[發(fā)明專利]一種基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202111652272.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-12-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114367319B | 公開(公告)日: | 2023-10-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃俊;劉家銘;龔佳群;王璐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | B01L3/00 | 分類號(hào): | B01L3/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 低頻 振動(dòng) 探針 顆粒 操控 裝置 方法 | ||
1.一種基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,包括至少一個(gè)壓電懸臂梁振子(1)、至少一個(gè)金屬探針(4)、容器(5)、顯微鏡(6)、計(jì)算機(jī)(8)和信號(hào)發(fā)生器(10);
所述壓電懸臂梁振子(1)與信號(hào)發(fā)生器(10)連接;所述金屬探針(4)的一端與壓電懸臂梁振子(1)連接,另一端插入容器(5)內(nèi)混合有微納米顆粒的流體中,所述容器(5)的底部為透明材質(zhì)制成的,所述顯微鏡(6)位于容器(5)的下方,顯微鏡(6)與計(jì)算機(jī)(8)連接,顯微鏡(6)用于觀察和采集金屬探針(4)對(duì)顆粒的操控信息,并傳送給計(jì)算機(jī)(8)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,還包括XYZ三維可調(diào)節(jié)載物臺(tái)(9);所述壓電懸臂梁振子(1)置于XYZ三維可調(diào)節(jié)載物臺(tái)(9)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,還包括支架(7);所述容器(5)和顯微鏡(6)從上之下依次安裝在支架(7)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,所述壓電懸臂梁振子(1)包括銅基底(3)和壓電材料(2);所述壓電材料(2)位于銅基底(3)的上部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,還包括功率放大器(11);所述信號(hào)發(fā)生器(10)通過功率放大器(11)與壓電懸臂梁振子(1)連接;所述信號(hào)發(fā)生器(10)輸出電壓幅值低于100V,輸出頻率低于500Hz,功率放大器(11)的輸出電壓為100V~200V。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,所述金屬探針(4)呈彎折的桿狀,所述金屬探針(4)彎折的一端插入容器(5)的流體中,彎折的角度為10°~90°;所述金屬探針(4)的直徑為0.2~0.8mm;所述金屬探針(4)的自由端與容器(5)底部不接觸、且距離容器(5)底部最大距離為20mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,所述流體在容器(5)中的液面高度為5mm—200mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,還包括萬(wàn)向燈(12);所述萬(wàn)向燈(12)位于容器(5)的上方。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置,其特征在于,所述顯微鏡(6)為倒置高速顯微鏡,鏡頭放大倍數(shù)為500~1000,顯微鏡(6)與容器(5)底部的距離為1.5mm~2mm,最高掃描速度為30幀/秒。
10.一種根據(jù)權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述基于低頻振動(dòng)探針的顆粒操控裝置的操控方法,其特征在于,包括以下步驟:
調(diào)節(jié)所述金屬探針(4)的針頭位置,金屬探針(4)的下部浸沒于容器(5)中的含有微納米顆粒的流體中,信號(hào)發(fā)生器(10)發(fā)出信號(hào)對(duì)壓電懸臂梁振子(1)的端部進(jìn)行激勵(lì),使其振動(dòng),通過壓電懸臂梁振子(1)對(duì)金屬探針(4)根部勵(lì)振,使金屬探針(4)跟隨壓電懸臂梁振子(1)作振動(dòng),振動(dòng)的金屬探針(4)在其周圍產(chǎn)生低速渦流,利用該渦流對(duì)流體底部的微納米顆粒進(jìn)行操控,所述顯微鏡(6)位于容器(5)的下方,顯微鏡(6)與計(jì)算機(jī)(8)連接,通過顯微鏡(6)觀察和采集金屬探針(4)對(duì)顆粒的操控信息,并傳送給計(jì)算機(jī)(8)。
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