[發(fā)明專利]一種高精度激光納米粒度儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210053043.0
• 申請日: 2022-01-18
• 公開（公告）號: CN114371107A
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉焱;何永強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州博飛克分析技術(shù)服務(wù)有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種高精度激光納米粒度儀，包括計(jì)算機(jī)、第一數(shù)據(jù)采集模塊、第一光電二極管、第一光纖、第一接線端子、安裝板、凸透鏡、樣品室和激光源，安裝板設(shè)置在凸透鏡的一側(cè)，樣品室設(shè)置在凸透鏡的另一側(cè)，激光源隔樣品室與凸透鏡相對設(shè)置，激光源發(fā)出的激光穿過凸透鏡照射在安裝板的中部；第一接線端子設(shè)置在安裝板的端部，第一光纖的一端與第一接線端子連接，另一端與第一光電二極管連接，第一光電二極管與第一數(shù)據(jù)采集模塊電連接，第一數(shù)據(jù)采集模塊與計(jì)算機(jī)電連接；其特征在于，所述高精度激光納米粒度儀還包括步進(jìn)電機(jī)、扇葉和凹透鏡，步進(jìn)電機(jī)設(shè)置在安裝板的端部，扇葉連接在步進(jìn)電機(jī)的輸出軸上，凹透鏡嵌置在扇葉中；步進(jìn)電機(jī)旋轉(zhuǎn)，凹透鏡遮蓋在第一接線端子上或偏離第一接線端子。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度激光納米粒度儀，其特征在于，所述高精度激光納米粒度儀還包括第二數(shù)據(jù)采集模塊、第二光電二極管、第二光纖和第二接線端子；第二接線端子設(shè)置在安裝板的另一端部，與第一接線端子相對設(shè)置，第二光纖的一端與第二接線端子連接，另一端與第二光電二極管連接，第二光電二極管與第二數(shù)據(jù)采集模塊電連接，第二數(shù)據(jù)采集模塊與計(jì)算機(jī)電連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度激光納米粒度儀，其特征在于，所述扇葉為兩片相對設(shè)置的扇葉，所述凸透鏡設(shè)置在其中一片扇葉上，另一片扇葉不透光。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度激光納米粒度儀，其特征在于，所述樣品室的一端連接有排氣管，另一端連接有軟管，軟管上設(shè)置有軟管泵。

5.一種高精度激光納米顆粒度檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

（1）激光以平行于凸透鏡短軸的方向穿過樣品室和凸透鏡；

（2）光檢測器在凸透鏡另一側(cè)檢測穿過凸透鏡的散射光；

（3）在光檢測器與凸透鏡之間設(shè)置凹透鏡；

（4）光檢測器將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘枺斎胗?jì)算機(jī)中；計(jì)算機(jī)將電信號與預(yù)設(shè)模型對比，得出顆粒度的數(shù)值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度激光納米顆粒度檢測方法，其特征在于，所述扇葉為兩個(gè)，所述凹透鏡嵌在其中一個(gè)扇葉中，扇葉由步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動，當(dāng)步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)動時(shí)，凹透鏡遮蓋在光檢測器上或偏離光檢測器。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高精度激光納米顆粒度檢測方法，其特征在于，所述光檢測器為兩個(gè)，分別設(shè)置在安裝板的端部，所述穿過凸透鏡的激光照射在安裝板的中部。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高精度激光納米顆粒度檢測方法，其特征在于，所述光檢測器包括數(shù)據(jù)采集模塊、光電二極管、光纖、接線端子和安裝板，安裝板設(shè)置在凸透鏡的側(cè)面，樣品室設(shè)置在凸透鏡的另一側(cè)，激光源發(fā)出的激光穿過凸透鏡照射在安裝板的中部；接線端子設(shè)置在安裝板的端部，光纖的一端與接線端子連接，另一端與光電二極管連接，光電二極管與數(shù)據(jù)采集模塊電連接，數(shù)據(jù)采集模塊與所述計(jì)算機(jī)電連接；光電二極管與所述凸透鏡之間設(shè)置凹透鏡。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的高精度激光納米顆粒度檢測方法，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)分別計(jì)算兩個(gè)數(shù)據(jù)采集模塊的數(shù)據(jù)，進(jìn)行互相關(guān)計(jì)算，得到樣品室內(nèi)的顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)而通過計(jì)算得到顆粒的粒徑。