[發明專利]磁開關測試系統、方法及裝置

有效

• 申請號: 202210007587.3
• 申請日: 2022-01-06
• 公開（公告）號: CN114076908B
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 沙玉新
• 申請（專利權）人: 微傳智能科技（常州）有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 上海金盛協力知識產權代理有限公司 31242
• 代理人: 嚴帥

1.一種磁開關測試系統，其特征在于，所述磁開關測試系統包括：驗證性測試模塊，所述驗證性測試模塊包括：

測試動作選擇單元，用于選擇待測試動作；所述測試動作選擇單元可選擇的待測試動作包括正向磁化、反向磁化、正向磁場掃描、反向磁場掃描、先正后反磁場掃描和/或先反后正磁場掃描中的至少一種；

第一組參數設置單元，用于設置測試所需的第一組參數，所述第一組參數包括是否找到切換點即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；

第一運行單元，用于根據選擇的測試動作和設置的第一組參數運行相應的指令；以及

第一測試結果顯示單元，用于顯示驗證性測試結果，所述驗證性測試結果包括不同磁場掃描方式下的BOP值和BRP值。

2.根據權利要求1所述的磁開關測試系統，其特征在于：

所述磁開關測試系統還包括二維磁場測試模塊，所述二維磁場測試模塊包括：

第二組參數設置單元，用于設置測試所需的第二組參數，所述第二組參數包括測試角度、步進角度、最大磁場強度、是否單路輸出、是否記錄BOP/BRP和是否旋轉掃描；

參數配置單元，用于根據所述第二組參數設置單元設置的第二組參數生成簇類型文件；

第二運行單元，用于根據設置的第二組參數運行相應的指令；以及

第二測試結果顯示單元，用于顯示二維磁場測試結果，所述二維磁場測試結果包括當前測試角度、第一當前輸出、第二當前輸出、X軸磁場和Y軸磁場。

3.根據權利要求2所述的磁開關測試系統，其特征在于：

所述第二測試結果顯示單元還用以顯示磁開關的輸出線性精度，當待測磁開關是雙路輸出時，對磁開關的輸出線性精度進行顯示。

4.根據權利要求1所述的磁開關測試系統，其特征在于：

所述磁開關測試系統還包括功能測試模塊，所述功能測試模塊包括：

第三組參數設置單元，用于設置測試所需的第三組參數，所述第三組參數包括磁場方向選擇、測試項目選擇、BOP閾值范圍、BRP閾值范圍、Bhys閾值范圍、磁場系數、磁場最大值、靜電電流標準值和待測磁開關工作電壓值；

第三運行單元，用于根據設置的第三組參數運行相應的指令；以及

第三測試結果顯示單元，用于顯示磁場當前值、BOP、BRP、Bhys、輸出電壓和靜態電流。

5.一種磁開關測試方法，其特征在于，所述磁開關測試方法包括驗證性測試方法，所述驗證性測試方法包括：

步驟A1、選擇待測試動作；可選擇的待測試動作包括正向磁化、反向磁化、正向磁場掃描、反向磁場掃描、先正后反磁場掃描和/或先反后正磁場掃描中的至少一種；設置測試所需的第一組參數，所述第一組參數包括是否找到切換點即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；

步驟A2、根據選擇的測試動作和設置的第一組參數運行相應的指令；以及

步驟A3、顯示驗證性測試結果，所述驗證性測試結果包括不同磁場掃描方式下的BOP值和BRP值。

6.根據權利要求5所述的磁開關測試方法，其特征在于：

所述步驟A1進一步包括：選擇運行次序，根據列表框已有的測試動作配置測試內容和順序，利用事件結構讀取列表框屬性節點，觸發事件設置為按鈕控件值改變或列表框鼠標雙擊事件；生成狀態機枚舉列表，根據選擇的測試序列生成狀態機循環結構的枚舉數據，作為循環的輸入；

所述步驟A2進一步包括：配置磁場返回點磁場掃描，首先需先調用磁場返回點信息，配置為找到BOP/BRP即返回或到達最大磁場返回，讀取用戶設置的參數并調用設置的參數，將用戶設置的參數轉換為字符串指令，循環輸出信號至磁場驅動電源以控制磁場，每次輸出信號至磁場驅動電源后再發送采集指令至采集設備并讀取輸出返回值，直到完成0Gs~磁場返回點~0Gs的一個周期掃描，此時完成狀態機的第一個枚舉值測試序列，然后移位寄存器會讀取第二個枚舉值進行下次掃描直至所有測試序列均完成；

所述步驟A3進一步包括：對應的BOP/BRP會以二維數組形式顯示在表格控件中，測試完成后初始化磁場及磁場驅動電源。