[發明專利]一種低功耗高瞬態LDO電路有效
| 申請號: | 202111678635.3 | 申請日: | 2021-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN114138044B | 公開(公告)日: | 2023-04-25 |
| 發明(設計)人: | 劉素娟;劉堃;解堯明 | 申請(專利權)人: | 北京工業大學 |
| 主分類號: | G05F1/56 | 分類號: | G05F1/56 |
| 代理公司: | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100124 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 功耗 瞬態 ldo 電路 | ||
1.一種低功耗高瞬態LDO電路,其特征在于:低功耗高瞬態LDO系統輸入電源信號VDD和GND、輸入基準電壓Vref,輸出信號VOUT;
Mi1、Mi2、Mi6、Mi9、Mi10、Mi13、Mi14、Mi17、Mi18、Mi19、Mi23、Mi24、M1、M2、M6、M7、M8、M9、M13、M15、M16、MP為PMOS晶體管;Mi3、Mi4、Mi5、Mi7、Mi8、Mi11、Mi12、Mi15、Mi16、Mi20、Mi21、Mi22、Mi25、Mi26、M3、M4、M5、M10、M11、M12、M14、M17、M18、MD為NMOS晶體管;其中Mi1、Mi2、Mi6、Mi9、Mi17、Mi18、Mi19、Mi23、M1、M2、M6、M7、M13、M15的源級與VDD相連,MP的漏極與VDD相連;Mi4、Mi5、Mi8、Mi12、Mi16、Mi20、Mi22、Mi26、M5、M10、M11、M12、M14、M18、MD的源級與GND相連;所有PMOS晶體管的襯底均接VDD,所有NMOS晶體管的襯底均接GND;
Mi1的漏極與柵極短接并與Mi2的柵極、Mi6的柵極和Mi3的漏極相連;Mi14的柵漏短接并與Mi2的漏極和Mi3的柵極相連;Mi5的柵漏短接與Mi3的源級相連;M7與Mi8均柵漏短接,Mi7的柵極與Mi6的源級、Mi11的柵極相連,Mi8的柵極與Mi7的源級、Mi12的柵極、Mi16的柵極相連;Mi9與Mi10為柵漏短接的形式,Mi9的柵極與Mi10的源級、Mi13的柵極相連,Mi10的柵極與Mi11的漏極和Mi14的柵極相連,Mi11的源級與Mi12的漏極相連;檢測電容C1和C2的一端接VOUT,即LDO的輸出端,以檢測輸出電壓的欠壓和過沖;C1的另一端接Mi13的漏極、Mi14的源級和Mi17的柵極,C2的另一端接Ni16的漏極、Ni15的源級和Ni20的柵極;Ni14的漏極和Ni15的漏極相連;Mi19的柵漏短接并與Mi20的漏極、Mi18的柵極相連;Ni17的漏極、Mi18的漏極、Mi21的漏極、Ni25的柵極相連形成biasn1;Mi21與Mi22的柵漏短接,Mi21的源級、Mi22的漏極和Mi26的柵極相連形成biasn;Mi25的源級和Ni26的漏極相連;Mi24、Ni23采用柵漏短接的結構,Mi24的柵極形成biasp1并與Ni25的漏極相連,Mi23的柵極形成biasp并與Mi24的源級相連;
M1、M10、M6、M12柵漏短接;M1的柵極與M2的柵極相連,M10與M11柵極相連;M3的漏極與M1的漏極相連,M4的漏極與M2的漏極相連,M10的漏極與M8的漏極相連,M11的漏極與M9的漏極相連;M3和M8的柵極接VOUT,M4和M9的柵極接Vref;M5的柵極接bisan,M5的漏極與M3、M4的源級相連;M7的柵極接biasp,M7的漏極與M8、M9的源級相連;M6的柵極和漏極短接,與M2的漏極、M4的漏極、M13的柵極相連,形成Rp;M12的柵極和漏極短接,與M11的漏極、M9的漏極、M14的柵極相連,形成Rn;M13的漏極、M14的漏極、M16的漏極、M17的漏極與MP的柵極相連;M15的柵極接biasp、M16的柵極接biasp1;M17的柵極接biasn1,M18的柵極接biasn;M15的漏極與M16的源級相連,M17的源級與M18的漏極相連;MD的柵極接Rn,MP的源級與MD的漏極相連,形成VOUT。
