[實(shí)用新型]一種檢測(cè)產(chǎn)品正反面裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202122135953.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-09-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN216386816U | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖治祥;朱濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州精瀨光電有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/01;G01N21/15 |
| 代理公司: | 江蘇坤象律師事務(wù)所 32393 | 代理人: | 趙新民 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 產(chǎn)品 正反面 裝置 | ||
本實(shí)用新型提供一種檢測(cè)產(chǎn)品正反面裝置,包括雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括工位轉(zhuǎn)盤、檢測(cè)件、翻轉(zhuǎn)模組和移料機(jī)構(gòu);所述檢測(cè)件、翻轉(zhuǎn)模組和移料機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述工位轉(zhuǎn)盤外側(cè)的四周,所述移料機(jī)構(gòu)將產(chǎn)品放置于所述工位轉(zhuǎn)盤上,產(chǎn)品隨所述工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)經(jīng)過所述檢測(cè)件和所述翻轉(zhuǎn)模組完成正反面檢測(cè)。實(shí)現(xiàn)利用單個(gè)相機(jī)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行正反面檢測(cè),將若干個(gè)工位設(shè)置于轉(zhuǎn)盤上,且每個(gè)工位上設(shè)置有至少兩個(gè)治具位,提高空間利用率,降低成本;同時(shí)通過對(duì)完成單次產(chǎn)品檢測(cè)轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)角度的設(shè)置,縮短完成單個(gè)產(chǎn)品正反面檢測(cè)所需的時(shí)間。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于光電檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測(cè)產(chǎn)品正反面裝置。
背景技術(shù)
在對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)時(shí),通常需要對(duì)產(chǎn)品的正面、反面分別進(jìn)行檢測(cè),例如:檢測(cè)其是否存在污損、臟污、混料、白點(diǎn)、傷痕、破損等瑕疵。現(xiàn)有技術(shù)中,通常是將兩個(gè)相機(jī)放置在輸送治具上,然后設(shè)置多個(gè)工位對(duì)輸送治具上的產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的正面、反面進(jìn)行檢測(cè),該種操作方式,效率受局限,所需相機(jī)組件較多,增加生產(chǎn)成本,同時(shí)還增加了設(shè)備的組裝空間。在現(xiàn)有技術(shù)中也存在利用單個(gè)相機(jī)對(duì)產(chǎn)品的正面、反面進(jìn)行檢測(cè),如專利文獻(xiàn)CN449585A中公開了一種產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)設(shè)備及產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)方法,其采用翻轉(zhuǎn)機(jī)械手夾住輸送治具將產(chǎn)品翻面,實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)產(chǎn)品的正面、反面進(jìn)行檢測(cè),該種操作方式下,若想實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的連續(xù)檢測(cè)只能增加若干個(gè)平行工位,效率受局限,難以進(jìn)一步提升。
因此,如何在不增加相機(jī)的個(gè)數(shù)的同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的正面、反面檢測(cè),還能提高待測(cè)產(chǎn)品的檢測(cè)效率成為了本領(lǐng)域當(dāng)前研究的熱點(diǎn)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的全部或部分不足,本實(shí)用新型的目的在于:提供一種檢測(cè)產(chǎn)品正反面裝置,通過設(shè)置雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu),雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括工位轉(zhuǎn)盤、檢測(cè)件、移料機(jī)構(gòu)和翻轉(zhuǎn)模組,將檢測(cè)件、移料機(jī)構(gòu)和翻轉(zhuǎn)模組設(shè)置于工位轉(zhuǎn)盤外側(cè)的四周,利用轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)和翻轉(zhuǎn)模組的作用實(shí)現(xiàn)利用單個(gè)相機(jī)對(duì)若干個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行正反面檢測(cè)。此外,本實(shí)用新型通過將若干個(gè)工位設(shè)置于轉(zhuǎn)盤上,且每個(gè)工位上還設(shè)置有至少兩個(gè)治具,實(shí)現(xiàn)提高空間利用率的同時(shí)降低成本,提高檢測(cè)效率;同時(shí),本實(shí)用新型下單個(gè)產(chǎn)品完成正反面檢測(cè)隨工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的角度大于360°,加之設(shè)置于工位上的治具可相對(duì)移動(dòng),減少了工位轉(zhuǎn)盤周圍裝置的等待時(shí)間,極大的縮短了完成產(chǎn)品正反面檢測(cè)所需的時(shí)間。
為實(shí)現(xiàn)上述實(shí)用新型目的,本實(shí)用新型提供以下技術(shù)方案:一種檢測(cè)產(chǎn)品正反面裝置,包括雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述雙面檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括工位轉(zhuǎn)盤、檢測(cè)件、翻轉(zhuǎn)模組和移料機(jī)構(gòu);所述檢測(cè)件、翻轉(zhuǎn)模組和移料機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述工位轉(zhuǎn)盤外側(cè)的四周,所述移料機(jī)構(gòu)將產(chǎn)品放置于所述工位轉(zhuǎn)盤上,產(chǎn)品隨所述工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)經(jīng)過所述檢測(cè)件和所述翻轉(zhuǎn)模組完成正反面檢測(cè)。該技術(shù)方案的有益效果在于,通過設(shè)置翻轉(zhuǎn)模組和工位轉(zhuǎn)盤可利用單個(gè)相機(jī)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行正、反面檢測(cè),提高檢測(cè)效率,且減少了相機(jī)元件的個(gè)數(shù),降低了成本。
所述工位轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有至少一個(gè)工位,每個(gè)工位上設(shè)置有至少兩個(gè)用于放置待檢測(cè)產(chǎn)品的治具位;所述治具位與設(shè)置于其所對(duì)應(yīng)工位底部的驅(qū)動(dòng)裝置連接,所述治具位可在驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)下相對(duì)移動(dòng)。該技術(shù)方案的有益效果在于,通過將多個(gè)工位設(shè)置于工位轉(zhuǎn)盤上可以提高設(shè)備的空間利用率,同時(shí)在每個(gè)工位上設(shè)置有至少兩個(gè)治具位且治具可相對(duì)移動(dòng)可實(shí)現(xiàn)多個(gè)產(chǎn)品的檢測(cè),進(jìn)一步提高了產(chǎn)品檢測(cè)效率。
當(dāng)完成對(duì)單個(gè)產(chǎn)品的正反面檢測(cè)時(shí),產(chǎn)品隨所述工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的角度大于360°該技術(shù)方案的有益特征在于,單個(gè)產(chǎn)品完成正反面檢測(cè)隨工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的角度大于360°,加之設(shè)置于工位上的治具可相對(duì)移動(dòng),減少了工位轉(zhuǎn)盤周圍裝置的等待時(shí)間,極大的縮短了完成產(chǎn)品正反面檢測(cè)所需的時(shí)間。
所述檢測(cè)件為單個(gè)檢測(cè)相機(jī),所述檢測(cè)相機(jī)固定于機(jī)架上。利用單個(gè)相機(jī)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的正反面檢測(cè),減少了相機(jī)元件的個(gè)數(shù),降低了成本。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州精瀨光電有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)蘇州精瀨光電有限公司;武漢精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202122135953.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:簡(jiǎn)裝工棚
- 下一篇:一種建筑房屋頂吻獸圖騰模具
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





