置信息和所述當前完整指紋圖像的位置信息生成變換矩陣,進而得到所述待識別指紋圖像和所述當前完整指紋圖像之間的匹配度;
在所述待識別指紋圖像和所述當前完整指紋圖像之間的匹配度低于預設閾值時,將所述多個完整指紋圖像中另一完整指紋圖像作為當前完整指紋圖像,返回將所述當前完整指紋圖像與所述待識別指紋圖像輸入指紋圖像處理模型的步驟,直到遍歷所述多個完整指紋圖像為止,或,直到所述待識別指紋圖像和任一完整指紋圖像之間的匹配度高于所述預設閾值為止。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
獲取完整指紋圖像樣本;
對所述完整指紋圖像樣本進行多種距離的平移和/或多種角度的旋轉;
從平移和/或旋轉后的完整指紋圖像樣本中截取目標尺寸的多個子圖像樣本;
利用所述完整指紋圖像樣本和攜帶位置標簽的多個子圖像樣本訓練目標模型,得到所述指紋圖像處理模型,其中,所述位置標簽表征子圖像樣本在所述完整指紋圖像樣本中的位置信息。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,利用所述完整指紋圖像樣本和攜帶位置標簽的多個子圖像樣本訓練目標模型,得到所述指紋圖像處理模型,包括:
將所述完整指紋圖像樣本和攜帶位置標簽的多個子圖像樣本輸入目標模型,得到所述多個子圖像樣本各自在所述完整指紋圖像樣本中的預測位置信息;
根據所述多個子圖像樣本各自攜帶的位置標簽和所述多個子圖像樣本各自在所述完整指紋圖像樣本中的預測位置信息之間的差距,確定均方差損失函數值;
以最小化所述差距為目標,基于所述均方差損失函數值,對所述目標模型的模型參數進行隨機梯度更新,以得到所述指紋圖像處理模型。
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