2.根據權利要求1所述的電路,其特征在于:Mi1至Mi5作為亞閾值偏置部分為整個LDO提供最基本的電流偏置,在輸出負載無變化時保障整體電路工作在亞閾值狀態;Mi17和Mi20的柵極通過檢測電容感知VOUT的變化,變化時提供補償電流;VGSX為MX晶體管的柵源電壓,μ為載流子遷移率,COX為晶體管單位面積的柵電容,VTH為MOS晶體管的閾值電壓,IDX為MX晶體管的漏極電流,為晶體管MX的寬長比;
(1)亞閾值偏置電路
偏置電路的最左端Mi1至Mi5構成亞閾值偏置,其中Mi14的寬長比是Mi13和Mi15的K倍,K為32倍,流過Mi14是和Mi15的漏源電流分別為IDi4和IDi5;且Mi13和Mi15分別工作在截至區與亞閾值區附近;
VGSi4=VGSi3+VGSi5??????????????(I
IDi5=IDi4=IOUT??????????????(2)
其中,IDi4和IDi5均由亞閾值工作區的電流方程(3)確定;
式(3)中e為自然常數;ξ為亞閾值斜率因子,大于1小于3;ID0由測量得到;VT為工作在亞閾值時晶體管的閾值電壓;輸出的亞閾值電流IOUT用上面三式方程聯合確定;
(2)補償電流
當VOUT突然變化時,變化的VOUT經檢測電容會產生高頻電流流入,電流的大小為檢測電容與電壓對時間微分的乘積;
C為檢測電容C1和C2的電容值;如VOUT過沖時,檢測電容處產生電流,流經Mi14的電流增加,流經Mi15的電流減小;ΔVGSi20為UOUT的突變時,Mi20的柵源電壓變化量,ΔIi20為產生的補償電流;
CGSi20為Mi20柵極的寄生電容;Ii20為系統靜態時的亞閾值電流;當VOUT不再變化時,Mi17和Mi20的柵壓將被緩慢復位至靜態工作點,若輸出變化頻率較高,在柵極電壓未完全復位時VOUT再次出現變化,加強LDO的瞬態性能,實現對不同負載的自適應調整;檢測電容的電容值C越大,Mi20的寬長比越大,則產生的補償電流越大,代表LDO系統的帶寬和功率管柵極充放電電流越大,系統的瞬態響應越好;
(3)瞬態分析
首先對于欠壓考慮,欠壓的最大偏移Vdip和系統的調整時間Δtdip由式(7)和式(8)決定,其中CP為功率調整管的柵極電容,ΔIOUT為負載電流的變化量,ΔVP為所需調整柵壓電壓的變化量,ISR+為充電電流,ISR-為放電電流,BW為系統的閉環帶寬,CL為負載電容;
與之相對的系統過沖時最大偏移Vpeak和調整時間Δtpeak如下:
考慮到各級的輸入輸出阻抗,將開環的傳遞函數寫成如下的表達式(11);gmX為MX晶體管的跨導,CgdX為MX晶體管柵極和漏極之間的寄生電容,CgsX為MX晶體管柵極和源極之間的寄生電容,R為負載阻抗,roX為晶體管MX的小信號輸出電阻,CL為負載電容,CE為M1和M2晶體管柵極的對地電容;VIN-為將環路斷開后的電壓負反饋的輸入信號;s為拉普拉斯變換后的復頻率參變量;
在第一級的小信號中,通過對M1和M2引入為3:4的失配去提升VOUT1的電壓,即M1和M2的寬長比之比為3:4,使得第二級運放靜態時工作在亞閾值區,最大程度的減小功耗;在第一級的輸出節點采用了動態極點補償,即通過二極管形式連接的M6,隨著輸出電流的變化動態降低此級的輸出電阻,進行動態的頻率補償。
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