[實用新型]一種非接觸式位置檢測裝置

有效

• 申請號: 202120133501.2
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號: CN214040062U
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 刁懷慶;薛山;馮超
• 申請（專利權）人: 天津中科華譽科技有限公司
• 主分類號: G01C21/00
• 分類號: G01C21/00;F16H19/06
• 代理公司: 北京頭頭知識產權代理有限公司 11729
• 代理人: 白芳仿;劉鋒

1.一種非接觸式位置檢測裝置，包括磁體組件和用于檢測磁場變化并計算所述磁體組件旋轉角度的檢測組件，其特征在于：所述磁體組件包括可繞中心旋轉的底座及固定設置在所述底座上表面的至少一個磁體組，每個所述磁體組包括兩個相對于所述底座的中心位置對稱的磁體(1)，同組的兩個所述磁體(1)在豎直方向上磁極相反設置。

2.根據權利要求1所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述磁體組件還包括與所述底座固定連接的固定附件(3)，所述磁體(1)嵌入所述固定附件(3)內。

3.根據權利要求2所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述底座為磁屏蔽底座(2)。

4.根據權利要求3所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述檢測組件扣設于所述磁體組件的上方，所述檢測組件包括磁屏蔽罩(4)以及設置于所述磁屏蔽罩(4)內的檢測芯片(5)，所述檢測芯片(5)位于所述底座的中心位置上方且高于所述磁體(1)的頂部，所述檢測芯片(5)與所述底座同軸。

5.根據權利要求4所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述檢測芯片(5)設置于檢測電路板(6)上，所述檢測電路板(6)水平安裝于固定支架(7)上，所述固定支架(7)與所述磁屏蔽罩(4)固定連接。

6.根據權利要求1-5任一所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述磁體(1)為矩形磁體。

7.根據權利要求6所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述底座的上表面固定設置有一個所述磁體組。

8.根據權利要求7所述的非接觸式位置檢測裝置，其特征在于：所述底座為圓形底座。