[發(fā)明專利]一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法及AOI設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210003639.X
• 申請(qǐng)日: 2022-01-04
• 公開（公告）號(hào): CN114505251A
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳紀(jì)輝;彭寒勤;黃君彬;楊勇;付全飛;童小琴
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市埃爾法光電科技有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/34
• 分類號(hào): B07C5/34;B07C5/38
• 代理公司: 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312
• 代理人: 鐘連發(fā)

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法及AOI設(shè)備。其中，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法包括：通過輸送裝置將待測(cè)PCB輸送至預(yù)檢測(cè)裝置；通過預(yù)檢測(cè)裝置對(duì)各光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份標(biāo)簽進(jìn)行掃描，得到各光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份信息；通過輸送裝置將待測(cè)PCB輸送至AOI裝置；通過AOI裝置對(duì)各光電產(chǎn)品進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，得到檢測(cè)結(jié)果；若檢測(cè)結(jié)果指示不存在不良光電產(chǎn)品，則通過輸送裝置將待測(cè)PCB輸送至合格品下料位；若檢測(cè)結(jié)果指示存在不良光電產(chǎn)品，則通過AOI裝置對(duì)不良光電產(chǎn)品進(jìn)行打點(diǎn)標(biāo)記；將檢測(cè)結(jié)果與各光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份信息關(guān)聯(lián)輸出；其中，待測(cè)PCB包括基板和貼設(shè)于基板的多個(gè)附帶產(chǎn)品身份標(biāo)簽的光電產(chǎn)品。本申請(qǐng)能夠有效地提升AOI設(shè)備的自動(dòng)化程度。

【技術(shù)領(lǐng)域】

本申請(qǐng)涉及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法及AOI設(shè)備。

【背景技術(shù)】

AOI(Automated Optical Inspection，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))設(shè)備是一種基于光學(xué)原理對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI設(shè)備的檢測(cè)過程為：通過攝像頭自動(dòng)掃描待測(cè)PCB(Printed Circuit Board，印制電路板)，以對(duì)待測(cè)PCB的圖像進(jìn)行采集；將待測(cè)PCB的圖像與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格PCB的圖像進(jìn)行對(duì)比，以檢測(cè)出待測(cè)PCB上所存在的缺陷；將待測(cè)PCB上所存在的缺陷在相應(yīng)的圖像上標(biāo)示出來；維修人員通過查看這些標(biāo)示，對(duì)待測(cè)PCB進(jìn)行維修；其中，待測(cè)PCB上通常設(shè)有多個(gè)光電產(chǎn)品。

相關(guān)技術(shù)中，通過AOI設(shè)備對(duì)待測(cè)PCB進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，不僅需要操作員手持掃描槍對(duì)待測(cè)PCB上各光電產(chǎn)品的二維碼進(jìn)行掃描，還需要操作員根據(jù)檢測(cè)結(jié)果，通過手持的油性筆對(duì)待測(cè)PCB上存在缺陷的位置進(jìn)行標(biāo)記，這就表明一臺(tái)AOI設(shè)備至少需要一名操作員，而操作員一旦離開AOI設(shè)備，整臺(tái)AOI設(shè)備所進(jìn)行的檢測(cè)工作將會(huì)停滯不前，從而降低了AOI設(shè)備的自動(dòng)化程度，進(jìn)而降低了AOI設(shè)備的檢測(cè)效率，同時(shí)也增大了人工成本。

因此，有必要對(duì)上述AOI設(shè)備的結(jié)構(gòu)及其檢測(cè)方法進(jìn)行改進(jìn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法及AOI設(shè)備，旨在解決相關(guān)技術(shù)中AOI設(shè)備的自動(dòng)化程度較低的問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面提供了一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，包括：

通過輸送裝置將待測(cè)PCB輸送至預(yù)檢測(cè)裝置；其中，所述待測(cè)PCB包括基板和貼設(shè)于所述基板的多個(gè)附帶產(chǎn)品身份標(biāo)簽的光電產(chǎn)品；

通過所述預(yù)檢測(cè)裝置對(duì)各所述光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份標(biāo)簽進(jìn)行掃描，得到各所述光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份信息；

通過所述輸送裝置將所述待測(cè)PCB輸送至AOI裝置；

通過所述AOI裝置對(duì)各所述光電產(chǎn)品進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，得到檢測(cè)結(jié)果；

若所述檢測(cè)結(jié)果指示不存在不良光電產(chǎn)品，則通過所述輸送裝置將所述待測(cè)PCB輸送至合格品下料位；若所述檢測(cè)結(jié)果指示存在不良光電產(chǎn)品，則通過所述AOI裝置對(duì)所述不良光電產(chǎn)品進(jìn)行打點(diǎn)標(biāo)記；

將所述檢測(cè)結(jié)果與各所述光電產(chǎn)品的產(chǎn)品身份信息關(guān)聯(lián)輸出。

本申請(qǐng)實(shí)施例第二方面提供了一種AOI設(shè)備，包括機(jī)臺(tái)、輸送裝置、預(yù)檢測(cè)裝置和AOI裝置；所述輸送裝置設(shè)置在所述機(jī)臺(tái)上，所述預(yù)檢測(cè)裝置和所述AOI裝置均設(shè)置在所述機(jī)臺(tái)上，且均位于所述輸送裝置的一側(cè)或分別位于所述輸送裝置相對(duì)的兩側(cè)；其中，所述AOI設(shè)備用于對(duì)待測(cè)PCB進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，且所述AOI設(shè)備對(duì)所述待測(cè)PCB進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)時(shí)，實(shí)現(xiàn)如本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法。

從上述描述可知，與相關(guān)技術(shù)相比，本申請(qǐng)的有益效果在于：