[發(fā)明專利]一種程控雙通道幅相控制器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210050694.4
• 申請日: 2022-01-17
• 公開（公告）號: CN114488890A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李晃;李繼鋒;朱文明;相玉健
• 申請（專利權(quán)）人: 揚州宇安電子科技有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 北京深川專利代理事務(wù)所(普通合伙) 16058
• 代理人: 張彥

本發(fā)明公開了一種程控雙通道幅相控制器，涉及幅相控制器制造技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明包括設(shè)置在三軸模擬旋轉(zhuǎn)臺機構(gòu)上的殼體以及設(shè)置在殼體內(nèi)部的幅相控制器組件，幅相控制器組件，包括第一芯片、第二芯片、微波單元、第一功分器、第二功分器、測幅鑒相模塊、第三功分器、第四功分器以及單片機，殼體一側(cè)設(shè)有I/O接口，殼體內(nèi)部設(shè)有主電路板，若干I/O接口另一端與主電路板連接，微波單元包括設(shè)置在主電路板上的微波電路板以及設(shè)置在微波電路板上的變頻本振、開關(guān)濾波器組、總幅度控制衰減器、第一幅度控制衰減器、第二幅度控制衰減器、第一數(shù)控移向器以及第二數(shù)控移向器。本發(fā)明公為一種程控雙通道幅相控制器，有著價格便宜，測試效率高、精度高的優(yōu)點。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及幅相控制器制造技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種程控雙通道幅相控制器。

背景技術(shù)

導(dǎo)彈導(dǎo)引頭出廠前都需要進行場內(nèi)測試，以此確保制導(dǎo)精度，目前流行的測試方法中，通過比幅度測向和干涉儀測向(比相位)兩種方式確定飛行方向和打擊位置，在導(dǎo)彈導(dǎo)引頭的設(shè)計開發(fā)過程中，需要信號源等裝置提供不同幅度的信號用于對導(dǎo)彈導(dǎo)引頭比幅度測向功能進行測試、提供不同相位的信號用于對導(dǎo)彈導(dǎo)引頭干涉儀測向(比相位)功能進行測試。

現(xiàn)有的測試方式，通常使用兩臺通用信號源提供不同幅度的信號，兩臺通用信號源設(shè)置不同的輸出信號功率，使這兩個信號之間產(chǎn)生幅度差，測試導(dǎo)彈導(dǎo)引頭比幅度測向功能，通常使用兩臺通用信號源加移相器提供不同幅度的信號，兩臺通用信號源設(shè)置相同的信號，移相器改變其中一路信號的相位，使這兩個信號之間產(chǎn)生相位差，測試導(dǎo)彈導(dǎo)引頭干涉儀測向(比相位)功能，由于通信信號源價格昂貴且功能豐富，使用兩臺通用信號源且僅使用該單一功能測試造成極大的浪費。

通用信號源性能可能存在輸出功率、相位不穩(wěn)定的情況，這可能導(dǎo)致兩臺通用信號源的幅度差、相位差不準確，給導(dǎo)彈導(dǎo)引頭的定量測試造成困難。

現(xiàn)有條件下，為消除該誤差隱患，需要人工校準，由于測試中需要大量數(shù)據(jù)，每次調(diào)節(jié)都要人工校準，導(dǎo)致測試效率低下。

移相器存在插入損耗，該插入損耗隨頻率、溫度等因素變化，這導(dǎo)致在進行相位調(diào)節(jié)時，不能進行精確的幅度調(diào)節(jié)，因此使用通用信號源不能實現(xiàn)幅度、相位同時調(diào)節(jié)，測試人員無法同時對導(dǎo)彈導(dǎo)引頭的比幅度測向和干涉儀測向(比相位)功能進行測試，導(dǎo)致導(dǎo)彈導(dǎo)引頭的內(nèi)場測試脫離實戰(zhàn)，測試精度差。

因此現(xiàn)有的導(dǎo)彈導(dǎo)引頭測試過程中存在測試成本高問題、幅度差、相位差精確控制難問題、人工校準效率低的問題以及幅度差、相位差同時控制難問題，為了解決上述問題，我們使用程控雙通道幅相控制器替代兩個價格昂貴的通用信號源，為此，我們提出一種程控雙通道幅相控制器。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種程控雙通道幅相控制器，可以有效解決背景技術(shù)中的現(xiàn)有導(dǎo)彈導(dǎo)引頭測試過程中存在測試成本高問題、幅度差、相位差精確控制難問題、人工校準效率低的問題以及幅度差、相位差同時控制難的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案為：一種程控雙通道幅相控制器，包括設(shè)置在三軸模擬旋轉(zhuǎn)臺機構(gòu)上的殼體以及設(shè)置在殼體內(nèi)部的幅相控制器組件，所述幅相控制器組件，包括第一芯片、第二芯片、微波單元、第一功分器、第二功分器、測幅鑒相模塊、第三功分器、第四功分器以及單片機；

所述殼體一側(cè)設(shè)有I/O接口，所述殼體內(nèi)部設(shè)有主電路板，若干所述I/O接口另一端與主電路板連接，所述第一芯片、所述第二芯片、所述微波單元、所述第一功分器、所述第二功分器、所述測幅鑒相模塊、所述第三功分器、所述第四功分器以及所述單片機均固定安裝在所述主電路板上，且與所述主電路板電性連接；