[實用新型]一種光束質量分析儀

有效

• 申請號: 202123017941.0
• 申請日: 2021-12-03
• 公開（公告）號: CN216621452U
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 肖志宏
• 申請（專利權）人: 日禺光學科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/02;G01M11/02
• 代理公司: 上海領匠知識產權代理有限公司 31404
• 代理人: 李華

本實用新型公開了一種光束質量分析儀，涉及光束質量分析領域,包括箱體，所述箱體的一側的上方設置有入光口，入光口的一側設置有衰減板，所述衰減板上設置有多組衰減盤，箱體在入光口的一側通過上棱鏡支桿和上棱鏡撐板設置有上棱鏡，箱體在上棱鏡的下方通過下棱鏡左撐桿和下棱鏡右撐桿設置有與上棱鏡正交的下棱鏡，箱體的底端通過感光板支架設置有感光板。本實用新型設置不同平面上的正交的兩組直角棱鏡，使棱鏡可以微調入射光線的角度，提高了檢測精度，節約了檢測成本，設置通過電機帶動可自動更換衰減板的衰減板轉盤，在入射光線過強可會對檢測探頭造成損傷的前提下可通過控制面板對衰減板進行更換，不必拆開裝置，提高了儀器的工作效率。

技術領域

本實用新型涉及光束質量分析領域，具體為一種光束質量分析儀。

背景技術

常用的光束質量的定義包括:遠場光斑半徑、遠場發散角、衍射極限倍數U、斯特列爾比、M2因子、靶面上的功率或環圍能量比等,光束質量分析儀是一種用于物理學領域的分析儀器。

現有的光束質量分析儀器對光束進行分析需要一個可精準移動的工作臺，通過工作臺的移動來使入射光線以直射角度照射在檢測探頭上，結構復雜、校準效率低、使用成本較高，對不同功率的入射光還需手動更換不同的衰減片，費時費力，工作效率低。

實用新型內容

基于此，本實用新型的目的是提供一種光束質量分析儀，以解決現有的光束質量分析儀結構復雜、校準效率低、使用成本較高，對不同功率的入射光還需手動更換不同的衰減片，費時費力，工作效率低的技術問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種光束質量分析儀,包括箱體，所述箱體的一側的上方設置有入光口，所述入光口的一側設置有入光口凹槽，所述入光口凹槽內安裝有感光環，所述入光口的一側設置有旋轉電機，所述旋轉電機通過衰減板支桿轉動連接有衰減板，所述衰減板上設置有多組衰減盤，所述衰減盤內開有通口，所述衰減盤朝向入光口一側的通口外部貼有反光片，所述箱體在入光口的一側通過上棱鏡支桿和上棱鏡撐板設置有上棱鏡，所述上棱鏡的一端連接有上齒盤，所述箱體在上齒盤的一側通過上伺服電機撐板設置有上伺服電機，所述上伺服電機的輸出端朝向上齒盤并與上齒盤的上齒盤槽內的齒相嚙合，所述箱體在上棱鏡的下方通過下棱鏡左撐桿和下棱鏡右撐桿設置有與上棱鏡正交的下棱鏡，所述下棱鏡的一端連接有下齒盤，所述箱體在下齒盤的一側通過下伺服電機撐板設置有下伺服電機，所述下伺服電機的輸出端朝向下齒盤并與下齒盤的下齒盤槽內的齒相嚙合，所述箱體的底端通過感光板支架設置有感光板，在所述感光板的后方設置有檢測探頭。

通過采用上述技術方案，設置不同平面上的正交的兩組直角棱鏡，通過伺服電機帶動齒盤轉動，以及感光面板的反饋，使棱鏡可以微調入射光線的角度，讓入射光線直射在檢測探頭上，提高了檢測精度，節約了檢測成本，設置通過電機帶動可自動更換衰減板的衰減板轉盤，在入射光線過強可會對檢測探頭造成損傷的前提下可通過控制面板對衰減板進行更換，不必拆開裝置，提高了儀器的工作效率。

本實用新型進一步設置為，所述箱體的外側設置有控制面板，所述箱體的底端連接有多組螺栓，所述螺栓的底端轉動連接有地腳。

通過采用上述技術方案，通過控制面板可便捷的操作儀器，通過控制地腳內的螺栓伸長量控制裝置處于水平狀態。

本實用新型進一步設置為，所述上棱鏡支桿的末端連接有兩組向上的上棱鏡右撐桿，所述上棱鏡右撐桿的頂端連接有上棱鏡右轉盤，所述上棱鏡右轉盤的中心朝向上棱鏡設置有上棱鏡轉軸，所述上棱鏡撐板通過上棱鏡左撐桿連接有上棱鏡左轉盤，所述上棱鏡左轉盤的中心朝向上棱鏡也設置有上棱鏡轉軸。

通過采用上述技術方案，上棱鏡左轉盤和上棱鏡右轉盤內皆設置有軸承，為上棱鏡的旋轉提供支撐。

本實用新型進一步設置為，所述下棱鏡左撐桿的頂端連接有下棱鏡左轉盤，所述下棱鏡左轉盤的中心朝向下棱鏡連接有下棱鏡轉軸，所述下棱鏡右撐桿頂端連接有下棱鏡右轉盤，所述下棱鏡右轉盤的中心朝向下棱鏡也設置有下棱鏡轉軸。