[實用新型]一種芯片測試治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202122449266.2
• 申請日: 2021-10-11
• 公開（公告）號: CN216485358U
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉強兵;呂旭鋼
• 申請（專利權(quán)）人: 成都迅達(dá)光電有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市潤啟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44664
• 代理人: 孟麗娟

1.一種芯片測試治具，包括檢測治具主體(1)、檢測電路板(2)、針腳觀測端(6)、接觸通電板(9)，其特征在于：所述檢測治具主體(1)的定側(cè)面設(shè)置有用于檢測芯片是否能夠正常運作的檢測電路板(2)；

所述檢測電路板(2)的末端側(cè)面設(shè)置有用于連接檢測元件電路與芯片電路的接觸通電板(9)，所述接觸通電板(9)的上方設(shè)置有用于固定芯片位置的芯片固端(5)，所述芯片固端(5)的側(cè)面設(shè)置有用于觀察芯片針腳的針腳觀測端(6)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述接觸通電板(9)的上表面螺紋連接有外護(hù)殼(3)，所述接觸通電板(9)的一端設(shè)置有開關(guān)(4)，所述接觸通電板(9)的側(cè)面固定連接有插排槽(14)，所述插排槽(14)的內(nèi)側(cè)插合連接有插排觸片(10)，所述插排觸片(10)固定連接在所述檢測電路板(2)的一側(cè)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述接觸通電板(9)的側(cè)面開設(shè)有觀測鏡槽(8)，所述觀測鏡槽(8)的側(cè)面下方兩端固定連接有側(cè)固桿座(7)，所述側(cè)固桿座(7)的內(nèi)側(cè)固定連接有滑動桿(11)，所述滑動桿(11)的外側(cè)滑動連接有滑動塊(12)，所述滑動塊(12)的頂端固定連接有調(diào)焦鏡頭(13)，所述調(diào)焦鏡頭(13)與所述觀測鏡槽(8)相對滑動。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述接觸通電板(9)的上表面固定連接有兩處針腳連接面板(15)，所述針腳連接面板(15)的上方固定連接有針腳穿插板(19)，所述針腳穿插板(19)的表面開設(shè)有觀測縫隙(22)，所述觀測縫隙(22)與所述觀測鏡槽(8)構(gòu)成連通結(jié)構(gòu)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述芯片固端(5)包括旋鈕(16)、上固蓋(17)、下固座(18)，所述針腳穿插板(19)的頂端固定連接有下固座(18)，所述下固座(18)的側(cè)面鉸接有上固蓋(17)，所述上固蓋(17)的表面轉(zhuǎn)動連接有旋鈕(16)，所述下固座(18)的表面邊緣處固定連接有契合塊(20)，所述下固座(18)的內(nèi)側(cè)底面設(shè)置有針腳穿孔(21)，所述針腳穿孔(21)與所述觀測縫隙(22)所處的位置相對應(yīng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片測試治具，其特征在于：所述上固蓋(17)的內(nèi)部中間位置固定連接有翻轉(zhuǎn)環(huán)(25)，所述翻轉(zhuǎn)環(huán)(25)與所述旋鈕(16)固定連接，所述翻轉(zhuǎn)環(huán)(25)的側(cè)面固定連接有彈簧(24)，所述翻轉(zhuǎn)環(huán)(25)側(cè)邊兩處同線相對式固定連接有側(cè)擺桿(26)，且所述側(cè)擺桿(26)表面開設(shè)有腰槽，所述彈簧(24)的末端固定連接有擠壓彈性片(23)，所述上固蓋(17)的兩側(cè)面開設(shè)有滑動槽，且所述滑動槽內(nèi)側(cè)滑動連接有滑動塊桿(27)，所述滑動塊桿(27)向下延伸的圓桿通過所述腰槽與所述側(cè)擺桿(26)構(gòu)成活動連接，所述滑動塊桿(27)與契合塊(20)構(gòu)成卡合連接。