[實用新型]一種穆勒矩陣測量裝置有效
| 申請號: | 202122607215.8 | 申請日: | 2021-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN216622148U | 公開(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發明(設計)人: | 李泓毅;麥浩基;楊尚潘;劉碧旺;孫培韜;黃莊釩;黃鴻衡;吳南壽;曾亞光;鐘俊平;韓定安 | 申請(專利權)人: | 佛山科學技術學院;佛山市靈覺科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/21 | 分類號: | G01N21/21;G01N21/01 |
| 代理公司: | 廣州新諾專利商標事務所有限公司 44100 | 代理人: | 梁偉 |
| 地址: | 528225 廣東省佛山市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 穆勒 矩陣 測量 裝置 | ||
1.一種穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,包括:
用于產生多個不同偏振態的入射偏振光的光源;
第一分光器,設置在所述光源的出射光路上,用于將入射偏振光分成兩路入射偏振光;
第一檢偏器,設置在所述第一分光器的反射光路上,用于對所述第一分光器分出的一路入射偏振光進行實時檢偏以獲取入射偏振光的偏振態;
入射光路,設置在所述第一分光器的透射光路上,用于將所述第一分光器分出的一路入射偏振光投射在樣品上;
接收光路,設置在所述入射光路一側,且與所述入射光路之間形成夾角,用于接收樣品被照射后所散射的出射光;
第二檢偏器,設置在所述接收光路遠離樣品的一側,用于對所述接收光路接收的出射光進行實時檢偏以獲取出射光的偏振態;
其中,所述光源包括多個用于分別產生不同偏振態的入射偏振光的發光組件、與多個發光組件連接并用于控制多個發光組件開關的控制器以及設置在多個發光組件的出射光路上并將多個發光組件發出的入射偏振光投射到第一分光器上的投射組件。
2.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述發光組件包括與控制器連接的激光器和設置在激光器的出射光路上的第一偏振片。
3.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述投射組件包括多個依次設置的第二分光器,多個所述發光組件中的一個發光組件設置在投射組件一側,并設置在第二分光器的透射光路上,其余所述發光組件與多個第二分光器一一對應,并分別設置在對應的第二分光器的反射光路上。
4.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述發光組件的數量為六個。
5.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,還包括微流控芯片,所述微流控芯片內設有芯片入口通道、第一芯片出口通道和若干第二芯片出口通道,所述第一芯片出口通道與芯片入口通道之間連接有單細胞通道,所述單細胞通道設置在入射光路的出射光路上,若干所述第二芯片出口通道分別與芯片入口通道連接。
6.根據權利要求5所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述第二芯片出口通道的數量為兩個,所述第一芯片出口通道設置在兩個第二芯片出口通道之間。
7.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述入射光路包括用于將入射偏振光匯聚的第一凸透鏡。
8.根據權利要求1所述的穆勒矩陣測量裝置,其特征在于,所述接收光路包括依次設置的第二凸透鏡、光闌和第三凸透鏡。
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