[發明專利]一種扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202210023339.8
• 申請日: 2022-01-10
• 公開（公告）號: CN114295947A
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 蒲學林;薛長志;陳紅生;文敏
• 申請（專利權）人: 中車株洲電機有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/16
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 馬德勝

1.一種扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，包括：

上端設置有開口的電極盒(1)；

貫穿所述電極盒(1)相對兩側的側板(11)，用于水平放置扁電磁線直線試樣(2)的通孔(3)；

收容于所述電極盒(1)內的導電球體(4)，所述導電球體(4)接地，所述扁電磁線直線試樣(2)的導電端(21)與電源(5)相連。

2.根據權利要求1所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，

所述電極盒(1)，還包括，

沿所述側板(11)的高度方向設置，垂直于所述扁電磁線直線試樣(2)的第一盲孔(12)，且所述第一盲孔(12)與所述通孔(3)連通；

插入所述第一盲孔(12)，與所述扁電磁線直線試樣(2)的上表面抵接的第一定位塊(13)。

3.根據權利按要求2所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，

所述電極盒(1)，還包括，

設置在所述側板(11)的一側，垂直于所述扁電磁線直線試樣(2)的第二盲孔(14)，所述第二盲孔(14)與所述通孔(3)連通；

插入所述第二盲孔(14)，與所述扁電磁線直線試樣(2)的側面抵接的第二定位塊(15)。

4.根據權利要求3所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，

所述電極盒(1)，還包括，

設置在所述第二定位塊(15)與所述扁電磁線直線試樣(2)抵接的一端的U形槽(16)，所述第一定位塊(13)卡在所述U形槽(16)內，且所述U形槽(16)的端面與所述扁電磁線直線試樣(2)的側面抵接。

5.根據權利要求4所述的扁電磁線直線擊穿電壓檢測裝置，其特征在于，

所述第一盲孔(12)與所述第一定位塊(13)之間，所述第二盲孔(14)與所述第二定位塊(15)之間均為間隙配合。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，

所述導電球體(4)采用金屬材料制成。

7.根據權利要求1至5中任一項所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測裝置，其特征在于，

所述電極盒(1)采用絕緣材料制成。

8.一種扁電磁線直線擊穿電壓的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一、將扁電磁線直線試樣(2)貫穿電極盒(1)兩側的通孔(3)放置；

步驟二、往電極盒(1)內倒入導電球體(4)直至所述導電球體(4)淹沒扁電磁線直線試樣(2)的上表面；

步驟三、將導電球體(4)接地，所述扁電磁線直線試樣(2)的導電端(21)與電源(5)相連，直至扁電磁線直線試樣(2)的絕緣層(22)被擊穿，確定所述扁電磁線直線試樣(2)的擊穿電壓。

9.根據權利要求8所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測方法，其特征在于，在將扁電磁線直線試樣(2)貫穿電極盒(1)兩側的通孔(3)放置步驟之后且往電極盒(1)內倒入導電球體(4)步驟之前，還包括下述步驟：

將第一定位塊(13)插入第一盲孔(12)內，以使得所述第一定位塊(13)與所述扁電磁線直線試樣(2)的上表面抵接。

10.根據權利要求9所述的扁電磁線直線擊穿電壓的檢測方法，其特征在于，

在將第一定位塊(13)插入第一盲孔(12)內步驟之后且往電極盒(1)內倒入導電球體(4)步驟之前，還包括下述步驟：

將第二定位塊(15)插入第二盲孔(14)內，以使得所述第二定位塊(15)與所述扁電磁線直線試樣(2)的側面抵接。