[發明專利]電池狀態原位監測方法及系統在審
| 申請號: | 202180051027.1 | 申請日: | 2021-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN116018706A | 公開(公告)日: | 2023-04-25 |
| 發明(設計)人: | 郭團;麥耀華;黃加強;盧錫洪;李凱偉;鐘海;讓馬里·塔拉斯孔 | 申請(專利權)人: | 暨南大學 |
| 主分類號: | H01M10/42 | 分類號: | H01M10/42 |
| 代理公司: | 深圳市精英專利事務所 44242 | 代理人: | 戴艷艷 |
| 地址: | 510000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電池 狀態 原位 監測 方法 系統 | ||
1.一種用于監測電化學設備狀態的方法,通過將光纖探針設置在電化學設備的內部,該方法包括:
(1)將輸入光導入到光纖探針中,并檢測從光纖探針傳輸的輸出光;和
(2)根據輸出光確定電化學設備的健康狀態(SoH)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(2)根據輸出光確定電化學設備的健康狀態(SoH)包括以下子步驟:
(i)根據輸出光獲得折射率;和
(ii)根據相對于電化學設備先前狀態的折射率變化來確定電化學設備的SoH。
3.根據權利要求2所述的方法,其中(i)根據輸出光獲得折射率包括以下子步驟:
(a)從輸出光中獲取一個包層模或一個表面等離子共振(SPR);和
(b)根據所述一個包層模或一個SPR計算折射率變化。
4.根據權利要求3所述的方法,其中子步驟(a)中從輸出光中獲取一個包層模或一個表面等離子共振(SPR),進一步還包括從輸出光中獲取纖芯模式,其中再子步驟(b)中,通過校正纖芯模式進一步計算折射率。
5.根據權利要求2-4中任一項中所述的方法,其中子步驟(ii)根據相對于電化學設備先前狀態的折射率變化來確定電化學設備的SoH還包括:
如果相對于電化學先前狀態,折射率改變了至少1%,則確定電化學設備不健康。
6.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(2)根據輸出光確定電化學設備的健康狀態(SoH)包括以下子步驟:
(i)從輸出光中獲取一個包層模式或一個表面等離子共振(SPR);和
(ii)根據相對于電化學設備的先前狀態的一個包層模式或一個SPR對應的波長漂移或振幅變化確定電化學設備的SoH。
7.根據權利要求6所述的方法,其中子步驟(ii)根據相對于電化學設備的先前狀態的一個包層模式或一個SPR對應的波長漂移或振幅變化確定電化學設備的SoH包括以下子步驟:
對時間、電壓、電流、阻抗或容量中的一種對應的一個包層模式或一個SPR求導數;和
根據所述導數確定電化學設備的SoH。
8.根據權利要求6所述的方法,其中子步驟(ii)根據相對于電化學設備的先前狀態的一個包層模式或一個SPR對應的波長漂移或振幅變化確定電化學設備的SoH包括:
如果相對于電化學設備的先前狀態,一個包層模式或一個SPR的振幅或波長改變了至少1%,則確定電化學設備不健康。
9.根據權利要求8所述的方法,所述光纖探針的至少一部分的檢測區域與電化學設備的電解質接觸,其中,步驟(a)中確定電化學設備不健康包括:
確定電解質不健康。
10.根據權利要求1所述的方法,其中步驟(2)根據輸出光確定電化學設備的健康狀態(SoH)包括以下子步驟:
(i)從輸出光獲取一個包層模式或一個表面等離子共振(SPR);
(ii)如果在一個包層模式或一個SPR中存在至少一個次級峰,則確定電化學設備不健康。
11.根據權利要求10所述的方法,所述光纖探針位于電化學設備的電極內部或附近,其中,步驟(ii)中確定電化學設備不健康包括:
確定電極不健康。
12.根據前述權利要求中任一項所述的方法,其特征在于,在步驟(1)將輸入光導入到光纖探針中,檢測從光纖探針傳輸的輸出光之后,還包括:
根據輸出光確定電化學設備的荷電狀態(SoC)。
13.根據權利要求12所述的方法,其中根據輸出光確定電化學設備的荷電狀態(SoC)包括以下子步驟:
(i)從輸出光獲取一個包層模或一個SPR;
(ii)根據所述一個包層模或一個SPR確定電化學設備的電荷狀態(SoC)。
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