[發明專利]濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法在審
| 申請號: | 202210059646.1 | 申請日: | 2022-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN114386307A | 公開(公告)日: | 2022-04-22 |
| 發明(設計)人: | 趙欽;馬彪;于亮;董懿;劉宇鍵;李巖 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G06F30/23 | 分類號: | G06F30/23;G06F30/17 |
| 代理公司: | 深圳市遠航專利商標事務所(普通合伙) 44276 | 代理人: | 田志遠;張朝陽 |
| 地址: | 100081 北京市海淀區中*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 濕式多片 離合器 摩擦 副翹曲 變形 評價 方法 | ||
1.濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,通過將摩擦副的掃描件與理想件進行對比,獲取掃描件的翹曲高度值;利用翹曲高度值獲得摩擦副的翹曲角度和標準差數據,建立摩擦副的翹曲變形等級分類體系;根據該翹曲變形等級分類體系繪制多個翹曲角度的摩擦副作為有限元分析模型。
2.根據權利要求1所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,具體包括以下步驟:
S1、對理想件進行建模,并將多對待試樣品摩擦副進行3D掃描形成掃描件;
S2、選取取樣點,并保存各個取樣點的坐標值;
S3、將掃描件與理想件的模型進行對比,獲取掃描件和理想件在各個取樣點的的表面翹曲高度;
S4、計算得到摩擦副中不同半徑位置的翹曲角度、所有取樣點的翹曲高度標準差;
S5、確定以翹曲角度為主要分類依據、翹曲高度標準差為次要分類依據,建立翹曲變形等級分類體系;
S6、根據翹曲變形等級分類體系繪制多個翹曲角度的摩擦副作為有限元分析模型。
3.根據權利要求2所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在步驟S1中,將成對的摩擦副裝袋并貼標簽備用,3D掃描前對摩擦副進行清潔。
4.根據權利要求2或3所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在對摩擦副進行3D掃描時:先對桌面及置于桌面上的夾具貼附掃描標記貼,再將摩擦副置于夾具上并掃描,最后掃描形成該摩擦副的3D格式文件。
5.根據權利要求2所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在步驟S2中,在摩擦副的實體覆蓋范圍內,沿其不同半徑、不同周向角度均勻選取一定量的取樣點,以摩擦片的厚度方向為Z軸,獲取并保存各個取樣點的坐標值。
6.根據權利要求2所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在步驟S3中,在3D圖像處理軟件中導入理想件和掃描件的3D格式文件,并將掃描件與理想件進行對齊,獲取并導出掃描件和理想件的表面翹曲高度數值。
7.根據權利要求6所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,將掃描件與理想件對齊后,觀察全部取樣點是否同時處于摩擦副的溝槽位置或同時處于摩擦副的凸起位置,若否則以所有取樣點的周向角度為基準,增大或減小半徑值,以獲得更新后的取樣點的坐標值,重復觀察修改后的取樣點位置并進行調整,直至全部取樣點是否同時處于摩擦副的溝槽位置或同時處于摩擦副的凸起位置。
8.根據權利要求2所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在步驟S4中,分別計算不同半徑上多個表面翹曲高度的平均值,建立表面翹曲高度的平均值與對應半徑之間的直線函數,獲取其斜率值,并通過該斜率值的獲得角度顯示的翹曲角度;利用標準差計算函數,計算得到所有取樣點的翹曲高度標準差。
9.根據權利要求8所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在得到摩擦副的翹曲角度、翹曲高度標準差后,引入不同半徑下摩擦副的周向不均勻系數,并將該周向不均勻系數作為研究參考量。
10.根據權利要求2所述的濕式多片離合器摩擦副翹曲變形評價方法,其特征在于,在步驟S5中,確定第一臨界翹曲角度α1、第二臨界翹曲角度α2,并建立以翹曲角度為主要分類依據的分類指標:(0,α1]為輕度翹曲、(α1,α2]為中度翹曲、(α2,+∞)為重度翹曲;
確定第一臨界翹曲高度標準差σ1、第二臨界翹曲高度標準差σ2,并建立以翹曲高度標準差為次要分類依據的分類指標:(0,σ1]為輕度翹曲、(σ1,σ2]為中度翹曲、(σ2,+∞)為重度翹曲。
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