[發(fā)明專(zhuān)利]硅片表面平坦度的優(yōu)化方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210052598.3 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114473641A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王慧;周詩(shī);溫玉楠 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 徐州鑫晶半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | B24B1/00 | 分類(lèi)號(hào): | B24B1/00;B24B37/11;B24B37/27;B24B37/34;B24B57/02 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 221000 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硅片 表面 平坦 優(yōu)化 方法 | ||
1.一種硅片表面平坦度的優(yōu)化方法,其特征在于,包括利用拋光液對(duì)硅片進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光處理的過(guò)程,該過(guò)程包括以下三個(gè)階段:
1)粗拋階段:該階段分為五個(gè)步驟進(jìn)行,各步驟拋光時(shí)間、拋光液成分、拋光液成分體積比和拋光液流量設(shè)定如下:
S1拋光時(shí)間為5s-12s,拋光液成分為粗拋液A和堿性化學(xué)劑D,其中,粗拋液A和堿性化學(xué)劑D體積比為1:(22-35),該拋光液流量為0.8-1L/min;
S2拋光時(shí)間為23s-35s,拋光液成分為粗拋液A和堿性化學(xué)劑D,其中,粗拋液A和堿性化學(xué)劑D體積比為1:(22-35),該拋光液流量為0.5-0.7L/min;
S3拋光時(shí)間為58s-73s,拋光液成分為中拋液B和超純水,其中,中拋液和超純水的體積比為1:(6-9),該拋光液流量為0.5-0.7L/min;
S4拋光時(shí)間為23s-42s,拋光液成分為中拋液B和超純水,其中,中拋液B和超純水的體積比為1:(7-12),該拋光液流量為0.5-0.7L/min;
S5拋光時(shí)間為8s-16s,拋光液成分為中拋液B和超純水,其中,中拋液B和超純水的體積比為1:(10-17),該拋光液流量為0.5-0.7L/min;
2)中拋階段:該階段拋光液采用體積比為1:(17-23)的精拋液C和超純水;
3)精拋階段:該階段拋光液采用體積比為1:(20-30)的精拋液C和超純水;
所述粗拋液A由體積比為1:(7-9)的二氧化硅膠體和水組成,其中,二氧化硅膠體粒徑為50nm-70nm;所述中拋液B由體積比為1:(9-11)的二氧化硅膠體和水組成,其中,二氧化硅膠體粒徑為30nm-50nm;所述精拋液C由體積比為1:(11-13)的二氧化硅膠體和水組成,其中,二氧化硅膠體粒徑為30nm-40nm,所述堿性化學(xué)劑D采用純度為1%-5%的KOH溶液。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅片表面平坦度的優(yōu)化方法,其特征在于,拋光過(guò)程中粗拋階段各步驟溫度控制在30℃-40℃。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅片表面平坦度的優(yōu)化方法,其特征在于,所述中拋階段拋光時(shí)間為130s-160s,拋光液的流量為0.5-0.7L/min,拋光過(guò)程中溫度控制在25℃-30℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種硅片表面平坦度的優(yōu)化方法,其特征在于,所述精拋階段拋光時(shí)間為130s-160s,拋光液的流量為0.7-1L/min,拋光過(guò)程中溫度控制在20℃-25℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種優(yōu)化硅片表面平坦度的方法,其特征在于,拋光過(guò)程中所述粗拋階段、中拋階段和精拋階段拋光機(jī)的大盤(pán)和拋光頭轉(zhuǎn)速均控制在30rpm-70rpm。
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