[發(fā)明專利]一種分光光度的測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210033922.7 | 申請日: | 2022-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN114279990A | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 呂運昌;陳云龍;邊寶麗;丁瑞峰;劉海波;朱鴻鑫;王林濤;馮峰;王明朗;邢芳玉;張玉珍;李擎;李丹;李娟;王宏偉;于峰;王海;付發(fā)明;廖祥林;蔣占軍;黃振鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 北京華科儀科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/33;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京悅和知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11714 | 代理人: | 司麗春 |
| 地址: | 100000 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 分光 光度 測量方法 | ||
1.一種分光光度的測量方法,其特征在于,該測量方法在分光光度計內(nèi)進行,包括:
步驟1):使裝有待測樣品的方形比色皿沿著光源和檢測器連線垂直的水平方向上,以固定的間隔按照靠近光束,橫穿光束,最后遠離光束的軌跡移動,同時記錄每次移動時檢測器測得的測量值;
步驟2):以固定的間隔將方形比色皿在豎直方向上移動一定的距離,并在每次移動后重復(fù)步驟1);
步驟3):將光束直接照射檢測器時,檢測器測得的測量值記為入射光強度I入;取同一高度上光束橫穿所述方形比色皿時檢測器測得的測量值的平均數(shù),然后將不同高度上得到所述測量值的平均數(shù)再次求平均數(shù),最終得到的測量值記為待測樣品的透射光強度I;
步驟4):根據(jù)朗伯-比爾定律A=lg(I入/I)=kbc,計算得到待測樣品的吸光度A;
其中,A為吸光度;
I為透射光強度;
I入為入射光強度;
k為摩爾吸光系數(shù);
b為吸收層厚度,cm;
c為濃度,mol/L。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,所述光束為波長為380~780nm的可見光或波長為200~380nm的紫外光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,步驟1)中,所述方形比色皿以1~3mm的固定間隔在水平方向上移動。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,步驟2)中,所述方形比色皿以1~3mm的固定間隔在豎直方向上移動。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,步驟3)中,求平均數(shù)的方法為累加平均數(shù)法或中值濾波。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,所述待測樣品的離子濃度為0~0.01mol/L。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其中,所述待測樣品的濁度為0~1000NTU。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





