[發明專利]自動圖像分辨率測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202210054469.8
• 申請日: 2022-01-18
• 公開（公告）號: CN114612376A
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 黃茜;古鎣軍;胡志輝
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/187;G06T7/73;G06V10/28;G06V10/762;G06K9/62
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 戴曉琴

本發明公開了一種自動圖像分辨率測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質，所述方法包括：對原圖像進行處理，得到二值圖像；遍歷二值圖像的所有連通域，提取符合條件的連通域保存于集合A；對集合A中的連通域進行聚類，得到雙絲區域連通域集合B；根據集合B中的連通域，確定原圖像的物像比并在原圖像中定位雙絲區域；根據原圖像中定位的雙絲區域，從原圖像中提取雙絲圖像；根據雙絲圖像和物像比，計算雙絲灰度變化曲線，并判斷所提取的雙絲圖像是否正確。本發明實現了自動定位雙絲型像質計區域，并能準確提取雙絲圖像及自動提取絲對在同一橫截面的灰度值，達到一鍵式全自動的圖像清晰度測量，能夠有效降低人工操作誤差，同時提高工作效率。

技術領域

本發明涉及圖像自動測量研究領域，特別涉及一種自動圖像分辨率測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

圖像分辨率在數字射線檢測應用中是一個非常關鍵的技術指標，X射線系統的焦點尺寸和放大倍數帶來的幾何不清晰度和探測器像素尺寸等固有不清晰度對成像后的分辨率產生綜合影響，雙絲像質計是對圖像不清晰度進行測量的工具，通過對雙絲像質計的X射線圖像進行測量，給出系統的圖像分辨率參數。

雙絲像質計由長為15mm的鉑和鎢金屬制成的13對直徑不同的絲對，按其直徑由大到小按固定位置排列，不僅絲對中的兩條絲相互平行，各絲對也相互平行，置于厚度約1mm左右的兩塊硬塑料板之間封裝形成。標準規定，測定不清晰度是確認不能被區分的絲對中最大的絲對直徑，不清晰度值為該絲直徑的2倍。不清晰度值下雙絲型像質計影像的可識別程度使用雙絲型像質計響應曲線的20％調制度作為分限能力的定量判據。

在實際應用中，需要人工在像質計圖像中畫一條和絲對垂直的線，利用該垂線獲取所有絲對在同一橫截面的灰度值，如圖3中像質圖像上絲對的垂線所示。一般計算機在獲取了絲對截面的灰度值后，按國家標準規定的方法進行計算，給出圖像的不清晰度值。但即使有經驗的操作員劃線，手工畫出垂線也不一定保證每次劃線能達到垂直度要求，以及每次劃線能保證相同的垂直度，這使得每次測量均帶有人為誤差，因此，這個測量過程只是一個包含人為誤差的半自動過程。

發明內容

為了解決上述現有技術的不足，本發明提供了一種自動圖像分辨率測量方法、裝置、計算機設備和存儲介質，該方法在圖像中可以自動定位雙絲型像質計區域并確定物像比，實現雙絲圖像提取，并自動提取絲對在同一橫截面的灰度值，達到一鍵式全自動的圖像清晰度測量，能夠有效降低人工操作誤差，同時提高工作效率，降低對操作人員技術水平要求。

本發明的第一個目的在于提供一種自動圖像分辨率測量方法。

本發明的第二個目的在于提供一種自動圖像分辨率測量裝置。

本發明的第三個目的在于提供一種計算機設備。

本發明的第四個目的在于提供一種存儲介質。

本發明的第一個目的可以通過采取如下技術方案達到：

一種自動圖像分辨率測量方法，所述方法包括：

對原圖像進行處理，得到二值圖像；

遍歷所述二值圖像的所有連通域，提取符合條件的連通域保存于集合A；

對所述集合A中的連通域進行聚類，得到雙絲區域連通域集合B；

根據所述雙絲區域連通域集合B中的連通域，確定原圖像的物像比，并在原圖像中定位雙絲區域；

根據原圖像中定位的雙絲區域，從原圖像中提取雙絲圖像；根據所述雙絲圖像和所述物像比，計算雙絲灰度變化曲線，并判斷所提取的雙絲圖像是否正確。