[實用新型]一種物理光學測試設備

有效

• 申請號: 202122177910.5
• 申請日: 2021-09-09
• 公開（公告）號: CN216144497U
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 李苗
• 申請（專利權）人: 普邦電子(昆山)有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海宏京知識產權代理事務所(普通合伙) 31297
• 代理人: 喬建

1.一種物理光學測試設備，包括底座（1）和擋板（2），所述擋板（2）通過螺釘固定于底座（1）右側，其特征在于：所述底座（1）內壁左側中部固定有螺桿（3），所述底座（1）內壁左側前后兩端均固定有滑桿（4），所述擋板（2）左側固定有三個固定環（5），三個所述固定環（5）分別與螺桿（3）和兩根所述滑桿（4）位置對應，所述固定環（5）左側開有柱形槽（6），所述柱形槽（6）內設有延伸出其左側的T型柱（7），所述螺桿（3）外壁螺紋連接有螺紋環（8），所述螺紋環（8）外壁轉動連接有U型塊一（9），所述滑桿（4）外壁套接有滑環（10），所述滑環（10）外壁焊接有U型塊二（11），所述U型塊一（9）和U型塊二（11）上方設有透鏡板（12），所述透鏡板（12）下方固定有安裝塊（13），所述底座（1）上方前后兩側均開有滑槽（14），所述透鏡板（12）底部固定有位于安裝塊（13）前后兩端的滑塊（15），所述滑塊（15）與滑槽（14）滑動連接，所述透鏡板（12）由下板（1201）和上板（1202）組成，所述上板（1202）設于下板（1201）上方，所述上板（1202）底部前后兩側均開有凹槽（16），所述凹槽（16）內設有與下板（1201）固定的限位桿（17），所述限位桿（17）與凹槽（16）槽底之間固定有彈簧（18），所述下板（1201）頂面前后兩側均嵌入設置有磁塊一（19），所述上板（1202）底面前后兩側均嵌入設置有磁塊二（20）。

2.根據權利要求1所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述T型柱（7）由左環（701）和右環（702）組成，所述右環（702）焊接于左環（701）右側，所述右環（702）外壁設有螺紋，所述柱形槽（6）內壁設有螺紋，所述右環（702）與柱形槽（6）螺紋連接。

3.根據權利要求2所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述左環（701）內壁設有螺紋，所述螺桿（3）和滑桿（4）外壁右端均設有螺紋，所述螺桿（3）和滑桿（4）均與左環（701）螺紋連接。

4.根據權利要求2所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述右環（702）的直徑大于左環（701）的直徑，所述右環（702）的直徑大于柱形槽（6）槽口的直徑。

5.根據權利要求1所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述上板（1202）和下板（1201）相對的一側中部均開有弧形槽，兩個所述弧形槽大小相等，且兩個所述弧形槽組成一個完整的圓。

6.根據權利要求1所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述安裝塊（13）設有三個，三個所述安裝塊（13）均勻橫向排布于透鏡板（12）下方，所述安裝塊（13）、U型塊一（9）和U型塊二（11）左側均貫通有螺栓孔，中部的所述安裝塊（13）與U型塊一（9）螺栓連接，前后兩側的所述安裝塊（13）與U型塊二（11）螺栓連接。

7.根據權利要求1所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述磁塊一（19）位于限位桿（17）外圍，所述磁塊二（20）位于凹槽（16）外圍，所述磁塊一（19）與磁塊二（20）相吸。

8.根據權利要求1所述的一種物理光學測試設備，其特征在于：所述底座（1）上端設有位于前端所述滑槽（14）前側的刻度。