[發明專利]基于一致最優勢檢驗的隱秘信息提取方法有效
| 申請號: | 202210055235.5 | 申請日: | 2022-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN114630006B | 公開(公告)日: | 2023-05-26 |
| 發明(設計)人: | 劉九芬;杜寒松;張祎;羅向陽 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍戰略支援部隊信息工程大學 |
| 主分類號: | H04N1/44 | 分類號: | H04N1/44;H04L9/08 |
| 代理公司: | 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111 | 代理人: | 張立強 |
| 地址: | 450000 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 一致 優勢 檢驗 隱秘 信息 提取 方法 | ||
1.基于一致最優勢檢驗的隱秘信息提取方法,其特征在于,包括:
步驟1:根據載密圖像的像素或者可嵌DCT系數,估計隱秘信息長度m;
步驟2:給定第一類錯誤率α和第二類錯誤率β,計算樣本容量N和門限值T;其中,第一類錯誤率α表示將真隱寫密鑰判定為偽隱寫密鑰的概率,第二類錯誤率β表示將偽隱寫密鑰判定為真隱寫密鑰的概率;步驟2具體包括:
步驟2.1:根據給定的第一類錯誤率α和第二類錯誤率β,計算得到臨界值a,b:
步驟2.2:按照公式(28)計算得到樣本容量N和門限值T:
其中,a,b滿足φ(a)=α,φ(b)=1-β,μ0和σ0分別表示當H0成立時Ri的期望與方差,μ1和σ1分別表示H1成立時Ri的期望與方差;H0和H1表示假設檢驗問題,表示為H0:F=F0,H1:F=F1,F表示樣本的總體分布函數,F0表示真隱寫密鑰的分布函數,F1表示偽隱寫密鑰的分布函數;設由隱寫密鑰提取出的序列為l,從第一字節的第j,j=1,2,…,8比特位開始,每間隔7比特采樣,一共采樣n0比特,得到子序列的第i位為表示利用真隱寫密鑰提取的第j條子序列的第i位的概率密度函數,χ0,χ1≠0.5;表示利用偽隱寫密鑰提取的序列的第i位的概率密度函數,γ0,γ1≈0.5;i=1,2,…,n0;
步驟3:按照公式(29)構造一致最優勢檢驗統計量窮舉校驗矩陣空間中的每個校驗矩陣依次執行統計量計算過程,所述統計量計算過程包括:利用當前時刻枚舉的校驗矩陣從載密圖像中提取出序列,從所述序列的第一個字節的第j個比特開始,每間隔7比特進行采樣,得到長度為N的子序列計算得到統計量的值;
其中,表示序列中0出現的個數,表示序列中1出現的個數
步驟4:判斷Nm是否成立,若成立,則轉到步驟7;反之,則轉到步驟5;
步驟5:判斷每個校驗矩陣對應的是否成立,若成立,則將對應的檢驗矩陣存入密鑰備選集B中;反之,則拋棄對應的校驗矩陣;
步驟6:當判斷完成所有校驗矩陣對應的之后,若|B|=1,則B中的校驗矩陣即為真隱寫密鑰,提取成功;若|B|=0,提取失敗;若|B|1,令校驗矩陣空間為B,轉到步驟7;
步驟7:將使得達到最大值的校驗矩陣存入密鑰備選集D;若|D|=1,則D中的校驗矩陣即為真隱寫密鑰,提取成功;若|D|1,提取失敗。
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