[發(fā)明專利]一種目標檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210064885.6 | 申請日: | 2022-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN114399696A | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宋沉蔓 | 申請(專利權)人: | 中國農業(yè)銀行股份有限公司 |
| 主分類號: | G06V20/20 | 分類號: | G06V20/20;G06V10/80;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 趙迎迎 |
| 地址: | 100005 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 目標 檢測 方法 裝置 存儲 介質 電子設備 | ||
1.一種目標檢測方法,其特征在于,包括:
獲取待檢測圖像;
將所述待檢測圖像輸入到預先訓練的目標檢測模型中,得到所述目標檢測模型輸出的目標檢測圖像,其中,所述目標檢測模型包括特征提取模塊、空間注意模塊和通道注意模塊,所述特征提取模塊中用于提取不同層次的特征信息,所述空間注意模塊用于對所述特征提取模塊提取的第一特征信息進行空間特征加權,所述通道注意模塊用于對所述特征提取模塊提取的第二特征信息進行通道加權,經過空間特征加權后的第一特征信息和通道加權后的第二特征信息通過圖像融合得到目標檢測圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在獲取待檢測圖像之后,所述方法還包括:
確定所述待檢測圖像的先驗檢測圖像;
相應的,所述將所述待檢測圖像輸入到預先訓練的目標檢測模型中,得到所述目標檢測模型輸出的檢測結果,包括:
將所述待檢測圖像和所述先驗檢測圖像輸入到預先訓練的目標檢測模型中,得到所述目標檢測模型輸出的檢測結果。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述空間注意模塊用于對第一特征信息分別進行平均池化處理和最大池化處理,將平均池化處理結果和最大化處理結果拼接后進行卷積處理,將卷積處理結果進行非線性處理,得到空間特征信息,將所述空間特征信息加權到所述第一特征信息上。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述通道注意模塊用于對第二特征信息進行平均池化處理,并將平均池化處理結果依次輸入至兩個全連接層,并經歸一化處理后得到通道權重,基于通道權重對所述第二特征信息中的各通道特征進行加權處理。
5.根據權利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述特征提取模塊包括用于提取淺層特征信息的第一特征提取子模塊和用于提取深層特征信息的第二特征提取子模塊,所述第一特征提取子模塊與所述空間注意模塊連接,所述第二特征提取子模塊與所述通道注意模塊連接。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一特征提取子模塊中包括至少一個卷積塊,每一卷積塊分別輸出第一特征信息;所述第二特征提取子模塊中包括至少一個卷積塊,用于每一卷積塊分別輸出第二特征信息。
7.根據權利6所述的方法,其特征在于,所述目標檢測模型還包括:
第一上采樣模塊,設置在所述第一特征提取子模塊與所述空間注意模塊之間,用于對所述第一特征信息上采樣到第一預設尺寸;
第二上采樣模塊,設置在所述第二特征提取子模塊與所述通道注意模塊之間,用于對所述第二特征信息上采樣至第二預設尺寸。
8.一種目標檢測裝置,其特征在于,包括:
圖像獲取模塊,用于獲取待檢測圖像;
目標檢測模塊,用于將所述待檢測圖像輸入到預先訓練的目標檢測模型中,得到所述目標檢測模型輸出的目標檢測圖像,其中,所述目標檢測模型包括特征提取模塊、空間注意模塊和通道注意模塊,所述特征提取模塊中用于提取不同層次的特征信息,所述空間注意模塊用于對所述特征提取模塊提取的第一特征信息進行空間特征加權,所述通道注意模塊用于對所述特征提取模塊提取的第二特征信息進行通道加權,經過空間特征加權后的第一特征信息和通道加權后的第二特征信息通過圖像融合得到目標檢測圖像。
9.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備包括:
一個或多個處理器;
存儲裝置,用于存儲一個或多個程序,
當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行,使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-7中任一所述的目標檢測方法。
10.一種包含計算機可執(zhí)行指令的存儲介質,所述計算機可執(zhí)行指令在由計算機處理器執(zhí)行時用于執(zhí)行如權利要求1-7中任一所述的目標檢測方法。
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