[實用新型]小型雙極化寬帶EMI測試天線有效

申請號：	202120473582.0	申請日：	2021-03-04
公開（公告）號：	CN214542546U	公開（公告）日：	2021-10-29
發明（設計）人：	楊繼深;高長春	申請（專利權）人：	東展科博(北京)技術有限公司
主分類號：	H01Q21/00	分類號：	H01Q21/00;H01Q21/24;H01Q21/30;H01Q1/12;H01Q1/42
代理公司：	北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471	代理人：	張雄
地址：	100043 北京市石景***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	小型極化寬帶 emi 測試天線
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【說明書】：

本申請公開了一種小型雙極化寬帶EMI測試天線，包括有天線主體，所述天線主體包括有桿天線、水平極化雙錐天線和垂直極化雙錐天線，所述水平極化雙錐天線和所述垂直極化雙錐天線均設置在所述桿天線上，且所述天線主體的尺寸小于300mm*500mm*200mm。如此設置，將桿天線、水平極化雙錐天線和垂直極化雙錐天線組合起來，構成一個天線組，以覆蓋整個試驗的頻段，方便試驗，并且達到了雙極化和寬頻帶的目的，使用該小型雙極化寬帶EMI測試天線，提高了整改效率，節省了試驗費用，解決了在常規的EMI試驗中天線的尺寸較大不能滿足小型化EMI試驗平臺的要求的問題。

技術領域

本申請涉及EMI試驗技術領域，更具體地說，涉及一種小型雙極化寬帶EMI測試天線。

背景技術

EMI試驗是電子產品電磁兼容中最基本的項目。在一個產品的過程中，往往伴隨著整改，需要頻繁地對整改效果進行驗證。為了提高整改效率，節省試驗費用，需要在一個較小的屏蔽柜內進行EMI試驗，而常規的EMI試驗，占用空間較大，并且在試驗過程中，需要調整天線的極化方向，而由于天線的尺寸較大而不能滿足小型化EMI試驗平臺的要求。

因此，如何解決在常規的EMI試驗中天線的尺寸較大不能滿足小型化EMI試驗平臺的要求的問題，是本領域技術人員所要解決的關鍵技術問題。

實用新型內容

為至少在一定程度上克服相關技術中存在的問題，本申請的目的在于提供一種小型雙極化寬帶EMI測試天線，其能夠解決在常規的EMI試驗中天線的尺寸較大不能滿足小型化EMI試驗平臺的要求的問題。

本申請提供了一種小型雙極化寬帶EMI測試天線，包括有天線主體，所述天線主體包括有桿天線、水平極化雙錐天線和垂直極化雙錐天線，所述水平極化雙錐天線和所述垂直極化雙錐天線均設置在所述桿天線上，且所述天線主體的尺寸小于300mm*500mm*200mm。

優選地，所述天線主體還包括有與所述桿天線電連接的第一低噪聲放大器、與所述水平極化雙錐天線電連接的第二低噪聲放大器和與所述垂直極化雙錐天線電連接的第三低噪聲放大器。

優選地，所述天線主體還包括有用于固定所述桿天線的支架、用于固定所述水平極化雙錐天線的第一外殼和用于固定所述垂直極化雙錐天線的第二外殼，所述第一外殼和所述第二外殼均安裝在所述支架上。

優選地，所述桿天線設置在所述支架內，所述水平極化雙錐天線設置在所述第一外殼內，所述垂直極化雙錐天線設置在所述第二外殼內。

優選地，所述第一外殼位于所述第二外殼的上方。

優選地，所述支架包括有底座和固定連接在所述底座上的兩個支腳，所述第一外殼和所述第二外殼安裝在所述兩個支腳上。

優選地，所述第一外殼和所述第二外殼均通過螺栓安裝在所述支架上。

優選地，所述第一低噪聲放大器、所述第二低噪聲放大器和所述第三低噪聲放大器均通過線纜與控制電路板電連接。

優選地，所述支腳的底端與所述底座通過螺栓固定連接。