[發明專利]一種高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法

在審

• 申請號: 202210030656.2
• 申請日: 2022-01-12
• 公開（公告）號: CN114325810A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 張春暉;曹磊峰;代艷萌;李迪開;俞健;鄧嘉玲;汪雪;周滄濤;阮雙琛
• 申請（專利權）人: 深圳技術大學
• 主分類號: G01T5/02
• 分類號: G01T5/02
• 代理公司: 深圳市遠航專利商標事務所(普通合伙) 44276
• 代理人: 田志遠;張朝陽

1.一種高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，將所有測得的信號分類形成若干集合，利用霍夫變換的映射關系，對每個集合內的所有信號的徑跡進行重建，并找到所有中子入射點的位置。

2.根據權利要求1所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、獲取探測器記錄的所有信號的分布圖；

S2、將信號的分布圖所有信號分類形成若干個信號集合；

S3、采用霍夫變換算法，對每個信號集合進行分解，得到每個信號集合的徑跡；

S4、根據離子能量沉積特征判斷徑跡的起始位置，從而得到中子入射點的位置。

3.根據權利要求2所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在步驟S1中，通過模擬毛細管陣列探測器，獲得所有信號的分布圖。

4.根據權利要求2所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在步驟S2中，確定所有相鄰信號為一個集合。

5.根據權利要求4所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在信號的分布圖中，按照所測得的信號的位置是否相鄰進行歸類和分割，得到若干個信號集合。

6.根據權利要求4所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在同一個信號集合中，相鄰兩個信號所在的像素行、列之差均不大于2。

7.根據權利要求2所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在步驟S3中，將每個集合的所有信號變換至霍夫空間，依次提取霍夫空間內的峰值，得到信號的分布圖中與之對應的的直線信號，進而得到所有信號的徑跡。

8.根據權利要求7所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，具體包括：

步驟S31、將每個集合內的所有信號進行霍夫變換，得到每個信號在霍夫空間的曲線；

步驟S32、在霍夫空間內尋找最大值；

步驟S33、確定信號的分布圖中與該最大值對應的直線，并提取落在該直線上的徑跡；

步驟S34、重復步驟S32～步驟S33，直至提取得到所有信號的徑跡。

9.根據權利要求2所述的高精度、快速尋找聚變中子入射點位置的方法，其特征在于，在步驟S4中，在尋找中子入射點的位置的過程中，根據產生中子的能量沉積特征，判斷徑跡中信號弱的一端為中子入射點的位置。