[發明專利]一種混響室歸一化場強快速評估方法

在審

• 申請號: 202210035991.1
• 申請日: 2022-01-12
• 公開（公告）號: CN114487617A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 賈銳;徐千;耿利飛;王川川;郭浩;李新峰;何洪濤
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍63892部隊
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R1/18;G01R31/00
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所(普通合伙) 41112
• 代理人: 林志堅

本發明公開了一種混響室歸一化場強快速評估方法，基于混響室中發射天線和接收天線間的S參數，將頻域S參數通過逆傅里葉變換得到其時域響應，再得到混響室的時域功率分布函數，通過對功率分布函數進行最小二乘擬合，得到其衰減速率，最后通過場強最大值與平均值的比值關系得到混響室的歸一化場強。該混響室歸一化場強快速評估方法無需對混響室進行均勻性校準，以及無需改變接收天線放置位置，不需要事先對混響室進行均勻性校準以及對線纜損耗進行補償，為混響室技術在電磁兼容領域推廣起到重要促進作用，并且在實際測試中可得到混響室時間常數，通過時間常數，也可得到混響室品質因數。

技術領域

本發明涉及電磁兼容技術領域，具體為一種混響室歸一化場強快速評估方法。

背景技術

近年來，混響室技術被越來越多的技術標準所接納，也被越來越多的行業所接受。目前，混響室主要應用于電磁兼容測試和空口測試(OTA測試)。在電磁兼容領域，混響室在屏蔽效能測試、抗擾度測試等項目上有著獨特的優勢。在OTA測試領域，混響室在TPR(帶內總全向輻射功率)、SE(帶外雜散輻射功率)以及ACLR(臨帶泄露)等測試項目上有著非常廣泛的應用。另外，在汽車行業和生物工程領域也有著越來越廣泛的應用。混響室正以其獨特的電磁環境，在各電磁測試行業發揮著愈發重要的作用。

混響室歸一化場強，被定義為1W輸入功率在混響室內產生的最大場強，相比于電波暗室開闊場等傳統電磁兼容測試場地，混響室內的歸一化場強可提高幾十倍，甚至上百倍。這對于電磁兼容測試來說，尤其是高場強測試，這是非常大的優勢。但一個已建成混響室的歸一化場強并不是一成不變的，隨著混響室的使用，其內壁反射材料的氧化、測試加載物的不同、陪試物品的不同，甚至是測試線纜布局的不同，都會對歸一化場強造成一定的影響。

但傳統混響室歸一化場強測試是基于頻域的，但測試之前要對混響室進行詳細校準，而且對所用線纜損耗要充分考慮進來。這是一項非常繁瑣的過程，測試中如果更換某個環節的一個設備器件，則要重新進行校準。如果混響室測試區域內受試設備或陪試設備發生變化，這種基于頻域的歸一化場強評估方法更是一項工程量巨大的測試過程。

發明內容

本發明的目的在于提供一種混響室歸一化場強快速評估方法，以解決上述背景技術中提出的現有混響室歸一化場強在測試前需要對其進行詳細校準，工作量大且繁瑣的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種混響室歸一化場強快速評估方法，其特征在于：所述混響室歸一化場強快速評估方法具體操作步驟如下：

S1：搭建測試設備；

S2：收集測試參數；

S3：參數處理；

S4：得到期望值；

S5：得到目標實際值；

S6：得出結論。

優選的，所述S1中搭建測試設備包括搭建發射天線、接收天線、矢量網絡分析儀和多個攪拌器。

優選的，所述S1中矢量網絡分析儀選擇起始頻率和終止頻率，采樣點選擇10001個。

優選的，所述S1中攪拌器獨立攪拌位置數量要大于5個。

優選的，所述S3所述參數處理包括逆博里葉變換、時域響應、功率時域分布、衰減函數處理、衰減速率和計算特定環境的時間常數。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：該混響室歸一化場強快速評估方法無需對混響室進行均勻性校準，以及無需改變接收天線放置位置，不需要事先對混響室進行均勻性校準以及對線纜損耗進行補償，為混響室技術在電磁兼容領域推廣起到重要促進作用，并且在實際測試中可得到混響室時間常數，通過時間常數，也可得到混響室品質因數。

附圖說明

圖1為本發明一種混響室歸一化場強快速評估方法流程示意圖；