[發明專利]貼合晶圓用支撐基板在審
| 申請號: | 202180039914.7 | 申請日: | 2021-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN115668449A | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發明(設計)人: | 澀谷正太;稗田大輔;石崎寬章 | 申請(專利權)人: | 勝高股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L27/12 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉茜璐;呂傳奇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 貼合 晶圓用 支撐 | ||
1. 一種貼合晶圓用支撐基板,其為用于將活性層用基板與支撐基板隔著絕緣膜貼合而成的貼合晶圓的支撐基板,具備:
支撐基板主體;及
多晶硅層,堆積在所述支撐基板主體的貼合面側,
所述多晶硅層的晶粒尺寸為0.419μm以下。
2.根據權利要求1所述的貼合晶圓用支撐基板,其中,
在經研磨的所述多晶硅層的10μm×10μm的面積區域中測定的均方根粗糙度Rq為0.364nm以下。
3.根據權利要求1或2所述的貼合晶圓用支撐基板,其中,
所述多晶硅層被研磨,表示從所述支撐基板的中心基準面到所述支撐基板的中點上的中心面的位移量的BOW-bf為+16μm以下。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的貼合晶圓用支撐基板,其中,
所述多晶硅層由如下多晶硅層組成:
第1多晶硅層,堆積在所述支撐基板主體的貼合面側;及
第2多晶硅層,堆積在所述第1多晶硅層上,
所述晶粒尺寸為所述第2多晶硅層的晶粒尺寸。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的貼合晶圓用支撐基板,其中,
所述支撐基板主體是單晶硅晶圓。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





