[發(fā)明專利]一種壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202111641548.0
• 申請日: 2021-12-29
• 公開（公告）號: CN114486152A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 荊志偉;王立波;唐朕;侯宗團;彭玉酌
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航空工業(yè)集團公司西安飛機設(shè)計研究所
• 主分類號: G01M9/02
• 分類號: G01M9/02;G01M9/06
• 代理公司: 北京航信高科知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11526
• 代理人: 劉傳準

1.一種壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法，其特征在于，包括：

步驟S1、采用飛行器風(fēng)洞試驗?zāi)Ｐ?，在一個試驗狀態(tài)中同時完成PSP測壓和PSI測壓；

步驟S2、對每一個PSI測壓點位置，確定對應(yīng)位置的PSP試驗結(jié)果，進而確定PSP試驗結(jié)果和PSI試驗結(jié)果之間的差量；

步驟S3、根據(jù)PSI測壓點位置信息和對應(yīng)位置的所述差量，擬合出PSP試驗結(jié)果的修正公式；

步驟S4、根據(jù)所述修正公式，對PSP試驗結(jié)果的每個像素點數(shù)據(jù)進行修正，得到修正過的PSP測壓結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法，其特征在于，步驟S1進一步包括：

步驟S11、在試驗?zāi)Ｐ蜕喜贾肞SI測壓孔；

步驟S12、對壓敏漆和PSP試驗相機靜態(tài)校準；

步驟S13、在試驗?zāi)Ｐ蜕蠂娡繅好羝?，并烘干?/p>

步驟S14、將試驗?zāi)Ｐ桶惭b至風(fēng)洞中，對模型表面同時完成PSP測壓和PSI測壓，獲得PSP試驗數(shù)據(jù)和PSI試驗數(shù)據(jù)，其中，PSP試驗數(shù)據(jù)包含所有像素點的位置坐標(x,y)及壓強分布數(shù)據(jù)Cp0_PSP(x,y)；PSI試驗數(shù)據(jù)包含N個測壓點的位置坐標(x_i,y_i)及壓強分布數(shù)據(jù)Cp0_i_PSI(x_i，y_i)，i＝1，2，…，N。

3.如權(quán)利要求2所述的壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法，其特征在于，步驟S2進一步包括：

步驟S21、對N個PSI測壓點的坐標位置(x_i,y_i)，從PSP測壓原始結(jié)果中線性插值獲得對應(yīng)坐標位置處的壓強系數(shù)Cp0_i_PSP(x_i,y_i)；

步驟S22、根據(jù)步驟S14中的PSI試驗數(shù)據(jù)中的壓強分布數(shù)據(jù)Cp0_i_PSI(x_i,y_i)和步驟S21中的壓強系數(shù)Cp0_i_PSP(x_i,y_i)，計算第i個測壓點處的結(jié)果差量ΔCp0_i(x_i，y_i)＝Cp0_i_PSP(x_i，y_i)-Cp0_i_PSI(x_i，y_i)；

步驟S23、將N個點處的壓強系數(shù)差量寫為列向量形式ΔCp0，其形式為：

4.如權(quán)利要求3所述的壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法，其特征在于，步驟S3進一步包括：

步驟S31、根據(jù)N個PSI測壓點的坐標位置(x_i,y_i)，構(gòu)建幾何系數(shù)矩陣C為：

其中，K_ij的計算公式為：

步驟S32、根據(jù)步驟S23中的壓強系數(shù)差量向量ΔCp0和步驟S31中的幾何系數(shù)矩陣C，計算PSP試驗結(jié)果的修正公式P為：

P＝C^-1·ΔCp0。

5.如權(quán)利要求1所述的壓敏漆測壓數(shù)據(jù)修正方法，其特征在于，步驟S4進一步包括：

步驟S41、根據(jù)N個PSI測壓點的坐標位置(x_i,y_i)和PSP測壓每一個像素點的坐標位置(x,y)，確定PSP測壓每一個像素點處(x,y)的修正幾何向量B(x,y)為：

B(x,y)＝[1 x y K₁ K₂ … K_N]；

其中，K_i的計算公式為

步驟S42、根據(jù)修正公式P和修正幾何向量B(x,y)，計算PSP試驗每一個像素點(x,y)處的壓強系數(shù)的修正值ΔCp(x,y)為：

ΔCp(x,y)＝B·P；

步驟S43、根據(jù)PSP試驗每一個像素點(x,y)處的原始壓強系數(shù)的Cp0_PSP(x,y)和壓強系數(shù)修正值ΔCp(x,y)，計算PSP試驗每一個像素點(x,y)處的修正壓強系數(shù)Cp_PSP(x,y)為：

Cp_PSP(x,y)＝Cp0_PSP(x,y)+ΔCp(x,y)。