[實用新型]一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩

有效

• 申請號: 202120703014.5
• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號: CN214545335U
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 李冬;李超;邱忠云;余浪;呂清剛;易亮
• 申請（專利權）人: 成都華芯天微科技有限公司
• 主分類號: H05K9/00
• 分類號: H05K9/00;H01Q1/12
• 代理公司: 成都華風專利事務所(普通合伙) 51223
• 代理人: 李曉

本實用新型公開了一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩，涉及相控陣天線高低溫試驗用設備技術領域，主要用于解決相控陣天線在進行高低溫試驗時會受到溫度試驗箱影響，導致測試數據出現誤差的問題。其主要結構為：包括測試罩主體，測試罩主體的一端設有錐形蓋，另一端設有天線安裝法蘭環，測試罩主體和錐形蓋內壁上皆設有吸波內襯，錐形蓋軸心處設有直波導和測試接頭。本實用新型提供的一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩，用該測試罩遮蓋相控陣列天線，能使相控陣天線不再受溫度試驗箱帶來的其它因素的影響，保證了溫度試驗測試數據的準確性。

技術領域

本實用新型涉及相控陣天線高低溫試驗用設備技術領域，尤其涉及一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩。

背景技術

相控陣天線根據其應用場景的不同，會出現應用在極端溫度下的情況，而高低溫工作試驗是目前檢驗相控陣天線溫度環境適應性的常用及有效的方法。

由于相控陣天線性能的特殊性——相控陣天線是用來接收和發射輻射電磁波的，且輻射電磁波存在無窮個波束。所以相控陣天線性能測試必須采用開環式測試方法。這就導致相控陣列天線容易受到測試環境的影響，對測試環境要求極為嚴苛，常溫狀態下都需要到專業的微波暗室進行測試。

然而，由于相控陣天線進行高低溫工作試驗測試時必須在溫度試驗箱內進行高溫、低溫度保持。因此，相控陣天線在測試時往往因為受到溫度試驗箱帶來的影響——如溫度試驗箱金屬內壁反射電磁波等，使測試數據出現誤差，給試驗結果帶來影響，進而導致不能真實的反映出相控陣天線在極端溫度特性下的性能的問題。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩，用該測試罩遮蓋相控陣列天線，能使相控陣天線不再受溫度試驗箱帶來的其它因素的影響，保證了溫度試驗測試數據的準確性。

本實用新型解決上述技術問題的技術方案是：一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩，包括圓筒形的測試罩主體，所述測試罩主體的一端設有與其同軸連接的錐形蓋，所述測試罩主體的另一端設有固定套接在其外壁上的天線安裝法蘭環，所述測試罩主體和錐形蓋的內壁上皆設有吸波內襯，所述錐形蓋軸心處的內壁上設有沿測試罩主體軸線方向設置的直波導，所述錐形蓋軸心處的外壁上設有用于連接直波導與測試儀器電纜的測試接頭。

作為本實用新型的更進一步改進，所述測試罩主體兩側外壁上皆設有把手，兩個所述把手相對設置。

作為本實用新型的更進一步改進，每個所述把手的兩端皆設有用于將其固定安裝在測試罩主體外壁上的把手固定孔。

作為本實用新型的更進一步改進，所述天線安裝法蘭環上設有多個圍繞其軸心設置且延伸貫穿測試罩主體的天線固定孔。

作為本實用新型的更進一步改進，所述吸波內襯內表面上設有多個均勻排布的尖劈形的吸波凸塊。

作為本實用新型的更進一步改進，所述吸波內襯與吸波凸塊為一體式結構。

作為本實用新型的更進一步改進，所述錐形蓋軸心處設有用于安裝直波導和測試接頭的波導安裝部。

作為本實用新型的更進一步改進，所述測試接頭一端設有波導連接部，另一端側壁上設有電纜連接部。

作為本實用新型的更進一步改進，所述直波導靠近測試罩主體一端為喇叭形。

作為本實用新型的更進一步改進，所述測試罩主體為鋁制的圓筒形殼體，所述錐形蓋為鋁制的錐形殼體。

有益效果

與現有技術相比，本實用新型的一種用于相控陣天線高低溫試驗的微波屏蔽測試罩的優點為：