[發明專利]內部組件檢查要求的設計編碼在審
| 申請號: | 202180067069.4 | 申請日: | 2021-08-05 |
| 公開(公告)號: | CN116348825A | 公開(公告)日: | 2023-06-27 |
| 發明(設計)人: | 約瑟夫·魯柏納 | 申請(專利權)人: | 基托夫系統有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 以色列佩*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 內部 組件 檢查 要求 設計 編碼 | ||
由制成品的裝配樹定義的裝配級屬性被分析為觸發謂詞,以幫助識別(例如:選擇和/或準備)所述制成品的檢查要求。特別是層級關系,例如裝配識別、制造對一裝配的檢查的可見性/可訪問性的影響,以及使用裝配級語義來觸發檢查要求。所述識別的檢查要求是可選擇性開放的(語義的)或封閉的。在一些實施例中,識別的檢查要求被提供給一自動檢查計劃系統,所述自動檢查計劃系統被配置為生成一檢查計劃,所述計劃的動作滿足所述檢查要求。
本申請要求2020年8月5日依照美國專利法第119(e)條提交的美國臨時專利申請第63/061206號的優先權;其全部內容通過引用并入本文。
技術領域
本發明在一些實施例中涉及檢查領域,更特別地,但不限于,用于制造質量控制的自動化檢查。
背景技術
在許多行業,例如涉及制成品的行業,檢查此類產品以確保其無缺陷可能是有利的。此類檢查通常由人工進行(例如,由人工檢查員),這可能導致各種不準確和效率低下。
發明內容
根據本公開的一些實施例的一個方面,提供了一種定義用于一制成品的外觀檢查要求的方法,所述方法包括:訪問一個基于模型的定義(MBD),其中所述MBD包括所述制成品的一設計模型;基于所述MBD指定的組件之間的關系的自動分析,識別所述制成品的組件的檢查要求;以及對所述已識別的檢查要求進行編碼,以用于對所述制成品的外觀檢查的機器規劃。
根據本公開的一些實施例,所述MBD規定所述設計模型中指定的組件的層級關系,且所述識別檢查要求是基于對所述MBD指定的組件的特定層級關系進行識別的自動分析。
根據本公開的一些實施例,所述組件的層級關系對應于所述制成品的裝配之間的關系。
根據本公開的一些實施例,所述識別檢查要求是基于對所述MBD指定的組件的幾何關系進行識別的自動分析。
根據本公開的一些實施例,所述識別檢查要求是基于自動分析來識別所述MBD指定的組件屬性的一模式。
根據本公開的一些實施例,所述方法包括:生成滿足所述檢查要求的一個外觀檢查計劃;及對所述制成品的至少一個實例執行所述外觀檢查計劃。
根據本公開的一些實施例,所述檢查要求包括開放式檢查要求,所述開放式檢查要求規定對所述MBD指定的一個或多個組件進行檢查的一質量問題,所述開放式檢查要求不規定與所述質量問題相對應的特征或動作。
根據本公開的一些實施例,所述開放式要求是一種語意要求。
根據本公開的一些實施例,所述生成所述外觀檢查計劃包括將所述開放式檢查要求轉換為相應的封閉式檢查要求,所述封閉式檢查要求規定所述組件的特征和針對所述特征的測量動作。
根據本公開的一些實施例,所述轉換使用所述MBD。
根據本公開的一些實施例,所述生成所述外觀檢查計劃包括使用所述MBD規定的層級關系來確定執行滿足所述檢查要求的動作的一階段。
根據本公開的一些實施例,所述生成所述外觀檢查計劃包括使用所述MBD規定的幾何信息來確定執行滿足所述檢查要求的動作的一階段。
根據本公開的一些實施例,根據所述開放式檢查要求,自動化處理以確定從所述MBD中提取哪些信息用于轉換。
根據本公開的一些實施例,所述檢查要求只包括開放式檢查要求。
根據本公開的一些實施例,所述檢查要求包括封閉式檢查要求,所述封閉式檢查要求規定特征和在執行所述外觀檢查計劃時進行測量所述特征的測量動作。
根據本公開的一些實施例,所述編碼包括將檢查指定數據元素插入到所述MBD中。
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