[發明專利]用于閃存耐用性管理的方法、系統和裝置

在審

• 申請號: 202180083952.2
• 申請日: 2021-04-09
• 公開（公告）號: CN116635835A
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 彼得·謝爾蓋耶維奇·克里諾夫;維塔利·哈林;阿列克桑德·塔拉索夫;謝爾蓋·伊利薩夫斯基
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F12/02
• 分類號: G06F12/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種閃存耐用性管理方法(100、400)，其特征在于，包括：

獲取閃存(212)的健康數據，所述健康數據包括每個內存塊的平均擦除周期量和寫入所述閃存(212)的數據總量；

基于所述閃存(212)的所述健康數據和運行時間，確定反映在一段時間內寫入所述閃存(212)的數據量的時間寫入估計；

基于所述健康數據更新所述閃存(212)的壽命模型；

基于更新的壽命模型確定所述閃存(212)的剩余壽命；

基于所述時間寫入估計和所述剩余壽命確定額外的寫入資源，所述額外的寫入資源是可以寫入所述閃存(212)而不影響其保修期的額外數據量。

2.根據權利要求1所述的方法(100、400)，其特征在于，還包括測量所述閃存(212)的所述運行時間。

3.根據權利要求1或2所述的方法(100、400)，其特征在于：

所述獲取所述閃存(212)的所述健康數據包括：從包括所述閃存(212)的設備獲取所述閃存(212)的所述健康數據；和/或

所述基于所述健康數據更新所述閃存(212)的所述壽命模型包括：基于所述健康數據確定磨損速度，并基于所述磨損速度更新所述閃存(212)的所述壽命模型。

4.根據權利要求1或2所述的方法(100、400)，其特征在于，所述獲取所述閃存(212)的所述健康數據包括：

從包括所述閃存(212)的設備和包括相同類型的一個或多個閃存驅動器(216B-216N)的一個或多個其它設備(214B-214N)，或從包括所述相同類型的一個或多個閃存驅動器(216B-216N)的所述一個或多個其它設備(214B-214N)收集所述閃存(212)的所述健康數據。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法(100、400)，其特征在于，所述更新所述壽命模型是通過貝葉斯推理進行的。

6.一種用于閃存耐用性管理的裝置(200)，其特征在于，包括：

健康監測器(202)，用于獲取閃存(212)的健康數據，所述健康數據包括每個內存塊的平均擦除周期量和寫入所述閃存(212)的數據總量；

寫入估計器(204)，用于基于所述閃存(212)的所述健康數據和運行時間，確定反映在一段時間內寫入所述閃存(212)的數據量的時間寫入估計；

模擬器(206)，用于基于所述健康數據更新所述閃存(212)的壽命模型；

耐用性估計器(208)，用于

基于更新的壽命模型確定所述閃存(212)的剩余壽命；

基于所述時間寫入估計和所述剩余壽命確定額外的寫入資源，所述額外的寫入資源是可以寫入所述閃存(212)而不影響其保修期的額外數據量。

7.根據權利要求6所述的裝置(200)，其特征在于，還包括定時器(210)，所述定時器(210)用于測量所述閃存(212)的所述運行時間。

8.根據權利要求6所述的裝置(200)，其特征在于，所述模擬器(206)用于通過貝葉斯推理更新所述壽命模型。

9.根據權利要求6至8中任一項所述的裝置(200)，其特征在于：

所述獲取所述閃存(212)的所述健康數據包括：從所述閃存(212)獲取所述閃存(212)的所述健康數據；

所述基于所述健康數據更新所述閃存(212)的所述壽命模型包括：基于所述健康數據確定磨損速度，并基于所述磨損速度更新所述閃存(212)的所述壽命模型。

10.根據權利要求6至8所述的裝置(200)，其特征在于，所述獲取所述閃存(212)的所述健康數據包括：

從所述閃存(212)和包括相同類型的閃存驅動器(216B-216N)的一個或多個外部設備(214B-214N)，或從包括所述相同類型的閃存驅動器(216B-216N)的所述一個或多個外部設備(214B-214N)收集所述閃存(212)的所述健康數據。