[發明專利]一種探測方法及裝置

有效

• 申請號: 202180002249.4
• 申請日: 2021-03-24
• 公開（公告）號: CN113508310B
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 王洪亮;王偉;張愛娟;余安亮;王曰孟;安凱;蘇日亮;杜秉乘
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 高金金

1.一種探測裝置，其特征在于，

包括掃描系統，所述掃描系統包括微反射鏡陣列，所述微反射鏡陣列包括M個微反射鏡；

所述探測裝置還包括P個收發模組，所述P個收發模組發送的光信號通過所述M個微反射鏡反射，和/或，所述P個收發模組接收經由所述M個微反射鏡反射的光信號，M為大于或等于2的整數，P為小于M的正整數；

其中，所述探測裝置還包括第二分光系統，所述第二分光系統用于將所述P個收發模組中的H個收發模組發出的H個光信號分為K個光信號，H為大于或等于1且小于或等于P的整數，K為大于或等于2且小于或等于M的整數。

2.根據權利要求1所述的探測裝置，其特征在于，所述探測裝置還包括N個擴束系統，所述P個收發模組發送的部分或全部光信號經由所述M個微反射鏡中的一個或多個微反射鏡到達所述N個擴束系統，和/或，所述P個收發模組接收經由所述N個擴束系統到達所述M個微反射鏡中的一個或多個微反射鏡，再由所述一個或多個微反射鏡反射的光信號，所述N個擴束系統用于改變探測范圍，N為小于或等于M的正整數。

3.根據權利要求2所述的探測裝置，其特征在于，所述N個擴束系統包括第一擴束系統，第一收發模組發送的光信號經由第一微反射鏡到達所述第一擴束系統，和/或，第一收發模組接收經由所述第一擴束系統到達第一微反射鏡，再由所述第一微反射鏡反射的光信號，所述第一收發模組是所述P個收發模組中的一個，所述第一微反射鏡是所述M個微反射鏡中的一個，且所述第一微反射鏡位于所述M個微反射鏡的中間位置。

4.根據權利要求1～3任一項所述的探測裝置，其特征在于，所述P個收發模組中的每個收發模組包括激光器、準直系統、第一分光系統、以及接收系統。

5.根據權利要求1～4任一項所述的探測裝置，其特征在于，所述M個微反射鏡中的至少一個微反射鏡為微機電系統MEMS反射鏡。

6.根據權利要求1～5任一項所述的探測裝置，其特征在于，所述P個收發模組中的一個收發模組為收發同軸結構，所述收發同軸結構用于指示所述一個收發模組發出的光信號和接收的光信號所經過的路徑相同。

7.一種探測方法，應用于探測裝置，其特征在于，所述探測裝置包括P個收發模組和微反射鏡陣列，所述微反射鏡陣列包括M個微反射鏡，M為大于或等于2的整數，P為小于M的正整數，所述方法包括：

所述P個收發模組發送至少一個光信號，

所述至少一個光信號通過所述M個微反射鏡反射；

所述P個收發模組接收經由所述M個微反射鏡反射的所述至少一個光信號的回波；

其中，所述探測裝置還包括第二分光系統，

所述方法還包括：所述第二分光系統將所述至少一個光信號中的H個光信號分為K個光信號，所述H個光信號來自所述P個收發模組中的H個收發模組，H為大于或等于1且小于或等于P的整數，K為大于或等于2且小于或等于M的整數；

所述至少一個光信號通過所述M個微反射鏡反射，包括：所述H個光信號通過所述K個微反射鏡反射，以及，所述至少一個光信號中的P-H個光信號通過所述M個微反射鏡中的M-K個微反射鏡反射。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述探測裝置還包括N個擴束系統；

所述方法還包括：所述至少一個光信號中的部分或全部光信號經由所述M個微反射鏡中的一個或多個微反射鏡反射后到達所述N個擴束系統，再通過所述N個擴束系統發射；

所述P個收發模組接收經由所述M個微反射鏡反射的所述至少一個光信號的回波，包括：所述P個收發模組接收經由所述N個擴束系統到達所述M個微反射鏡中的一個或多個微反射鏡，再由所述一個或多個微反射鏡反射的所述部分或全部光信號的回波。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述N個擴束系統調整焦距，以改變所述部分或全部光信號在空間中的掃描角度。