[實用新型]一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置

有效

• 申請號: 202121175183.2
• 申請日: 2021-05-28
• 公開（公告）號: CN215375502U
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: 潘鋒
• 申請（專利權）人: 河南省申福電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 鄭州博鰲縱橫知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 41165
• 代理人: 屈慧麗

本實用新型公開了一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置，包括萬用檢測儀、顯示屏、調節裝置、紅線、黑線、轉換開關、按鈕、紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆，所述顯示屏設于萬用檢測儀上，所述調節裝置設于萬用檢測儀上，所述紅線和黑線連接萬用檢測儀和轉換開關，所述按鈕可擰動設在轉換開關上，所述紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆分別與轉換開關電連接。本實用新型屬于MOS檢測技術領域，具體是指一種檢測速度快，檢測準確、避免接觸不良現象發生的用于MOS雙極芯片的電路測試裝置。

技術領域

本實用新型屬于MOS檢測技術領域，具體是指一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置。

背景技術

MOS管，是金屬-氧化物半導體場效應晶體管，簡稱金氧半場效晶體管，一般是金屬—氧化物—半導體場效應晶體管，或者稱是金屬—絕緣體—半導體，是電場效應控制電流大小的半導體器件，具有輸入阻抗高、噪聲低、熱穩定性好、制造工藝簡單等特點，在大規模和超大規模集成電路中被廣泛應用，MOS管在使用前需要檢測其各項使用參數值，以滿足使用的需求，在現實中檢測時，往往需要使用萬用表去檢測MOS管的各極名稱，但是在使用萬用表時，電筆與MOS管接觸為搭接接觸，需要固定好MOS管，以免與萬用筆接觸不好，影響檢測效果，在檢測時還會容易造成電筆與觸腳接觸時滑動而接觸到另外的極，影響檢測效果。

實用新型內容

為了解決上述難題，本實用新型提供了一種檢測速度快，檢測準確、避免接觸不良現象發生的用于MOS雙極芯片的電路測試裝置。

為了實現上述功能，本實用新型采取的技術方案如下：一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置，包括萬用檢測儀、顯示屏、調節裝置、紅線、黑線、轉換開關、按鈕、紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆，所述顯示屏設于萬用檢測儀上，所述調節裝置設于萬用檢測儀上，所述紅線和黑線連接萬用檢測儀和轉換開關，所述按鈕可擰動設在轉換開關上，所述紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆分別與轉換開關電連接；所述紅觸筆包括外殼、觸頭、圓環、活動罩和彈簧，所述觸頭設于外殼的內部，所述圓環設于觸頭的端部，所述活動罩包裹觸頭且可滑動設于外殼的內部，所述彈簧套接設于觸頭的外圈，所述彈簧的一端與活動罩相連接且另一端與外殼相連接。

進一步地，所述紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆的結構完全相同。

進一步地，所述萬用檢測儀的底部設有支腿，所述支腿為橡膠材質制成。

進一步地，所述萬用檢測儀的頂部設有提手。

進一步地，所述轉換開關上設有A/B/C/D/E五個方向，所述按鈕可在這五個方向上擰動。

進一步地，所述活動罩和外殼均為絕緣材料制成。

本實用新型采取上述結構取得有益效果如下：本實用新型提供的一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置通過設置轉換開關，可轉換紅線、黑線與紅觸筆、藍觸筆和黑觸筆之間的連通方式，方便檢測，通過設置圓環可使得圓環套接在MOS管的觸腳上，通過活動罩進行卡緊，防止脫落。

附圖說明

圖1為本實用新型一種用于MOS雙極芯片的電路測試裝置的整體結構圖。

其中，1、萬用檢測儀，2、顯示屏，3、調節裝置，4、紅線，5、黑線，6、轉換開關，7、按鈕，8、紅觸筆，9、藍觸筆，10、黑觸筆，11、外殼，12、觸頭，13、活動罩，14、圓環，15、彈簧，16、支腿，17、提手。

具體實施方式

下面將結合附圖對本實用新型的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。