[發明專利]存儲器、存儲器的編程方法及編程驗證方法、存儲器系統在審
| 申請號: | 202180003091.2 | 申請日: | 2021-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN113892141A | 公開(公告)日: | 2022-01-04 |
| 發明(設計)人: | 郭曉江 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | G11C16/34 | 分類號: | G11C16/34 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 邵磊;張穎玲 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲器 編程 方法 驗證 系統 | ||
本公開實施例公開了一種存儲器、存儲器的編程方法及編程驗證方法、存儲器系統,所述編程驗證方法包括:獲取第i編程驗證操作的第i驗證結果;其中,所述第i編程驗證操作驗證的編程態范圍為第n態至第n+k態,i和n為正整數,k為自然數,且第n+k態小于或等于所述存儲器的最高編程態;根據所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果以及第n+k態的驗證子結果,確定第i+1編程驗證操作需要驗證的編程態范圍;根據確定的所述第i+1編程驗證操作需要驗證的編程態范圍,執行第i+1編程驗證操作。
技術領域
本公開實施例涉及但不限于半導體領域,尤其涉及一種存儲器、存儲器的編程方法及編程驗證方法、存儲器系統。
背景技術
快閃存儲器作為例如移動電話、數字相機等便攜式電子設備的存儲媒介而被廣泛使用。快閃存儲器通常使用允許高存儲器密度、高可靠性和低功耗的單晶體管存儲器單元。通過對電荷存儲結構(例如,浮柵或電荷阱)或其它物理現象(例如,相變或鐵電)進行編程,存儲器單元的閾值電壓的改變決定每個存儲器單元的數據狀態(例如,數據值)。
相關技術中,對存儲器施加編程脈沖以進行編程后,需要進行編程驗證操作,施加編程脈沖的次數以及進行編程驗證操作的次數,是決定編程時間的重要因素。因此,如何在保證編程質量的前提下,縮短編程時間,成為亟待解決的問題。
發明內容
本公開實施例提供一種存儲器、存儲器的編程方法及編程驗證方法、存儲器系統。
根據本公開實施例的第一方面,提供一種存儲器的編程驗證方法,包括:
獲取第i編程驗證操作的第i驗證結果;其中,所述第i編程驗證操作驗證的編程態范圍為第n態至第n+k態,i和n為正整數,k為自然數,且第n+k態小于或等于所述存儲器的最高編程態;
根據所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果以及第n+k態的驗證子結果,確定第i+1編程驗證操作需要驗證的編程態范圍;
根據確定的所述第i+1編程驗證操作需要驗證的編程態范圍,執行第i+1編程驗證操作。
在一些實施例中,所述根據所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果以及第n+k態的驗證子結果,確定第i+1編程驗證操作需要驗證的的編程態范圍,包括:
根據所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最低編程態;
根據所述第i驗證結果中第n+k態的驗證子結果,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最高編程態。
在一些實施例中,所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果包括:第n態的第i統計數據,用于統計對第n態進行編程的失敗比特數;
所述根據所述第i驗證結果中第n態的驗證子結果,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最低編程態,包括:
根據所述第n態的第i統計數據,確定對所述第n態進行編程的失敗比特數;
當對所述第n態進行編程的失敗比特數小于第一預設值時,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最低編程態為第n+1態;當對所述第n態進行編程的失敗比特數大于或等于所述第一預設值時,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的的最低編程態為第n態;
或者,
當對所述第n態進行編程的失敗比特數與目標態為所述第n態的比特數的比值小于第一預設比值時,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最低編程態為第n+1態;當對所述第n態進行編程的失敗比特數與目標態為所述第n態的比特數的比值大于或等于所述第一預設比值時,確定所述第i+1編程驗證操作需要驗證的最低編程態為第n態。
在一些實施例中,所述編程驗證方法還包括:
獲取待編程存儲單元的循環次數;
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