[發明專利]導體連接構造以及具備該導體連接構造的探針

在審

• 申請號: 202180047100.8
• 申請日: 2021-06-23
• 公開（公告）號: CN115803969A
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 荒木圣人;劍崎真一;北市幸裕
• 申請（專利權）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: H01R4/02
• 分類號: H01R4/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王瑋

本發明提供高精度地測定被測定物的電特性的導體連接構造以及具備該導體連接構造的探針。一種從基端側(A)向末端側(B)延伸的探針(1)中的導體連接構造(8)，該探針供將中心導體(72)、電介質(74)及外部導體(76)同軸地配置的同軸電纜(70)連接，具有與同軸電纜的中心導體電連接的測定銷(20)，導體連接構造(8)具備：導電性的外部罩部件(10)，相對于外部導體具有間隙(16)地覆蓋外部導體；和導電性的外部連接部(61、67)，將外部導體相對于外部罩部件固定且電連接，外部連接部的探針的末端側的端部亦即外部連接端(62、88)相對于外部導體的探針的末端側的端部亦即外部導體端(77)齊平地配置，或者位于探針的末端側。

技術領域

本發明涉及導體連接構造以及具備該導體連接構造的探針。

背景技術

例如，專利文獻1公開了與同軸電纜的末端連接的檢查用同軸連接器。在專利文獻1的檢查用同軸連接器中，同軸電纜的中心導體及外部導體分別與同軸連接器用的插口電連接，并且經由同軸連接器用的插口與檢查用同軸連接器連接。

專利文獻1：日本特開2014-123482號公報

在專利文獻1中，雖然記載了同軸電纜與同軸連接器用的插口電連接，但沒有具體地公開電連接是怎樣的構造。

然而，當流過導體的信號成為微波或毫米波那樣的高頻帶時，由于集膚效應而電流密度集中于導體表面。在利用導電性的連接部件將導體和相對于導體具有間隙地覆蓋導體的導電性的罩部件連接的情況下，若連接部件的位置不適當，則由于電流路徑具有返回路徑而導致電流路徑變得復雜。若電流路徑變得復雜，則會產生不必要的共振，由此妨礙高精度地測定被測定物的電特性。

發明內容

因此，本發明要解決的技術課題在于提供一種高精度地測定被測定物的電特性的導體連接構造以及具備該導體連接構造的探針。

為了解決上述技術課題，根據本發明，提供以下的導體連接構造。

即，本發明所涉及的導體連接構造是從基端側向末端側延伸的探針中的導體連接構造，該探針供將中心導體、電介質以及外部導體同軸地配置的同軸電纜連接，并具有與上述同軸電纜的上述中心導體電連接的測定銷，上述導體連接構造的特征在于，具備：

導電性的外部罩部件，相對于上述外部導體具有間隙地覆蓋上述外部導體；和

導電性的外部連接部，將上述外部導體相對于上述外部罩部件固定且電連接，

上述外部連接部的作為上述探針的末端側的端部的外部連接端相對于上述外部導體的作為上述探針的末端側的端部的外部導體端齊平，或者位于上述探針的末端側。

根據本發明，電流路徑不具有返回路徑，由此能夠抑制不必要的共振，因此能夠高精度地測定被測定物的電特性。

附圖說明

圖1是本發明的第一實施方式所涉及的探針的立體圖。

圖2是圖1所示的探針的俯視圖。

圖3是圖2所示的探針的沿著III-III線的剖視圖。

圖4是圖1所示的探針的分解立體圖。

圖5是圖3所示的探針的主要部分放大剖視圖。

圖6是本發明的第二實施方式所涉及的探針的主要部分放大剖視圖。

圖7是本發明的第三實施方式所涉及的探針的主要部分放大剖視圖。

圖8是本發明的第四實施方式所涉及的探針的主要部分放大剖視圖。

圖9是本發明的第五實施方式所涉及的探針的主要部分放大剖視圖。

圖10是本發明的第六實施方式所涉及的探針的主要部分放大剖視圖。