[發明專利]量測方法

在審

• 申請號: 202210022330.5
• 申請日: 2022-01-10
• 公開（公告）號: CN115994885A
• 公開（公告）日: 2023-04-21
• 發明（設計）人: 黎宇泰;林高祺;謝卓帆;吳登峻;彭成瑜
• 申請（專利權）人: 財團法人工業技術研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V10/28;G01B11/16
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 張燕華;祁建國

1.一種量測方法，其特征在于，所述量測方法包括：

對待測物形成具有第一特征圖案的待測影像；

復制所述待測影像以形成多個待測影像，并將所述多個待測影像以疊加影像方式形成待測疊影影像，所述待測疊影影像具有多個所述第一特征圖案；

對參考物形成具有第二特征圖案的參考影像；

復制所述參考影像以形成多個參考影像，并將所述多個參考影像以疊加影像方式形成參考疊影影像，所述參考疊影影像具有多個所述第二特征圖案；

將所述待測疊影影像與所述參考疊影影像相疊，以產生一疊紋影像，所述疊紋影像具有一疊紋圖案，所述疊紋圖案不同于所述多個第一特征圖案，所述疊紋圖案不同于所述多個第二特征圖案。

2.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述待測影像沿所述待測物的待測表面的垂直方向拍攝。

3.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述參考影像延所述參考物的參考表面的垂直方向拍攝。

4.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述參考影像為所述參考物的計算機輔助設計檔案。

5.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述第一特征圖案包括：條形、圓形、橢圓形或其等效圖形。

6.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述第二特征圖案包括：條形、圓形、橢圓形或其等效圖形。

7.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述疊紋圖案包括：條形、圓形、橢圓形或其等效圖形。

8.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，更包括對所述待測影像進行二值化處理。

9.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，更包括對所述參考影像進行二值化處理。

10.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述疊加影像方式為以圖像處理方法形成所述待測疊影影像或形成所述參考疊影影像。

11.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述待測疊影影像與所述參考疊影影像以圖像處理方法相疊，以產生所述疊紋影像。

12.根據權利要求11所述的量測方法，其特征在于，所述圖像處理方法包括使所述待測疊影影像與所述參考疊影影像沿一方向產生相對位移后相疊。

13.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述圖像處理方法包括使所述待測疊影影像與所述參考疊影影像沿順時鐘或逆時鐘方向旋轉后相疊。

14.根據權利要求1所述的量測方法，其特征在于，所述待測物的幾何尺寸可以由所述疊紋圖案借由幾何投影量與坐標轉換等數學方法獲得。

15.一種量測方法，其特征在于，所述量測方法包括：

對待測物形成具有第一特征圖案的待測影像；

復制所述待測影像以形成多個待測影像，并將所述多個待測影像以疊加影像方式形成待測疊影影像，所述待測疊影影像具有多個所述第一特征圖案；

對參考物形成具有第二特征圖案的參考影像；

復制所述參考影像以形成多個參考影像，并將所述多個參考影像以疊加影像方式形成參考疊影影像，所述參考疊影影像具有多個所述第二特征圖案；

將所述待測疊影影像與所述參考疊影影像相疊，以產生一疊紋影像，所述疊紋影像具有一疊紋圖案，所述疊紋圖案不同于所述多個第一特征圖案，所述疊紋圖案不同于所述多個第二特征圖案，

使所述待測疊影影像與所述參考疊影影像產生相對移動，使所述疊紋影像的所述疊紋圖案產生變化，

其中所述疊紋圖案的變化對應于所述待測物于待測物表面垂直方向的形變。