[實用新型]一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡

有效

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• 申請日: 2021-02-07
• 公開（公告）號: CN214623008U
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發(fā)明（設計）人: 楊琦;張連鵬;李鵬
• 申請（專利權）人: 吉林瑞能半導體有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R1/20
• 代理公司: 吉林新發(fā)惠利知識產權代理事務所(普通合伙) 22216
• 代理人: 紀尚

本實用新型公開了一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡，包括絕緣電路板、一定數(shù)量的電阻，所述絕緣電路板外型為方形，其正面的邊框與背面均做沉金處理，所述一定數(shù)量的電阻通過金屬線相互串聯(lián)，相互串聯(lián)的所述電阻的首端通過金屬線連接有一個方形的測試極一，其尾端通過金屬線與絕緣電路板的邊框相連，所述絕緣電路板的正面，位于測試極一的下方還設有一個方形的測試極二，所述測試極二通過金屬線與絕緣電路板的邊框相連，所述金屬線、測試極一、測試極二均為通過沉金處理固定于絕緣電路板正面的金屬，本實用新型不僅使晶體管特性圖示儀的校準過程方便快捷易操作，能夠節(jié)省時間，也能夠節(jié)約委外校準的費用。

技術領域

本實用新型屬于測試卡技術領域，具體地涉及一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡。

背景技術

晶體管特性圖示儀，采用陰極射線示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并能測量其靜態(tài)參數(shù)，為了達到精確測量的目的，晶體管特性圖示儀每間隔一段時間，就需要進行校準，目前，公知的校準晶體管特性圖示儀的方法，是通過委托第三方校準機構使用專業(yè)儀表對晶體管特性圖示儀進行連接，比對儀表與晶體管特性圖示儀的電壓和電流讀數(shù)進行校準。

但是，很多晶體管特性圖示儀是固定式的，且在生產過程中使用率高，由于生產過程中每天都會使用其對晶圓的參數(shù)進行測量，無法滿足委托第三方校準機構的方法進行校準，如果請校準機構的工程師上門校準，時間周期長，用工成本高。

實用新型內容

為克服上述現(xiàn)有技術的不足，本實用新型提供了一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡，可以通過內部校準的方式替代以前的委外校準方式，這種測試卡小巧、方便進出攜帶和使用。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡，包括絕緣電路板、一定數(shù)量的電阻，所述絕緣電路板外型為方形，其正面的邊框與背面均做沉金處理，所述一定數(shù)量的電阻通過金屬線相互串聯(lián)，相互串聯(lián)的所述電阻的首端通過金屬線連接有一個方形的測試極一，其尾端通過金屬線與絕緣電路板的邊框相連，所述絕緣電路板的正面，位于測試極一的下方還設有一個方形的測試極二，所述測試極二通過金屬線與絕緣電路板的邊框相連，所述金屬線、測試極一、測試極二均為通過沉金處理固定于絕緣電路板正面的金屬。

優(yōu)選地，所述一定數(shù)量的電阻的總阻值為500KΩ、3MΩ或者6MΩ。

本實用新型的有益效果為：

本實用新型提供的電阻測試卡，外型小巧、方便進出攜帶和使用，完全替代以往的外委校準測試晶體管特性圖示儀的方式，這種測試卡通過連接測試卡兩極，即可對晶體管特性圖示儀的圖像進行校準，不僅使校準過程方便快捷易操作，能夠節(jié)省時間，也能夠節(jié)約委外校準的費用。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為實施例2的結構示意圖；

圖3為實施例3的結構示意圖；

圖中所示附圖標記為：1-絕緣電路板、2-邊框、3-測試極一、4-電阻、5-金屬線、6-測試極二。

具體實施方式

以下結合附圖對本設計方案進行詳細說明。

如圖1所示，一種用于校準晶體管特性圖示儀的電阻測試卡，包括絕緣電路板1、一定數(shù)量的電阻4，其中絕緣電路板1外型為方形，其正面的邊框2與背面均做沉金處理，一定數(shù)量的電阻4通過金屬線5相互串聯(lián)，相互串聯(lián)的電阻4的首端通過金屬線5連接有一個方形的測試極一3，其尾端通過金屬線5與絕緣電路板1的邊框2相連，絕緣電路板1的正面，位于測試極一3的下方還設有一個方形的測試極二6，測試極二6通過金屬線5與絕緣電路板1的邊框2相連，金屬線5、測試極一3、測試極二6均為通過沉金處理固定于絕緣電路板1正面的金屬。