[實用新型]相控陣平面天線近場測試設備

有效

• 申請號: 202120223501.1
• 申請日: 2021-01-26
• 公開（公告）號: CN214227127U
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 包曉軍;李琳;劉遠曦;劉會濤;黃玉寧;巨韜
• 申請（專利權）人: 廣東納睿雷達科技股份有限公司
• 主分類號: H01Q1/12
• 分類號: H01Q1/12
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 張志輝

本實用新型公開了一種相控陣平面天線近場測試設備，包括支撐框架、平面移動機構、攝像組件、定位連接件和伺服單元，支撐框架的平面形狀適配于平面天線，平面移動機構設置在支撐框架上，攝像組件安裝在平面移動機構上，并用于獲取設置在平面天線上的平面標識，至少三個定位連接件均位于支撐框架的下方，并能夠與平面天線可拆卸連接，伺服單元連接有拐臂組件，并通過拐臂組件與對應的定位連接件連接，伺服單元用于調整平面天線的水平度。平面移動機構驅動攝像組件在水平面內移動，并通過攝像組件獲取平面天線上的平面標識，從而檢測平面天線的水平度，并通過伺服單元和拐臂組件調整平面天線的水平度，有利于提高平面天線對位的自動化程度。

技術領域

本實用新型涉及雷達技術領域，特別涉及一種相控陣平面天線近場測試設備。

背景技術

相控陣平面天線近場測試通常是在微波暗室中，通過在豎立安裝的XY軸移動平臺的作動末端安裝采樣天線，對天線的平面給定位置信號進行測量。為實現精確的位置測量，天線的基座需要與移動平臺進行精確的對位。在陣列天線的生產過程中，微波暗室的測試時間是寶貴的，為了提高對位的精度，并降低人工操作對位所消耗的時間，對位自動化變得必須。而且現有的微波暗室內平面移動平臺所占用平面空間往往是天線面積的數倍，測試場地建設成本高。

實用新型內容

本實用新型旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本實用新型提出一種相控陣平面天線近場測試設備，能夠提高對位的自動化程度。

根據本實用新型實施例的相控陣平面天線近場測試設備，應用于平面天線檢測，包括：支撐框架，平面形狀適配于所述平面天線；平面移動機構，設置在所述支撐框架上；攝像組件，安裝在所述平面移動機構上，并用于獲取設置在所述平面天線上的平面標識；至少三個定位連接件，位于所述支撐框架的下方，并能夠與所述平面天線可拆卸連接；伺服單元，數量適配于所述定位連接件，且均安裝在所述支撐框架上，所述伺服單元連接有拐臂組件，并通過所述拐臂組件與對應的所述定位連接件連接，所述伺服單元用于調整所述平面天線的水平度。

根據本實用新型實施例的相控陣平面天線近場測試設備，至少具有如下有益效果：在進行近場測試時，通過定位連接件實現平面天線的快速定位和連接，平面移動機構驅動攝像組件在水平面內移動，并通過攝像組件獲取平面天線上的平面標識，從而檢測平面天線的水平度，并通過伺服單元和拐臂組件調整平面天線的水平度，有利于提高平面天線對位的自動化程度。

根據本實用新型的一些實施例，所述支撐框架為矩形框架。

根據本實用新型的一些實施例，所述支撐框架包括第一平面導軌、第二平面導軌、第一連接件和第二連接件，所述第一平面導軌和所述第二平面導軌相互平行，所述第一連接件和所述第二連接件分別連接于所述第一平面導軌和所述第二平面導軌的兩端。

根據本實用新型的一些實施例，所述平面移動機構包括第三平面導軌、第一驅動機構、安裝座和第二驅動機構，所述第三平面導軌跨設并滑動連接于所述第一平面導軌和所述第二平面導軌，所述第一驅動機構安裝在所述第三平面導軌上，并用于驅動所述第三平面導軌沿所述第一平面導軌移動，所述安裝座安裝在所述第三平面導軌上，所述第二驅動機構和所述攝像組件均安裝在所述安裝座上，所述第二驅動機構用于驅動所述安裝座沿所述第三平面導軌移動。

根據本實用新型的一些實施例，所述伺服單元的數量為4個，4個所述伺服單元分別設置在所述支撐框架的邊角處。

根據本實用新型的一些實施例，每個所述伺服單元包括第一電機和第二電機，所述第一電機和所述第二電機分別位于所述支撐框架相鄰的兩邊上。

根據本實用新型的一些實施例，所述第一電機和所述第二電機鏡像對稱設置在所述支撐框架相鄰的兩邊上。

根據本實用新型的一些實施例，第一電機和所述第二電機的輸出軸的轉動角度為-45°至+45°。