[發明專利]測試設備及方法

在審

• 申請號: 202111641719.X
• 申請日: 2021-12-29
• 公開（公告）號: CN114273268A
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 寧連才;楊凱;冼順福;陳新華;陸曉春;鄧凱迪;楊勝提
• 申請（專利權）人: 中國振華（集團）新云電子元器件有限責任公司（國營第四三二六廠）
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 梁曉婷

本發明涉及測試技術領域，具體而言，涉及一種測試設備及方法。測試設備包括低溫箱、高溫箱、通道組件、上料組件、下料組件、檢測組件以及除濕組件；通道組件包括第一通道、第二通道以及第三通道；第一通道的兩端分別與上料組件及低溫箱的進口連接，以向低溫箱輸送待檢測的電容器；第二通道與低溫箱的出口及高溫箱的進口連接，以引導低溫箱輸出的電容器向高溫箱輸送；第三通道與高溫箱的出口連接，且下料組件與第三通道連接，以引導高溫箱輸出的產品向下料組件輸送；測試設備能夠提高電容器的測試效率，并提高測試準確性，還能夠降低產品的誤判率，避免良品被報廢或不良品流到客戶端。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，具體而言，涉及一種測試設備及方法。

背景技術

現有技術中，在進行電容器的高低溫測試及溫度沖擊測試時，均采用的是人工將裝有待測電容器的夾具或容器放入高低溫箱或從高低溫箱中取出，并對電容器進行測量，這樣的方式存在以下缺點：

效率低且工作量大；頻繁將電容器放入或取出高低溫箱的操作會延長設備升溫或降溫時間，從而影響測量效率；部分參數在高溫或低溫環境下無法準確測試；人工篩選不良品時容易出錯，導致良品被報廢或不良品流到客戶端。

發明內容

本發明的目的包括，例如，提供了一種測試設備及方法，其能夠提高產品的測試效率，并提高測試準確性，還能夠降低產品的誤判率，避免良品被報廢或不良品流到客戶端。

本發明的實施例可以這樣實現：

第一方面，本發明提供一種測試設備，測試設備包括低溫箱、高溫箱、通道組件、上料組件、下料組件、檢測組件以及除濕組件；

通道組件包括第一通道、第二通道以及第三通道；第一通道的兩端分別與上料組件及低溫箱的進口連接，以向低溫箱輸送待檢測的產品；第二通道與低溫箱的出口及高溫箱的進口連接，以引導低溫箱輸出的產品向高溫箱輸送；第三通道與高溫箱的出口連接，且下料組件與第三通道連接，以引導高溫箱輸出的產品向下料組件輸送；

檢測組件包括第一檢測單元、第二檢測單元、第三檢測單元、第四檢測單元及第五檢測單元；第一檢測單元、第二檢測單元、第三檢測單元、第四檢測單元及第五檢測單元均用于對產品進行性能測試；第一檢測單元與第一通道連接；第二檢測單元設置于低溫箱內，且位于低溫箱的出口處；第三檢測單元與第二通道連接；第四檢測單元設置于高溫箱內，且位于高溫箱的出口處；第五檢測單元與第三通道連接；

除濕組件包括第一除濕單元、第二除濕單元及第三除濕單元；第一除濕單元、第二除濕單元及第三除濕單元均用于對產品進行除濕；第一除濕單元設置于低溫箱的進口處，第二除濕單元設置于低溫箱內，第三除濕單元設置于低溫箱的出口處。

在可選的實施方式中，測試設備還包括第一過渡區、第二過渡區、第三過渡區、第四過渡區、第一常溫區及第二常溫區；除濕組件還包括第四除濕單元；

由低溫箱至高溫箱的方向，第一過渡區、第一常溫區及第二過渡區依次設置，第三檢測單元位于第一常溫區內；

由高溫箱至低溫箱的方向，第三過渡區、第二常溫區及第四過渡區依次設置，第五檢測單元位于第二常溫區內。

在可選的實施方式中，第一通道與第三通道連接，且沿高溫箱至低溫箱的方向，下料組件及第一通道依次與第三通道連接。

在可選的實施方式中，第二常溫區內設置有散熱裝置，第四除濕單元位于第一常溫區內。

在可選的實施方式中，通道組件還包括第一快速通道及第二快速通道；

第一快速通道的兩端分別與低溫箱的出口及高溫箱的進口連接，第二快速通道的兩端分別與高溫箱的出口及低溫箱的進口連接。

在可選的實施方式中，第一通道、第二通道、第三通道、第一快速通道及第二快速通道內均設置有供產品滑動的軌道。