[發(fā)明專利]一種測試固態(tài)硬盤的方法、裝置、計算機(jī)存儲介質(zhì)及終端

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202210005939.1
• 申請日: 2022-01-05
• 公開（公告）號: CN114333977A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 胡亞君;蔣海濤;楊雪婷
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥大唐存儲科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京安信方達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 吳曉霞;李丹

本文公開一種測試固態(tài)硬盤的方法、裝置、計算機(jī)存儲介質(zhì)及終端，包括：根據(jù)預(yù)先確定的各待測試的固態(tài)硬盤(SSD)的測試參數(shù)，分別生成對每一個待測試的SSD進(jìn)行異常整機(jī)掉電的測試腳本；通過生成的測試腳本對電源分配單元(PDU)進(jìn)行控制，以獲取待測試的SSD在異常整機(jī)掉電時的測試日志信息；根據(jù)獲取的測試日志信息分別生成對應(yīng)各待測試的SSD的測試結(jié)果信息；其中，PDU連接一個以上測試主機(jī)，測試主機(jī)加載有一個以上待測試的SSD；測試參數(shù)包括：待測試的SSD的種類和/或測試主機(jī)的操作系統(tǒng)(OS)類別。本發(fā)明實施例通過PDU連接待測試的SSD，通過待測試的SSD的測試參數(shù)生成的測試腳本，實現(xiàn)了多個不同SSD的異常整機(jī)掉電，提升了SSD異常整機(jī)掉電的測試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本文涉及但不限于數(shù)據(jù)存儲技術(shù)，尤指一種測試固態(tài)硬盤的方法、裝置、計算機(jī)存儲介質(zhì)及終端。

背景技術(shù)

固態(tài)硬盤(SSD)由控制單元和存儲單元(FLASH芯片、DRAM芯片)組成；數(shù)據(jù)在存儲單元中以電荷形式存儲，在SSD安全掉電時有足夠的時間處理讀寫過程，但SSD在實際使用過程中會出現(xiàn)異常整機(jī)掉電。SSD的性能測試包含異常整機(jī)掉電后的性能測試。

相關(guān)技術(shù)在進(jìn)行SSD異常整機(jī)掉電的性能測試時，每一次對一塊加載在測試主機(jī)上的數(shù)據(jù)盤進(jìn)行測試，且當(dāng)前進(jìn)行SSD異常整機(jī)掉電的數(shù)據(jù)盤只包含安裝Windows系統(tǒng)下的數(shù)據(jù)盤。

隨著，SSD應(yīng)用場景的增加，SSD被應(yīng)用在不同的測試平臺，SSD的性能測試范圍也需要增加，目前的異常整機(jī)掉電的測試效率無法滿足SSD的測試要求，如何提升SSD的異常整機(jī)掉電的測試效率，成為一個有待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

以下是對本文詳細(xì)描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權(quán)利要求的保護(hù)范圍。

本發(fā)明實施例提供一種測試固態(tài)硬盤的方法、裝置、計算機(jī)存儲介質(zhì)及終端，能夠提升SSD異常整機(jī)掉電的測試效率。

本發(fā)明實施例提供了一種測試固態(tài)硬盤的方法，包括：通過電源分配單元PDU連接一個以上測試主機(jī)，測試主機(jī)中加載一個以上待測試的固態(tài)硬盤SSD，還包括：

根據(jù)預(yù)先確定的各待測試的固態(tài)硬盤SSD的測試參數(shù)，分別生成對每一個待測試的SSD進(jìn)行異常整機(jī)掉電的測試腳本；

通過生成的測試腳本對電源分配單元PDU進(jìn)行控制，以獲取待測試的SSD在異常整機(jī)掉電時的測試日志信息；

根據(jù)獲取的測試日志信息分別生成對應(yīng)各待測試的SSD的測試結(jié)果信息；

其中，所述PDU連接一個以上測試主機(jī)，測試主機(jī)加載有一個以上所述待測試的SSD；所述測試參數(shù)包括：待測試的SSD的種類和/或所述測試主機(jī)的操作系統(tǒng)OS類別。

另一方面，本發(fā)明實施例還提供一種計算機(jī)存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)存儲介質(zhì)中存儲有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述測試固態(tài)硬盤的方法。

再一方面，本發(fā)明實施例還提供一種終端，包括：存儲器和處理器，所述存儲器中保存有計算機(jī)程序；其中，

處理器被配置為執(zhí)行存儲器中的計算機(jī)程序；

所述計算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上述測試固態(tài)硬盤的方法。

還一方面，本發(fā)明實施例還提供一種測試固態(tài)硬盤的裝置，包括：生成腳本單元、控制單元和生成結(jié)果單元；其中，

生成腳本單元設(shè)置為：根據(jù)預(yù)先確定的各待測試的固態(tài)硬盤SSD的測試參數(shù)，分別生成對每一個待測試的SSD進(jìn)行異常整機(jī)掉電的測試腳本；

控制單元設(shè)置為：通過生成的測試腳本對電源分配單元PDU進(jìn)行控制，以獲取待測試的SSD在異常整機(jī)掉電時的測試日志信息；