[發明專利]測試板的檢測裝置和檢測系統在審
| 申請號: | 202111623346.3 | 申請日: | 2021-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN114487936A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 張俊鋒;呂斐 | 申請(專利權)人: | 芯訊通無線科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/67 | 分類號: | G01R31/67 |
| 代理公司: | 上海弼興律師事務所 31283 | 代理人: | 林嵩;羅朗 |
| 地址: | 200335 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 檢測 裝置 系統 | ||
本發明公開了一種測試板的檢測裝置和檢測系統,該檢測裝置包括第一選通開關、第二選通開關、Type?C接口以及控制器;控制器向第一選通開關的選通引腳輸出第一開關控制信號,以及向第二選通開關的選通引腳輸出第二開關控制信號;Type?C接口分別通過第一選通開關和第二選通開關與測試板連接,并根據第一開關控制信號選擇將CC引腳與第一CC測試引腳或者第二CC測試引腳連接,以及根據第二開關控制信號將差分信號引腳與第一差分信號測試引腳或者第二差分測試信號引腳連接。本發明避免了人工反復插拔USB設備,延長Type?C接口的測試壽命,降低測試板的硬件設計和制作成本,節省測試時間,實現自動化測試,提高測試可靠性。
技術領域
本發明涉及接口測試技術領域,特別涉及一種測試板的檢測裝置和檢測系統。
背景技術
Type-C(又稱USB Type-C,是一種USB接口外形標準)接口是USB(UniversalSerial Bus,通用串行總線)接口的一種連接接口,普遍認知的觀點是Type-C接口對于標準線結構而言有正插和反插的區分,而正插和反插的狀態讀取是通過Type-C接口內的CC1引腳線序進行識別的,USB Type-C接口中包含八個差分信號引腳TX1-、TX1+、RX1-、RX1+、TX2-、TX2+、RX2-、RX2+,支持正反向插入;當Type-C接口有USB設備插入時,會自動識別并切換方向;當USB設備正向插入Type-C接口時,Type-C接口內的CC1引腳檢測到信號,并使用TX1-、TX1+、RX1-、RX1+引腳進行通訊;當USB設備反向插入Type-C接口時,Type-C接口內的CC2引腳檢測到信號,并使用TX2-、TX2+、RX2-、RX2+引腳進行通訊。隨著現代科技的飛速發展,Type-C接口的應用也已成為主流,并且在手機和電腦端被廣泛應用,因此,對于具有Type-C功能的測試板而言,測試板的Type-C接口正反插入功能檢測成為一個重要環節。
對于具有Type-C接口的測試板而言,測試板上具有與Type-C接口引腳相對應的功能引腳;在測試板出廠前的可靠性測試過程中,需要對測試板上的USB_CC1、USB_CC2、USB_TX1-、USB_TX1+、USB_RX1-、USB_RX1+、USB_TX2-、USB_TX2+、USB_RX2-、USB_RX2+引腳的連通性進行檢測。而經過Type-C接口的連接輸入信號通過接口的CC1引腳檢測正插或者通過CC2引腳檢測反插,從而通過人工正向和反向插入USB設備分別實現對USB_CC1、USB_CC2、USB_TX1-、USB_TX1+、USB_RX1-、USB_RX1+、USB_TX2-、USB_TX2+、USB_RX2-、USB_RX2+引腳的檢測。
目前現有的有關Type-C接口的測試板的測試方案大多是關于Type-C正反插插座連接器、Type-C正反插雙面測試結構、正反插數據線這種接口應用型的相關技術實現方案,但是關于通過Type-C接口可靠性測試方面的硬件電路實現方案比較少。目前現有的常用可測試方案是,將測試板的引腳USB_CC1、USB_CC2、USB_D+和USB_D-直接連接到Type-C接口的輸入端,而測試板的引腳USB_TX1-、USB_TX1+、USB_RX1-、USB_RX1+、USB_TX2-、USB_TX2+、USB_RX2-、USB_RX2+分別對應接到Type-C接口的對應正插反插的TX、RX引腳線序上以實現檢測。
通常我們如果按照如上的設計方案將測試板的引腳USB_TX1-、USB_TX1+、USB_RX1-、USB_RX1+、USB_TX2-、USB_TX2+、USB_RX2-、USB_RX2+全部直連到Type-C接口上,在測試功能、性能的時候,通過人工手動通過Type-C接口將USB設備進行正向插入和反向插入分別讀取測試板的識別狀態進行判定的。此時,雖然人工進行正反插可以實現功能檢測,但是在產線測試時便會造成諸多不便和額外的測試成本,并且整個測試過程人工干預過多,測試過程不具有防呆性,測試時間較長,不利于生產線自動化測試,測試接口壽命降低,產生額外的硬件設計和制作成本,隨著測試疲勞度增加,測試可靠性大大降低。
發明內容
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