[發明專利]一種WAPI切換測試裝置及方法在審
| 申請號: | 202210011925.0 | 申請日: | 2022-01-04 |
| 公開(公告)號: | CN114501523A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 索思亮;匡曉云;陳立明;王力;黃開天;任未知 | 申請(專利權)人: | 南方電網科學研究院有限責任公司 |
| 主分類號: | H04W24/08 | 分類號: | H04W24/08;H04B17/318;H04W36/00;H04W36/14;H04W84/12 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 鐘文瀚 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市蘿崗區科*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 wapi 切換 測試 裝置 方法 | ||
1.一種WAPI切換測試裝置,其特征在于,包括功率控制模塊、射頻衰減模塊、接口模塊和電源模塊;
所述功率控制模塊用于向所述射頻衰減模塊發送射頻衰減指令;
所述射頻衰減模塊用于根據接收到的所述射頻衰減指令,對預先與所述測試裝置相連接的至少兩個AP發射的射頻輸入信號進行衰減;
所述接口模塊用于與所述至少兩個AP相連接,并向終端STA發射射頻空口信號,所述射頻空口信號為衰減后的所述射頻輸入信號;
所述電源模塊用于向所述測試裝置供電。
2.如權利要求1所述的WAPI切換測試裝置,其特征在于,所述射頻衰減模塊用于根據接收到的所述射頻衰減指令,對預先與所述測試裝置相連接的至少兩個AP發射的射頻輸入信號進行衰減,具體為:
根據接收到的所述射頻衰減指令,分別選擇供預先與所述測試裝置相連接的至少兩個AP發射的射頻輸入信號通過的射頻衰減通路,以使對所述至少兩個AP發射的射頻輸入信號進行衰減;
其中,所述射頻衰減模塊包括至少兩個射頻衰減通路,不同的射頻衰減通路對應不同的射頻衰減值。
3.如權利要求2所述的WAPI切換測試裝置,其特征在于,所述電源模塊還用于向所述至少兩個AP進行POE供電。
4.如權利要求3所述的WAPI切換測試裝置,其特征在于,所述射頻衰減模塊在對預先與所述測試裝置相連接的至少兩個AP發射的射頻輸入信號進行衰減后,還用于向所述功率控制模塊反饋指令應答數據;
其中,所述指令應答數據包括根據所述射頻衰減指令選擇的所述射頻衰減通路的通路編號、射頻衰減指令執行結果和對所述至少兩個AP發射的射頻輸入信號進行衰減的衰減值。
5.一種WAPI切換測試方法,采用如權利要求1至4任一項所述的WAPI切換測試裝置,其特征在于,包括:
啟動所述測試裝置中的電源模塊,并對預先與所述測試裝置相連接的第一AP和第二AP供電;
控制功率控制模塊向射頻衰減模塊發送射頻衰減指令,以使將對所述第一AP發射的第一射頻輸入信號進行衰減的第一衰減值設置為最小,將對所述第二AP發射的第二射頻輸入信號進行衰減的第二衰減值設置為最大;
基于所述射頻衰減指令,通過所述射頻衰減模塊分別對所述第一射頻輸入信號和所述第二射頻輸入信號進行衰減,以使終端STA駐留在所述第一AP;
控制所述功率控制模塊持續向所述射頻衰減模塊發送射頻衰減指令,以使所述第一衰減值持續增大,所述第二衰減值持續減小,在所述功率控制模塊持續向所述射頻衰減模塊發送射頻衰減指令的過程中,實時判斷所述終端STA的駐留狀態是否從在所述第一AP駐留轉變為在所述第二AP駐留;
當所述終端STA的駐留狀態從在所述第一AP駐留轉變為在所述第二AP駐留,判定所述終端STA的WAPI切換功能正常,并根據所述終端STA執行WAPI切換功能時的第一衰減值和第二衰減值、所述第一AP的預設初始輸出功率以及所述第二AP的預設初始輸出功率,獲得所述終端STA的WAPI切換閾值。
6.如權利要求5所述的WAPI切換測試方法,其特征在于,所述控制功率控制模塊向射頻衰減模塊發送射頻衰減指令,具體為:
通過Web操作界面控制功率控制模塊向射頻衰減模塊發送射頻衰減指令,所述射頻衰減指令包括所述第一衰減值、與所述第一衰減值對應的第一射頻衰減通路的通路編號、所述第二衰減值以及與所述第二衰減值對應的第二射頻衰減通路的通路編號。
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