[發明專利]平視顯示系統

在審

• 申請號: 202180061565.9
• 申請日: 2021-09-10
• 公開（公告）號: CN116096598A
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發明（設計）人: 廣瀨慎;宇都孝行;松尾雄二;吉田昌平;白石海由
• 申請（專利權）人: 東麗株式會社
• 主分類號: B60K35/00
• 分類號: B60K35/00
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 張志明;段承恩

1.一種平視顯示系統，具備影像投射器和樹脂薄膜，所述影像投射器投射影像，來自該影像投射器的影像被投射在所述樹脂薄膜上，

所述平視顯示系統的特征在于，

在構成來自該影像投射器的影像的光線中，相對于以所述樹脂薄膜為反射面時的入射面，p偏振光成分的強度為全部光線成分的強度的51％以上，

所述樹脂薄膜被配置為：由下述測定方法求出的a*的絕對值的最大值和b*的絕對值的最大值滿足下式(1)和(2)的入射面相對于水平面成為90±10°以內，

a*的絕對值的最大值≤30?(1)

b*的絕對值的最大值≤30?(2)

測定方法為：在日立制作所制分光光度計U-4100Spectrophotometer上安裝附屬的角度可變單元以及格蘭泰勒公司制偏振器，將相對于以樹脂薄膜為反射面時的入射面成為s偏振光的偏振光以入射角度40°、60°和80°照射，進而使透過該樹脂薄膜的光透過以所述s偏振光為吸收軸的偏振器，在各個入射角度下測定波長400～1600nm范圍的透射率，在此，狹縫在可見光的情況下設為2nm、在紅外光的情況下設為自動控制，增益設定為2，掃描速度設為600nm/分鐘，使用所得到的透射光譜、D65光源的光譜分布、以及XYZ系的等色函數，算出各入射角度下的a*的絕對值及其最大值和b*的絕對值及其最大值，

以光線到達薄膜的點為中心使所述樹脂薄膜旋轉而進行同樣的測定，能夠調查滿足上述式(1)和式(2)的入射面。

2.根據權利要求1所述的平視顯示系統，

在由所述測定方法求出的透射光譜中，將進行透射率測定時的入射角設為θ時，在以入射角θ測定的透射光譜中，將波長450nm～750nm范圍內的波長λnm的透射率設為T(θ，λ)，單位為％，將該范圍的透射率的平均值設為C(θ)，單位為％，將該范圍內滿足T(θ，λ)＝C(θ)的λ的數量設為N(θ)時，N(40)、N(60)、N(80)之中最小值為4以上。

3.根據權利要求2所述的平視顯示系統，

所述N(40)、N(60)、N(80)滿足N(40)≤N(60)≤N(80)的關系。

4.根據權利要求1～3中任一項所述的平視顯示系統，

關于所述樹脂薄膜，將分別以20°、40°和70°為入射角入射相對于以樹脂薄膜表面為反射面時的入射面成為p偏振光的光線時的反射率設為Rp20、Rp40、Rp70，單位為％時，滿足Rp20≤Rp40＜Rp70的關系。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的平視顯示系統，其特征在于，

關于所述樹脂薄膜，將相對于以樹脂薄膜表面為反射面時的入射面成為p偏振光的光線以入射角60°照射、并且以照射點為中心在0～90°范圍內使薄膜表面進行面內旋轉的情況下的平均反射率為10％以上。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的平視顯示系統，其特征在于，

關于所述樹脂薄膜，使相對于某一入射面成為p偏振光的光線垂直入射該樹脂薄膜時的波長450～650nm范圍內的平均反射率、以及使相對于該入射面成為s偏振光的光線垂直入射該樹脂薄膜時的波長450～650nm范圍內的平均反射率，均為80％以上。

7.根據權利要求1～6中任一項所述的平視顯示系統，

所述樹脂薄膜是以100℃處理250小時時的波長450～650nm的平均透射率的變化量為10％以下的薄膜。

8.根據權利要求1～7中任一項所述的平視顯示系統，

所述樹脂薄膜是以150℃處理2小時后的內部霧度為1％以下的薄膜。

9.根據權利要求1～8中任一項所述的平視顯示系統，

具有在所述樹脂薄膜的一面經由粘接層層疊玻璃板的結構(結構A)。

10.根據權利要求1～8中任一項所述的平視顯示系統，

具有在所述樹脂薄膜的兩面經由粘接層層疊玻璃板的結構(結構B)。