[發(fā)明專(zhuān)利]PCB缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210043020.1 | 申請(qǐng)日: | 2022-01-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114612375A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-06-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韋宏征 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 佛山市國(guó)立光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/80 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 莫月燕 |
| 地址: | 528000 廣東省佛山市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pcb 缺陷 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種PCB缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),涉及PCB制造技術(shù),包括以下步驟:獲取待檢測(cè)PCB圖像;從所述PCB圖像中切割出電路印刷區(qū)域的圖像,作為第一圖像;將所述第一圖像進(jìn)行二值分割,得到第二圖像;獲取設(shè)計(jì)圖,所述設(shè)計(jì)圖對(duì)應(yīng)于所述印刷區(qū)域的圖像,所述設(shè)計(jì)圖為二值圖像;將所述第二圖像和設(shè)計(jì)圖每個(gè)對(duì)應(yīng)像素點(diǎn)進(jìn)行異或操作,得到第三圖像;獲取所述設(shè)計(jì)圖的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息;根據(jù)所述設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息,確定所述第三圖像中的圖案區(qū)域是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及PCB制造技術(shù),特別是一種PCB缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
PCB線路板是現(xiàn)在電子工業(yè)的基礎(chǔ)部件之一,PCB線路板的好壞決定著電子設(shè)備的性能和質(zhì)量。目前計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)已經(jīng)大規(guī)模應(yīng)用在工業(yè)生產(chǎn)之中,使得PCB線路板的之間效率編得更高。
但是目前所采用的視覺(jué)算法多采用AI模型實(shí)現(xiàn),AI模型的準(zhǔn)確度與AI模型的訓(xùn)練程度相關(guān),成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本發(fā)明提出一種PCB缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),以實(shí)現(xiàn)快速而低成本的質(zhì)檢。
一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種PCB缺陷檢測(cè)方法,包括以下步驟:
獲取待檢測(cè)PCB圖像;
從所述PCB圖像中切割出電路印刷區(qū)域的圖像,作為第一圖像;
將所述第一圖像進(jìn)行二值分割,得到第二圖像;
獲取設(shè)計(jì)圖,所述設(shè)計(jì)圖對(duì)應(yīng)于所述印刷區(qū)域的圖像,所述設(shè)計(jì)圖為二值圖像;
將所述第二圖像和設(shè)計(jì)圖每個(gè)對(duì)應(yīng)像素點(diǎn)進(jìn)行異或操作,得到第三圖像;
獲取所述設(shè)計(jì)圖的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息;
根據(jù)所述設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息,確定所述第三圖像中的圖案區(qū)域是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
在一些實(shí)施例中,在獲取所述設(shè)計(jì)圖之后還包括以下步驟:
根據(jù)所述第二圖像的尺寸,對(duì)設(shè)計(jì)圖進(jìn)行拉伸,以使所述設(shè)計(jì)圖的尺寸與所述第二圖像吻合,所述設(shè)計(jì)圖為二值矢量圖。
在一些實(shí)施例中,所述根據(jù)所述設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息,確定所述第三圖像中的圖案區(qū)域是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn),具體包括:
逐個(gè)確定第三圖像中每個(gè)由第一數(shù)值表示的像素點(diǎn)組成的區(qū)域是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn);
其中,針對(duì)每一個(gè)每個(gè)由第一數(shù)值表示的像素點(diǎn)組成的區(qū)域通過(guò)以下方式確定是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn);
確定區(qū)域所在的位置;
判斷該區(qū)域是否與印刷線路連接;
若該區(qū)域與第一印刷線路連接,則基于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息,根據(jù)該區(qū)域與最接近的第二印刷新路之間的距離,判斷是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn);
若該區(qū)域不與任何印刷線路連接,則基于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)信息,根據(jù)該區(qū)域與相鄰的若干個(gè)印刷線路之間的距離,判斷是否滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
在一些實(shí)施例中,所述距離根據(jù)拍攝PCB圖像的標(biāo)定參數(shù)和圖像中的像素點(diǎn)位置確定。
在一些實(shí)施例中,所述將所述第一圖像進(jìn)行二值分割,得到第二圖像,具體為:
計(jì)算所述第一圖像的平均灰度;
將平均灰度作為分割閾值對(duì)第一圖像進(jìn)行分割,以使得表示覆銅部分的像素點(diǎn)被處理為黑點(diǎn),表示非覆銅部分的像素點(diǎn)被處理為白點(diǎn)。
在一些實(shí)施例中,所述設(shè)計(jì)圖由原始layout設(shè)計(jì)文件轉(zhuǎn)換得到,所述設(shè)計(jì)圖被保存在數(shù)據(jù)庫(kù)之中;
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于佛山市國(guó)立光電科技有限公司,未經(jīng)佛山市國(guó)立光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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