[發明專利]器件壽命檢測設備

在審

• 申請號: 202111661318.0
• 申請日: 2021-12-31
• 公開（公告）號: CN114487653A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 杜曉光
• 申請（專利權）人: 深圳市聯洲國際技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 黃德海

1.一種器件壽命檢測設備，其特征在于，包括：

檢測模塊，用于對多個待檢測器件進行實時檢測，獲取檢測結果；所述檢測結果包括每個所述待檢測器件的多個工作參數；

主控芯片，用于接收所述檢測模塊發送的所述檢測結果，并基于所述檢測結果對每個所述待檢測器件的壽命進行分析，確定每個所述待檢測器件的剩余壽命；

備份切換控制模塊，所述備份切換控制模塊設置在所述主控芯片的內部，所述備份切換控制模塊基于所述剩余壽命確定所述待檢測器件的備份器件的啟閉。

2.根據權利要求1所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述檢測模塊包括電壓檢測單元；

所述電壓檢測單元與所述主控芯片連接，所述電壓檢測單元用于對多個所述待檢測器件的電壓進行檢測，獲取每個所述待檢測器件的電壓檢測結果，并將所述檢測結果發送至所述主控芯片。

3.根據權利要求2所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述檢測模塊還包括電流檢測單元；

所述電流檢測單元與所述主控芯片連接，所述電流檢測單元用于對多個所述待檢測器件的電流進行檢測，獲取每個所述待檢測器件的電流檢測結果，并將所述電流檢測結果發送至所述主控芯片。

4.根據權利要求3所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述電壓檢測單元以及電流檢測單元設有第一檢測電路；

所述第一檢測電路包括電阻以及第一運算放大器；

所述待檢測器件與所述電阻的第一端以及所述第一運算放大器第一同相輸入端連接；

所述電阻的第一端與所述第一同相輸入端連接，所述電阻的第二端與所述第一運算放大器的第二同相輸入端連接；

所述第一運算放大器的反相輸出端與所述主控芯片連接。

5.根據權利要求1所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述檢測模塊還包括溫度檢測單元；

所述溫度檢測單元與所述主控芯片連接，所述溫度檢測單元用于對多個所述待檢測器件的溫度進行檢測，獲取每個所述待檢測器件的溫度檢測結果，并將所述溫度檢測結果發送至所述主控芯片。

6.根據權利要求5所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述溫度檢測單元設有第二檢測電路；

所述第二檢測電路包括第二運算放大器，所述待檢測器件與所述第二運算放大器的第一同相輸入端連接，所述第二運算放大器的第二同相輸入端接地，所述第二運算放大器的反相輸出端與所述主控芯片連接。

7.根據權利要求1所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述主控芯片設有算法模塊；

所述算法模塊獲取每個所述待檢測器件的電壓檢測結果、電流檢測結果以及溫度檢測結果，并基于每個所述待檢測器件的所述電壓檢測結果、電流檢測結果以及溫度檢測結果，確定每個所述待檢測器件的剩余壽命。

8.根據權利要求1所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述主控芯片還包括比較模塊；

所述比較模塊獲取每個所述待檢測器件的所述剩余壽命，并將每個所述待檢測器件的所述剩余壽命與每個所述待檢測器件的所述剩余壽命的門限值進行比較，獲得比較結果，然后所述比較模塊將所述比較結果發送至所述主控芯片。

9.根據權利要求8所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述待檢測器件包括通信模塊、存儲模塊、電源模塊以及預警模塊。

10.根據權利要求9所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述預警模塊與所述主控芯片連接；

當所述比較結果為所述剩余壽命低于所述剩余壽命的門限值，則所述主控芯片控制所述預警模塊進行報警。

11.根據權利要求1所述的器件壽命檢測設備，其特征在于，所述備份切換控制模塊設有備份電路；

所述備份電路包括繼電器；

所述繼電器的線圈端與所述主控芯片連接；

所述繼電器的觸點端與所述待檢測器件連接或與所述待檢測器件的備用器件連接。