[發(fā)明專利]電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210062879.7 | 申請日: | 2022-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN114578191A | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 任明;王彬;李琛;李乾宇;李易;董明 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 覃婧嬋 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電抗 絕緣 故障 光學(xué) 定位 裝置 | ||
1.一種電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:其包括,
底座,其設(shè)于電抗器內(nèi)且所述底座中心與所述電抗器的中心軸線共線;
傳動裝置,其垂直地轉(zhuǎn)動連接所述底座以周期性轉(zhuǎn)動;
支承梁,其連接所述傳動裝置以在所述傳動裝置致動下周期性推掃,周期性推掃的推掃周期為工頻周期的整數(shù)倍時間;
多個SiC紫外日盲傳感器探頭,其線型非均勻排布于所述支承梁,所述線型非均勻排布的形式實時采集所述電抗器發(fā)出的紫外信號且轉(zhuǎn)換為電壓信號;
處理單元,其連接所述多個SiC紫外日盲傳感器探頭,響應(yīng)于所述電壓信號,處理單元同步生成紫外光輻照度的幅值并轉(zhuǎn)換為電壓信號輸出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:優(yōu)選的,還包括,
數(shù)據(jù)傳輸模塊,其連接所述處理單元以實時傳輸所述電壓信號輸出;
服務(wù)器,其通信連接所述數(shù)據(jù)傳輸模塊,服務(wù)器基于所述電壓信號輸出生成電抗器絕緣故障信息,所述服務(wù)器包括;
數(shù)據(jù)庫,其存儲故障位置與光強(qiáng)數(shù)據(jù)互相匹配的數(shù)據(jù);
數(shù)據(jù)分析模塊,其連接所述數(shù)據(jù)庫和數(shù)據(jù)傳輸模塊;
所述數(shù)據(jù)分析模塊基于傳感器輸出的電壓信號矩陣、通過KNN算法輸出:電壓信號矩陣與故障信息的空間聚類關(guān)系,且通過KNN算法得到電抗器絕緣故障信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:所述處理單元包括采樣率大于100kHz、放大倍數(shù)大于20dB的采樣單元、用于獲得電壓信號的包絡(luò)峰值的檢波單元和通過比例變換獲取光輻照強(qiáng)度的計算單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:所述底座安置于電抗器的底部或防雨傘下側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:所述多個SiC紫外日盲傳感器探頭為紫外日盲的SiC雪崩二極管APD傳感器陣列。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:SiC雪崩二極管APD傳感器陣列的波段包括200nm-400nm,其響應(yīng)能量下限為1nW/cm2,增益為105-106。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:SiC雪崩二極管APD傳感器陣列對于MHz級別的電暈放電的單脈沖響應(yīng)時間為40ns。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:
SiC紫外日盲傳感器探頭包括預(yù)處理采集的紫外信號預(yù)處理單元、高速模數(shù)采樣單元和將紫外光強(qiáng)信號轉(zhuǎn)換為電壓信號的紫外傳感器,所述信號預(yù)處理單元包括放大器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電抗器絕緣故障光學(xué)推掃定位裝置,其特征在于:SiC紫外日盲傳感器探頭的探測平面的法線與電抗器中軸線平行。
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